[發明專利]一種可變存儲器校驗的方法及系統

有效

• 申請號: 201410793825.3
• 申請日: 2014-12-19
• 公開（公告）號: CN104407929B
• 公開（公告）日: 2017-10-24
• 發明（設計）人: 呂鵬勃;艾軍
• 申請（專利權）人: 重慶川儀自動化股份有限公司
• 主分類號: G06F11/10
• 分類號: G06F11/10
• 代理公司: 北京信遠達知識產權代理事務所(普通合伙)11304
• 代理人: 魏曉波

1.一種可變存儲器校驗的方法，其特征在于，該方法包括：

獲取目標存儲區域中當前校驗單元的首地址和對應的數據；

存儲所述目標存儲區域中當前校驗單元的首地址和對應的數據；

對所述當前校驗單元之前的所有單元進行CRC校驗，返回第一個CRC校驗值；

對所述當前校驗單元之后的所有單元進行CRC校驗，返回第二個CRC校驗值；

對所述當前校驗單元中的當前數據位進行走步操作；

對所述當前校驗單元之前的所有單元進行CRC校驗，返回第三個CRC校驗值；

對所述當前校驗單元之后的所有單元進行CRC校驗，返回第四個CRC校驗值；

比較所述第一個CRC校驗值和所述第三個CRC校驗值，當所述第一個CRC校驗值和所述第三個CRC校驗值一致時，比較所述第二個CRC校驗值和所述第四個CRC校驗值，當所述第二個CRC校驗值和所述第四個CRC校驗值一致時，對所述當前數據位的下一位進行走步操作，依次執行所述校驗操作和所述比較操作，直到所述當前校驗單元中的所有數據位均校驗完畢；

根據所述存儲的當前校驗單元的首地址，將所述存儲的當前校驗單元的數據重新保存到所述當前校驗單元中；

按照上述的方法依次校驗所述目標存儲區域中的所有校驗單元。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述獲取目標存儲區域中當前校驗單元的首地址和對應的數據之前，還包括：

確定待檢測的目標存儲區域；

獲取所述目標存儲區域的首地址和所述目標存儲區域的數據長度。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，還包括：

當比較的兩個校驗值不一致時報錯，并結束校驗。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對當前校驗單元中的當前數據位進行走步操作為：

對所述當前校驗單元中的當前數據位進行走1或走0操作。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對當前校驗單元之前的所有單元進行CRC校驗，包括：

根據所述目標存儲區域的首地址和數據位的長度，在預設參考表中查找所述之前的所有單元對應的CRC值；

返回所述查找到的CRC值。

6.一種可變存儲器校驗的系統，其特征在于，該系統包括：

第一獲取單元，用于獲取目標存儲區域中當前校驗單元的首地址和對應的數據；

存儲單元，用于存儲所述目標存儲區域中當前校驗單元的首地址和對應的數據；

第一校驗單元，用于對所述當前校驗單元之前的所有單元進行CRC校驗，返回第一個CRC校驗值；

第二校驗單元，用于對所述當前校驗單元之后的所有單元進行CRC校驗，返回第二個CRC校驗值；

走步單元，用于對所述當前校驗單元中的當前數據位進行走步操作；

第三校驗單元，用于對所述當前校驗單元之前的所有單元進行CRC校驗，返回第三個CRC校驗值；

第四校驗單元，用于對所述當前校驗單元之后的所有單元進行CRC校驗，返回第四個CRC校驗值；

比較單元，用于比較所述第一個CRC校驗值和所述第三個CRC校驗值，當所述第一個CRC校驗值和所述第三個CRC校驗值一致時，比較所述第二個CRC校驗值和所述第四個CRC校驗值，當所述第二個CRC校驗值和所述第四個CRC校驗值一致時，對所述當前數據位的下一位進行走步操作，依次執行所述校驗操作和所述比較操作，直到所述當前校驗單元中的所有數據位均校驗完畢；

保存單元，用于根據所述存儲的當前校驗單元的首地址，將所述存儲的當前校驗單元的數據重新保存到所述當前校驗單元中；

重復單元，用于按照上述的方法依次校驗所述目標存儲區域中的所有校驗單元。

7.根據權利要求6所述的系統，其特征在于，還包括：

確定單元，用于確定待檢測的目標存儲區域；

第二獲取單元，用于獲取所述目標存儲區域的首地址和所述目標存儲區域的數據長度。

8.根據權利要求6所述的系統，其特征在于，還包括：

報錯單元，用于當比較的兩個校驗值不一致時報錯，并結束校驗。

9.根據權利要求6所述的系統，其特征在于，包括：

查找單元，用于根據所述目標存儲區域的首地址和數據位的長度，在預設參考表中查找所述之前的所有單元對應的CRC值；

返回單元，用于返回所述查找到的CRC值。