[發(fā)明專利]判斷雙晶合金的方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410796617.9
• 申請(qǐng)日: 2014-12-18
• 公開（公告）號(hào): CN104502559A
• 公開（公告）日: 2015-04-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 羅海輝;彭宇;彭鑫
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 株洲硬質(zhì)合金集團(tuán)有限公司
• 主分類號(hào): G01N33/20
• 分類號(hào): G01N33/20
• 代理公司: 北京聿宏知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11372
• 代理人: 吳大建;劉華聯(lián)

1.一種判斷雙晶合金的方法，包括以下步驟：

將待測(cè)合金試樣制備金相面，分別測(cè)量金相面內(nèi)的多個(gè)晶粒的橫截面積S；

將所測(cè)得的多個(gè)橫截面積S從小到大排序形成橫截面積序列S_n，其中n是晶粒從小到大的序號(hào)，取值為正整數(shù)；

計(jì)算晶粒序號(hào)之間相差為間隔常數(shù)k的兩個(gè)橫截面積之間的差值ΔS，所述間隔常數(shù)k為正整數(shù)；將所得到的多個(gè)差值ΔS按照所述晶粒序號(hào)n的升序排列成差值序列ΔS_n，

獲得所述差值序列ΔS_n中的數(shù)值跳變區(qū)域，所述數(shù)值跳變區(qū)域的開始值對(duì)應(yīng)的晶粒序號(hào)為特征晶粒序號(hào)N；

當(dāng)晶粒序號(hào)小于所述特征晶粒序號(hào)N的晶粒的數(shù)量與晶粒序號(hào)大于或等于所述特征晶粒序號(hào)N的晶粒的數(shù)量之比為1:9到9:1時(shí)，所述待測(cè)合金試樣為雙晶合金。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在將待測(cè)合金試樣制備金相面后，首先獲得所述金相面上的合金組織的金相照片，然后再獲得所述金相照片中的多個(gè)晶粒的橫截面積S。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述間隔常數(shù)k大于5且小于30。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述間隔常數(shù)k為9、10、11和12中的一個(gè)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1到4中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述晶粒序號(hào)n的最大值在1600到2000之間。

6.根據(jù)權(quán)利要求1到5中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述合金試樣為碳化鎢硬質(zhì)合金試樣。

7.根據(jù)權(quán)利要求1到6中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述差值序列ΔS_n中的數(shù)值跳變區(qū)域中的晶粒的數(shù)量在15到20個(gè)。