[發明專利]一種可變存儲器校驗的方法及系統

有效

• 申請號: 201410793825.3
• 申請日: 2014-12-19
• 公開（公告）號: CN104407929B
• 公開（公告）日: 2017-10-24
• 發明（設計）人: 呂鵬勃;艾軍
• 申請（專利權）人: 重慶川儀自動化股份有限公司
• 主分類號: G06F11/10
• 分類號: G06F11/10
• 代理公司: 北京信遠達知識產權代理事務所(普通合伙)11304
• 代理人: 魏曉波

技術領域

本申請涉及校驗領域，特別涉及一種可變存儲器校驗的方法及系統。

背景技術

隨著技術的發展，人們對可變存儲器的校驗方法要求越來越高。

現有的對可變存儲器校驗的方法一般采用檢測板法和走步法，采用檢測板法只能檢測存儲單元固定為1或0的故障，不能檢測出存儲單元之間的串擾，只能達到低有效的診斷覆蓋率；采用走步檢測方法會改變存儲單元的內容，或者需另外開僻一塊存儲區域用來暫時存儲被檢測單元的數據，檢測完后再進行恢復，操作起來比較復雜。

因此，如何在進行可變存儲器校驗時實現操作簡單以及高有效的診斷覆蓋率是本領域技術人員目前需要解決的技術問題。

發明內容

本申請所要解決的技術問題是提供一種可變存儲器校驗的方法及系統，解決了現有技術中采用檢測板法不能檢測出存儲單元之間的串擾，只能達到低有效的診斷覆蓋率的問題和采用走步檢測法操作起來比較復雜的問題。

其具體方案如下：

一種可變存儲器校驗的方法，該方法包括：

獲取目標存儲區域中當前校驗單元的首地址和對應的數據；

存儲所述目標存儲區域中當前校驗單元的首地址和對應的數據；

對所述當前校驗單元之前的所有單元進行CRC校驗，返回第一個CRC校驗值；

對所述當前校驗單元之后的所有單元進行CRC校驗，返回第二個CRC校驗值；

對所述當前校驗單元中的當前數據位進行走步操作；

對所述當前校驗單元之前的所有單元進行CRC校驗，返回第三個CRC校驗值；

對所述當前校驗單元之后的所有單元進行CRC校驗，返回第四個CRC校驗值；

比較所述第一個CRC校驗值和所述第三個CRC校驗值，當所述第一個CRC校驗值和所述第三個CRC校驗值一致時，比較所述第二個CRC校驗值和所述第四個CRC校驗值，當所述第二個CRC校驗值和所述第四個CRC校驗值一致時，對所述當前數據位的下一位進行走步操作，依次執行所述校驗操作和所述比較操作，直到所述當前校驗單元中的所有數據位均校驗完畢；

根據所述存儲的當前校驗單元的首地址，將所述存儲的當前校驗單元的數據重新保存到所述當前校驗單元中；

按照上述的方法依次校驗所述目標存儲區域中的所有校驗單元。

上述的方法，優選的，

在所述獲取目標存儲區域中當前校驗單元的首地址和對應的數據之前，還包括：

確定待檢測的目標存儲區域；

獲取所述目標存儲區域的首地址和所述目標存儲區域的數據長度。

上述的方法，優選的，還包括：

當比較的兩個校驗值不一致時報錯，并結束校驗。

上述的方法，優選的，

所述對當前校驗單元中的當前數據位進行走步操作為：

對所述當前校驗單元中的當前數據位進行走1或走0操作。

上述的方法，優選的，

所述對當前校驗單元之前的所有單元進行CRC校驗，包括：

根據所述目標存儲區域的首地址和數據位的長度，在預設參考表中查找所述之前的所有單元對應的CRC值；

返回所述查找到的CRC值。

一種可變存儲器校驗的系統，該系統包括：

第一獲取單元，用于獲取目標存儲區域中當前校驗單元的首地址和對應的數據；

存儲單元，用于存儲所述目標存儲區域中當前校驗單元的首地址和對應的數據；

第一校驗單元，用于對所述當前校驗單元之前的所有單元進行CRC校驗，返回第一個CRC校驗值；

第二校驗單元，用于對所述當前校驗單元之后的所有單元進行CRC校驗，返回第二個CRC校驗值；

走步單元，用于對所述當前校驗單元中的當前數據位進行走步操作；

第三校驗單元，用于對所述當前校驗單元之前的所有單元進行CRC校驗，返回第三個CRC校驗值；

第四校驗單元，用于對所述當前校驗單元之后的所有單元進行CRC校驗，返回第四個CRC校驗值；

比較單元，用于比較所述第一個CRC校驗值和所述第三個CRC校驗值，當所述第一個CRC校驗值和所述第三個CRC校驗值一致時，比較所述第二個CRC校驗值和所述第四個CRC校驗值，當所述第二個CRC校驗值和所述第四個CRC校驗值一致時，對所述當前數據位的下一位進行走步操作，依次執行所述校驗操作和所述比較操作，直到所述當前校驗單元中的所有數據位均校驗完畢；