[發(fā)明專利]一種用低倍顯微鏡檢測(cè)超細(xì)粉體漿料分散性的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410787811.0 | 申請(qǐng)日: | 2014-12-18 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104483318A | 公開(公告)日: | 2015-04-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙登永;裘建棟;蔣超 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 江蘇博遷新材料有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/85 | 分類號(hào): | G01N21/85 |
| 代理公司: | 南京知識(shí)律師事務(wù)所 32207 | 代理人: | 汪旭東 |
| 地址: | 223800 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用低倍 顯微鏡 檢測(cè) 超細(xì)粉體 漿料 分散性 方法 | ||
1.一種用低倍顯微鏡檢測(cè)超細(xì)粉體漿料分散性的方法,其特征在于:包括以下步驟:
(一)制作樣本:將超細(xì)粉體漿料滴一滴于載玻片上,再用蓋玻片進(jìn)行擠壓,使其最大程度鋪開,制得樣本;
?(二)調(diào)整顯微鏡:將步驟(一)中制得的樣本置于100倍以下的低倍顯微鏡上,將顯微鏡倍數(shù)調(diào)至40-50倍,調(diào)整顯微鏡燈光至合適的亮度;
(三)拍照記錄:調(diào)整顯微鏡至樣品清晰,調(diào)節(jié)粗、細(xì)調(diào)節(jié)器來觀察樣品中是否有凸起、團(tuán)聚現(xiàn)象并拍照記錄。
2.如權(quán)利要求1所述一種用低倍顯微鏡檢測(cè)超細(xì)粉體漿料分散性的方法,其特征在于:所述步驟(一)中的載玻片和蓋玻片均為玻璃片。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
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G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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