[發明專利]一種用低倍顯微鏡檢測超細粉體漿料分散性的方法

有效

• 申請號: 201410787811.0
• 申請日: 2014-12-18
• 公開（公告）號: CN104483318A
• 公開（公告）日: 2015-04-01
• 發明（設計）人: 趙登永;裘建棟;蔣超
• 申請（專利權）人: 江蘇博遷新材料有限公司
• 主分類號: G01N21/85
• 分類號: G01N21/85
• 代理公司: 南京知識律師事務所 32207
• 代理人: 汪旭東

技術領域

本發明涉及一種用低倍顯微鏡檢測超細粉體漿料分散性的方法。

背景技術

超細粉體在液相介質中分散和均勻分布的三個階段包括粉體濕潤、解團聚和穩定化，而分散效果一般指分散后粉體粒子的大小和粒子在介質中的穩定性，合適的分散效果評價方法可以為低成本制備分散性良好的超細粉體提供理論指導和工藝幫助。

分散效果的評價方法是超細粉體研究領域不可或缺的一個基礎部分，現有的檢測方法中，貯存時間測定法、粘度測定法、吸光度測定法、電位測定法、粒度分析等屬于高精度或間接評價方法，因檢測前需對樣品進行相應處理后方可進行檢測，因此檢測結果的準確性與時效性有時并不能很好的滿足人們的需要。

發明內容

本發明針對現有技術的不足，研究設計出一種用低倍顯微鏡檢測超細粉體漿料分散性的方法，其目的在于：提供一種快速、準確的用低倍顯微鏡檢測超細粉體漿料分散性的方法。

本發明的技術解決方案：

一種用低倍顯微鏡檢測超細粉體漿料分散性的方法，其特征在于：包括以下步驟：

（一）制作樣本：將超細粉體漿料滴一滴于載玻片上，再用蓋玻片進行擠壓，使其最大程度鋪開，制得樣本；

?（二）調整顯微鏡：將步驟（一）中制得的樣本置于100倍以下的低倍顯微鏡上，將顯微鏡倍數調至40-50倍，調整顯微鏡燈光至合適的亮度；

（三）拍照記錄：調整顯微鏡至樣品清晰，調節粗、細調節器來觀察樣品中是否有凸起、團聚現象并拍照記錄。

所述步驟（一）中的載玻片和蓋玻片均為玻璃片。

本發明的有益效果：本發明通過在100倍以下的低倍顯微鏡下掃描觀察并拍照記錄來檢測超細粉體漿料的分散性，不僅操作簡單、檢測結果直觀可見、易于判斷，而且無污染、可操作性強，大大降低了檢測成本。

附圖說明

圖1為實施例1中樣品1在顯微鏡下的拍攝圖像。

圖2為實施例2中樣品2在顯微鏡下的拍攝圖像。

圖3為實施例1中樣品1在電子顯微鏡下的照片。

圖4為實施例2中樣品2在電子顯微鏡下的照片。

具體實施方式

?以下結合實施例和附圖對本發明做進一步的說明。（能否再提供一個實施例？）

實施例1

（一）制作樣本：將超細粉體漿料滴一滴于載玻片上，再用蓋玻片進行擠壓，使其最大程度鋪開，制得樣本1；

?（二）調整顯微鏡：將步驟（一）中制得的樣本1置于XTL-340型低倍顯微鏡，?45倍，調整顯微鏡燈光至合適的亮度；

（三）拍照記錄：調整顯微鏡至樣品清晰，調節粗、細調節器來觀察樣品中是否有凸起、團聚現象并拍照記錄。

實施例2

（一）制作樣本：將超細粉體漿料滴一滴于載玻片上，再用蓋玻片進行擠壓，使其最大程度鋪開，制得樣本2；

?（二）調整顯微鏡：將步驟（一）中制得的樣本2置于XTL-340型低倍顯微鏡，?45倍，調整顯微鏡燈光至合適的亮度；

（三）拍照記錄：調整顯微鏡至樣品清晰，調節粗、細調節器來觀察樣品中是否有凸起、團聚現象并拍照記錄。

從圖1和圖2可以看出，樣品1畫面不平整不光滑，樣品中團聚、粉塊較多，分散性較差；樣品2畫面比較平整光滑，樣品中團聚、粉塊要明顯少于樣品1，分散性比樣品1好。

從圖3和圖4可以看出，電鏡照片中可以明顯的看出樣品1中粉塊、粉團較多，團聚較為嚴重，分散性差；樣品2的分散性明顯優于樣品1的分散性。

經過目鏡觀察樣品1和樣品2的分散情況與經過刮漿檢測結果一致，說明本發明中的方法切實可行，本方法簡單，成本低，可操作性強，可以快速、準確地了解超細粉體漿料的分散性情況，可通用于過程檢驗和成品檢驗，無污染，盡可能的減少了引入影響因素的可能。