[發(fā)明專利]一種可變存儲器校驗的方法及系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410793825.3
• 申請日: 2014-12-19
• 公開（公告）號: CN104407929B
• 公開（公告）日: 2017-10-24
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 呂鵬勃;艾軍
• 申請（專利權(quán)）人: 重慶川儀自動化股份有限公司
• 主分類號: G06F11/10
• 分類號: G06F11/10
• 代理公司: 北京信遠(yuǎn)達(dá)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)11304
• 代理人: 魏曉波

技術(shù)領(lǐng)域

本申請涉及校驗領(lǐng)域，特別涉及一種可變存儲器校驗的方法及系統(tǒng)。

背景技術(shù)

隨著技術(shù)的發(fā)展，人們對可變存儲器的校驗方法要求越來越高。

現(xiàn)有的對可變存儲器校驗的方法一般采用檢測板法和走步法，采用檢測板法只能檢測存儲單元固定為1或0的故障，不能檢測出存儲單元之間的串?dāng)_，只能達(dá)到低有效的診斷覆蓋率；采用走步檢測方法會改變存儲單元的內(nèi)容，或者需另外開僻一塊存儲區(qū)域用來暫時存儲被檢測單元的數(shù)據(jù)，檢測完后再進(jìn)行恢復(fù)，操作起來比較復(fù)雜。

因此，如何在進(jìn)行可變存儲器校驗時實現(xiàn)操作簡單以及高有效的診斷覆蓋率是本領(lǐng)域技術(shù)人員目前需要解決的技術(shù)問題。

發(fā)明內(nèi)容

本申請所要解決的技術(shù)問題是提供一種可變存儲器校驗的方法及系統(tǒng)，解決了現(xiàn)有技術(shù)中采用檢測板法不能檢測出存儲單元之間的串?dāng)_，只能達(dá)到低有效的診斷覆蓋率的問題和采用走步檢測法操作起來比較復(fù)雜的問題。

其具體方案如下：

一種可變存儲器校驗的方法，該方法包括：

獲取目標(biāo)存儲區(qū)域中當(dāng)前校驗單元的首地址和對應(yīng)的數(shù)據(jù)；

存儲所述目標(biāo)存儲區(qū)域中當(dāng)前校驗單元的首地址和對應(yīng)的數(shù)據(jù)；

對所述當(dāng)前校驗單元之前的所有單元進(jìn)行CRC校驗，返回第一個CRC校驗值；

對所述當(dāng)前校驗單元之后的所有單元進(jìn)行CRC校驗，返回第二個CRC校驗值；

對所述當(dāng)前校驗單元中的當(dāng)前數(shù)據(jù)位進(jìn)行走步操作；

對所述當(dāng)前校驗單元之前的所有單元進(jìn)行CRC校驗，返回第三個CRC校驗值；

對所述當(dāng)前校驗單元之后的所有單元進(jìn)行CRC校驗，返回第四個CRC校驗值；

比較所述第一個CRC校驗值和所述第三個CRC校驗值，當(dāng)所述第一個CRC校驗值和所述第三個CRC校驗值一致時，比較所述第二個CRC校驗值和所述第四個CRC校驗值，當(dāng)所述第二個CRC校驗值和所述第四個CRC校驗值一致時，對所述當(dāng)前數(shù)據(jù)位的下一位進(jìn)行走步操作，依次執(zhí)行所述校驗操作和所述比較操作，直到所述當(dāng)前校驗單元中的所有數(shù)據(jù)位均校驗完畢；

根據(jù)所述存儲的當(dāng)前校驗單元的首地址，將所述存儲的當(dāng)前校驗單元的數(shù)據(jù)重新保存到所述當(dāng)前校驗單元中；

按照上述的方法依次校驗所述目標(biāo)存儲區(qū)域中的所有校驗單元。

上述的方法，優(yōu)選的，

在所述獲取目標(biāo)存儲區(qū)域中當(dāng)前校驗單元的首地址和對應(yīng)的數(shù)據(jù)之前，還包括：

確定待檢測的目標(biāo)存儲區(qū)域；

獲取所述目標(biāo)存儲區(qū)域的首地址和所述目標(biāo)存儲區(qū)域的數(shù)據(jù)長度。

上述的方法，優(yōu)選的，還包括：

當(dāng)比較的兩個校驗值不一致時報錯，并結(jié)束校驗。

上述的方法，優(yōu)選的，

所述對當(dāng)前校驗單元中的當(dāng)前數(shù)據(jù)位進(jìn)行走步操作為：

對所述當(dāng)前校驗單元中的當(dāng)前數(shù)據(jù)位進(jìn)行走1或走0操作。

上述的方法，優(yōu)選的，

所述對當(dāng)前校驗單元之前的所有單元進(jìn)行CRC校驗，包括：

根據(jù)所述目標(biāo)存儲區(qū)域的首地址和數(shù)據(jù)位的長度，在預(yù)設(shè)參考表中查找所述之前的所有單元對應(yīng)的CRC值；

返回所述查找到的CRC值。

一種可變存儲器校驗的系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括：

第一獲取單元，用于獲取目標(biāo)存儲區(qū)域中當(dāng)前校驗單元的首地址和對應(yīng)的數(shù)據(jù)；

存儲單元，用于存儲所述目標(biāo)存儲區(qū)域中當(dāng)前校驗單元的首地址和對應(yīng)的數(shù)據(jù)；

第一校驗單元，用于對所述當(dāng)前校驗單元之前的所有單元進(jìn)行CRC校驗，返回第一個CRC校驗值；

第二校驗單元，用于對所述當(dāng)前校驗單元之后的所有單元進(jìn)行CRC校驗，返回第二個CRC校驗值；

走步單元，用于對所述當(dāng)前校驗單元中的當(dāng)前數(shù)據(jù)位進(jìn)行走步操作；

第三校驗單元，用于對所述當(dāng)前校驗單元之前的所有單元進(jìn)行CRC校驗，返回第三個CRC校驗值；

第四校驗單元，用于對所述當(dāng)前校驗單元之后的所有單元進(jìn)行CRC校驗，返回第四個CRC校驗值；

比較單元，用于比較所述第一個CRC校驗值和所述第三個CRC校驗值，當(dāng)所述第一個CRC校驗值和所述第三個CRC校驗值一致時，比較所述第二個CRC校驗值和所述第四個CRC校驗值，當(dāng)所述第二個CRC校驗值和所述第四個CRC校驗值一致時，對所述當(dāng)前數(shù)據(jù)位的下一位進(jìn)行走步操作，依次執(zhí)行所述校驗操作和所述比較操作，直到所述當(dāng)前校驗單元中的所有數(shù)據(jù)位均校驗完畢；