[發明專利]OGS觸摸屏用ITO薄膜生產方法在審
| 申請號: | 201410769648.5 | 申請日: | 2014-12-15 |
| 公開(公告)號: | CN104928623A | 公開(公告)日: | 2015-09-23 |
| 發明(設計)人: | 楊忙;沈效龍;張國強;黃永振 | 申請(專利權)人: | 山東華芯富創電子科技有限公司 |
| 主分類號: | C23C14/08 | 分類號: | C23C14/08;C23C14/34;C23C14/58 |
| 代理公司: | 濟南泉城專利商標事務所 37218 | 代理人: | 紀艷艷 |
| 地址: | 250102 山東省濟南市*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | ogs 觸摸屏 ito 薄膜 生產 方法 | ||
技術領域
???本發明涉及ITO薄膜生產方法,具體涉及一種OGS觸摸屏用ITO薄膜生產方法。
背景技術
以高分子材料表面為基底濺鍍的ITO薄膜,在ITO薄膜制備或熱處理過程中的加溫容易對高分子材料襯底造成破壞,進而破壞薄膜的性能。
退火對薄膜的微結構和化學組分具有重要的影響。退火處理可以使ITO薄膜更加穩定、降低薄膜的電阻率,提高薄膜透過率、減小薄膜內應力及增大薄膜附著力等。
ITO膜的光學性能和電學性能強烈的依賴于它的微結構,而薄膜的微結構又和制備工藝密切相關。為了避免上述問題以及優化制備工藝,本發明提出在低溫條件下制備ITO薄膜,并采用低成本的大氣環境退火處理,以達到使ITO薄膜更加穩定,降低電阻率的工藝技術。
發明內容
本發明目的是提供一種OGS觸摸屏用ITO薄膜生產方法,避免制程過程中膜結構的破壞,及不同溫度處理對導電層電性的影響,以使高分子材料表面濺鍍的導電層電性穩定。
為了實現上述目的,本發明采用技術方案如下:
一種OGS觸摸屏用ITO薄膜生產方法,包括以下步驟:
(1)低溫濺鍍:在高分子材料的基板表面上低溫濺鍍ITO薄膜層,濺鍍溫度為室溫~150℃;
(2)退火:將上述濺鍍好的基板在退火設備中進行退火,退火溫度為180℃~250℃,退火處理時間為15-50分鐘。
進一步地,退火過程包括:大氣環境下將基板以5-20℃/min從室溫升溫到180℃~250℃的高溫,在高溫下保溫15-50分鐘,以自然冷卻降溫到室溫。?
更進一步地,退火設備為IR爐或烤箱。
本發明的有益效果:
采用本發明方法,通過退火處理使ITO薄膜層進行結晶重構,使高分子材料表面濺鍍的ITO薄膜層電性穩定,降低電阻率。
具體實施方式
?下面對本發明做進一步清楚、完整地描述,所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例,而不是全部的實施例。
實施例1
一種OGS觸摸屏用ITO薄膜生產方法,包括以下步驟:
(1)低溫濺鍍:在高分子材料的基板表面上低溫濺鍍ITO薄膜層,濺鍍溫度為室溫~150℃;
(2)退火:將上述濺鍍好的基板在退火設備中進行退火,退火溫度為180℃~250℃,退火處理時間為15-50分鐘。
本實施例中,退火設備為IR爐或烤箱,退火過程包括:大氣環境下將基板以5-20℃/min從室溫升溫到180℃~200℃的高溫,在高溫下保溫35-50分鐘,以自然冷卻降溫到室溫。?
經試驗測得該OGS觸摸屏用ITO薄膜的電阻率為2.15*10-4Ω·cm,載流子濃度?(1021cm-3)和電子遷移率(15~45cm2V-1s-1),表明該方法制得ITO薄膜導電性能良好。
實施例2
一種OGS觸摸屏用ITO薄膜生產方法,包括以下步驟:
(1)低溫濺鍍:在高分子材料的基板表面上低溫濺鍍ITO薄膜層,濺鍍溫度為室溫~150℃;
(2)退火:將上述濺鍍好的基板在退火設備中進行退火,退火溫度為180℃~250℃,退火處理時間為15-50分鐘。
本實施例中,退火設備為IR爐或烤箱,退火過程包括:大氣環境下將基板以5-20℃/min從室溫升溫到200℃~230℃的高溫,在高溫下保溫25-40分鐘,以自然冷卻降溫到室溫。?
實施例3
一種OGS觸摸屏用ITO薄膜生產方法,包括以下步驟:
(1)低溫濺鍍:在高分子材料的基板表面上低溫濺鍍ITO薄膜層,濺鍍溫度為室溫~150℃;
(2)退火:將上述濺鍍好的基板在退火設備中進行退火,退火溫度為180℃~250℃,退火處理時間為15-50分鐘。
本實施例中,退火設備為IR爐或烤箱,退火過程包括:大氣環境下將基板以5-20℃/min從室溫升溫到230℃~250℃的高溫,在高溫下保溫15-30分鐘,以自然冷卻降溫到室溫。?
以上僅描述了本發明的基本原理和優選實施方式,本領域人員可以根據上述描述作出許多變化和改進,這些變化和改進應該屬于本發明的保護范圍。
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