[發明專利]判斷雙晶合金的方法

有效

• 申請號: 201410796617.9
• 申請日: 2014-12-18
• 公開（公告）號: CN104502559A
• 公開（公告）日: 2015-04-08
• 發明（設計）人: 羅海輝;彭宇;彭鑫
• 申請（專利權）人: 株洲硬質合金集團有限公司
• 主分類號: G01N33/20
• 分類號: G01N33/20
• 代理公司: 北京聿宏知識產權代理有限公司11372
• 代理人: 吳大建;劉華聯

技術領域

本發明涉及材料領域，特別涉及一種判斷雙晶合金的方法。

背景技術

在碳化鎢硬質合金中，通過將兩種晶粒粒度差別較大的碳化鎢粉末按照重量比為1∶5均勻混合，并經粉末冶金就可制備出雙晶硬質合金。通常，雙晶合金中細晶粒的數量與粗晶粒的數量之比在1:9到9:1之間。這種硬質合金綜合了細晶粒硬質合金的高韌性與粗晶粒硬質合金的耐磨性，具有良好的性能。

然而，在現有技術中，并沒有判斷待測試樣是否為雙晶合金的標準。通常使用截線法來測量晶粒度，并且根據所測試樣的晶粒度的大體分布和力學性能人為定性地判斷該試樣是否為雙晶合金。這種判斷方法具有很強的主觀性，判斷結果也不準確。

發明內容

針對上述問題，本發明提出了一種判斷雙晶合金的方法。根據本發明的方法能夠客觀地判斷待測合金是否為雙晶合金。

根據本發明的判斷雙晶合金的方法，包括以下步驟：將待測合金試樣制備金相面，分別測量金相面內的多個晶粒的橫截面積S；將所測得的多個橫截面積S按照晶粒序號n的升序而從小到大排序形成橫截面積序列S_n，其中n是晶粒序號，取值為正整數；計算晶粒序號之間相差為間隔常數k的兩個橫截面積之間的差值ΔS，該間隔常數k為正整數；將所得到的多個差值ΔS按照晶粒序號n的升序排列成差值序列ΔS_n；獲得差值序列ΔS_n中的數值跳變區域，數值跳變區域的開始值對應的晶粒序號為特征晶粒序號N；當晶粒序號小于特征晶粒序號N的晶粒的數量與晶粒序號大于或等于特征晶粒序號N的晶粒的數量之比為1:9到9:1時，待測合金試樣為雙晶合金。

在本發明的方法中，完全排除了人為判斷晶粒度分布的主觀性，從而能夠客觀并準確地判斷待測合金是否為雙晶合金。

在一個實施例中，差值序列ΔS_n中的數值跳變區域中的晶粒的數量在15到20個。

在一個實施例中，在將待測合金試樣制備金相面后，首先獲得金相面上的合金組織的金相照片，然后再獲得金相照片中的多個晶粒的橫截面積S。根據這種方法，操作者可以根據自己的實際情況對金相照片進行處理而得到多個晶粒的橫截面積，這就免除了對實驗設備的依賴性，提高了測試的自由度。此外，操作者還可以對該金相照片進行多次測量，以提高所測得的橫截面積的精確性。

在一個實施例中，間隔常數k大于5且小于30。在一個優選的實施例中，間隔常數k為9、10、11和12中的一個。

在一個實施例中，晶粒序號n的最大值在1600到2000之間。測量如此多的晶粒可以保證判斷結果的準確性。

在一個實施例中，合金試樣為碳化鎢硬質合金試樣。

與現有技術相比，本發明的優點在于：本發明完全排除了人為判斷晶粒度分布的主觀性，從而能夠客觀并準確地判斷待測合金是否為雙晶合金。

附圖說明

在下文中將基于實施例并參考附圖來對本發明進行更詳細的描述。其中：

圖1是實施根據本發明的方法的步驟示意圖。

圖2是實施例1中的金相照片。

圖3是實施例1的差值序列的曲線。

圖4是實施例2中的金相照片。

圖5是實施例2的差值序列的曲線。

具體實施方式

下面將結合附圖對本發明作進一步說明。

圖1顯示了實施根據本發明的方法的步驟。如步驟11：測量多個晶粒的橫截面積。這里，首先制備金相面，然后分別測量金相面內的多個晶粒的橫截面積S。在一個實施例中，在制備金相面后，使用光學顯微鏡拍攝金相照片，之后分析金相照片從而獲得多個晶粒的橫截面積。在一個優選的實施例中，可使用圖像分析儀等裝置對金相照片進行分析。該分析方法是本領域的技術人員所公知的，這里不再贅述。此外，還應注意地是：為了獲得代表性地結果，通常需要測量的晶粒的數量在1600到2000之間。

接著，進行步驟12：將測得的多個橫截面積排序。這里，將所測得的多個橫截面積S按照晶粒序號n的升序而從小到大排序形成橫截面積序列S_n，其中n是晶粒序號，取值為正整數。例如，S₁為排序后第一個晶粒的橫截面積，S₂為排序后第二個晶粒的橫截面積，S₃為排序后第三個晶粒的橫截面積，依次類推，直到將所有的橫截面積S排列完。由于通常需要測量的晶粒的數量在1600到2000之間，因此n的取值也在1600到2000之間。