[發(fā)明專利]汽車控制器測試的環(huán)境模型生成的方法及裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410770686.2
• 申請日: 2014-12-12
• 公開（公告）號: CN104536856B
• 公開（公告）日: 2018-03-13
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 黃潁華;代康偉;魏躍遠;余軍;劉三兵;張翰熊
• 申請（專利權(quán)）人: 北京新能源汽車股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F11/36;G05B23/02
• 代理公司: 北京清亦華知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)11201
• 代理人: 張大威

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及仿真技術(shù)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種汽車控制器測試的環(huán)境模型生成的方法及裝置。

背景技術(shù)

隨著汽車電子電器技術(shù)的發(fā)展和電控單元的廣泛應(yīng)用，汽車變得更加舒適、安全、節(jié)能和環(huán)保。但是一方面帶來的汽車電子電器系統(tǒng)的日趨復雜，因此設(shè)計和測試變得至關(guān)重要，所需的設(shè)計周期更長、成本更高。目前，更多的創(chuàng)新依賴于電子技術(shù)，而很多功能的實現(xiàn)也日益依賴于控制系統(tǒng)。復雜程度的提高使得全面而高效的測試比以往變得更加重要。

測試可以盡早發(fā)現(xiàn)并改正錯誤、降低成本，因此，無論在電子器系統(tǒng)開發(fā)的哪個環(huán)節(jié)，它都是不可或缺的。此外，只有將部件集成起來并運行于真實環(huán)境和實施條件下時，一些系統(tǒng)缺陷才會暴露出來。為了確保設(shè)計的可靠性，無疑需要增加測試的難度和周期，但是市場的需求是希望設(shè)計周期更短，解決這一問題的方法是將道路實驗和實車實驗轉(zhuǎn)換成實驗室試驗。

目前汽車控制器軟件測試方法中主要包含硬件在環(huán)(Hardware-in-the-Loop，簡稱為HIL)、模型在環(huán)(Model-in-the-Loop，簡稱為MIL)測試、軟件在環(huán)(Software-in-the-Loop，簡稱為SIL)。HIL硬件在環(huán)仿真測試系統(tǒng)，是以實時處理器運行仿真模型來模擬受控對象的運行狀態(tài)，通過I/O接口與被測的電控單元連接，對被測電控單元進行全方面的、系統(tǒng)的測試。從安全性、可行性和合理的成本上考慮，HIL硬件在環(huán)仿真測試已經(jīng)成為電控單元開發(fā)流程中非常重要的一環(huán)，減少了實車路試的次數(shù)，縮短開發(fā)時間和降低成本的同時提高電控單元的軟件質(zhì)量，降低汽車廠的風險。HIL硬件在環(huán)仿真測試對于三大核心電控系統(tǒng)：整車控制系統(tǒng)、BMS電池管理系統(tǒng)、電機控制器是非常重要的。

相關(guān)技術(shù)中，HIL和MIL測試均需要測試環(huán)境模型。但是，目前測試環(huán)境模型搭建周期較長且較為復雜，維護不便且測試人員不同環(huán)境模型構(gòu)架也會變得不同，不同測試人員之間無法交互使用對方搭建的環(huán)境模型，并且HIL、MIL、SIL的環(huán)境模型接口不同、運行環(huán)境不同，這就導致在HIL和MIL測試、SIL測試的環(huán)境模型無法通用，另外人機交互接口混亂無法統(tǒng)一管理也是采用手動搭建環(huán)境模型存在的問題。

發(fā)明內(nèi)容

針對相關(guān)技術(shù)中HIL和MIL測試、SIL測試的環(huán)境模型無法通用的問題，本發(fā)明提供了一種汽車控制器測試的環(huán)境模型生成的方法及裝置，以解決上述問題。

根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供了一種汽車控制器測試的環(huán)境模型生成的方法，包括：獲取測試類型和測試設(shè)備類型，其中，所述測試類型包括：硬件在環(huán)HIL測試和模型在環(huán)MIL測試、SIL測試；獲取測試意圖，其中，所述測試意圖包括：被測控制器的輸入和輸出信號、所述被測控制器所控制的被控對象的物理結(jié)構(gòu)及連接關(guān)系；以及，根據(jù)所述測試意圖，生成與所述測試類型和所述測試設(shè)備對應(yīng)的環(huán)境模塊接口以及環(huán)境模塊接口之間的連接關(guān)系。

可選地，根據(jù)所述測試意圖，生成與所述測試類型和所述測試設(shè)備對應(yīng)的接口以及接口之間的連接關(guān)系，包括：根據(jù)所述被測控制器的輸入信號，生成與所述測試類型和所述測試設(shè)備類型對應(yīng)的第一接口，其中，所述第一接口為接收所述被測控制器輸入信號的接口；根據(jù)所述被控對象的物理結(jié)構(gòu)及連接關(guān)系，生成與所述測試類型和所述測試設(shè)備類型對應(yīng)的第二接口，其中，所述第二接口為環(huán)境模型的接口，所述環(huán)境模型用于模擬各個所述被控對象；生成所述第一接口和所述第二接口之間的連接關(guān)系。

可選地，所述方法還包括：從人機交互接口獲取環(huán)境模型的配置參數(shù)；通過所述第二接口根據(jù)所述配置參數(shù)對各個環(huán)境模型進行配置。

可選地，所述方法還包括：通過人機交互接口獲取測試方式，其中，所述測試方式包括：閉環(huán)測試、開環(huán)測試和故障注入測試。

根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供了一種汽車控制器測試的環(huán)境模型生成的裝置，包括：第一獲取模塊，用于獲取測試類型和測試設(shè)備類型，其中，所述測試類型包括：硬件在環(huán)HIL測試和模型在環(huán)MIL測試、SIL測試；第二獲取模塊，用于獲取測試意圖，其中，所述測試意圖包括：被測控制器的輸入和輸出信號、所述被測控制器所控制的被控對象的物理結(jié)構(gòu)及連接關(guān)系；生成模塊，用于根據(jù)所述測試意圖，生成與所述測試類型和所述測試設(shè)備對應(yīng)的環(huán)境模塊接口以及環(huán)境模塊接口之間的連接關(guān)系。