[發(fā)明專利]一種基于圖像測量的圓柱類銷零件自動分檢設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410760960.8
• 申請日: 2014-12-13
• 公開（公告）號: CN104646306A
• 公開（公告）日: 2015-05-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 汪用瑜;向明;曹利鋼;吳南星;陳朝勇;吳平
• 申請（專利權(quán)）人: 景德鎮(zhèn)陶瓷學(xué)院
• 主分類號: B07C5/08
• 分類號: B07C5/08
• 代理公司: 無
• 代理人: 無

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于分檢設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種基于圖像測量的圓柱類銷零件自動分檢設(shè)備。

背景技術(shù)

目前銷零件的分檢工作主要由人工完成，由于需要嚴(yán)格控制銷的尺寸和形貌，所以采用人工分檢既耗時又容易出現(xiàn)誤檢，因此市場上急需一種銷零件自動分檢設(shè)備。大部分自動檢測設(shè)備供料環(huán)節(jié)采用振動盤，而采用振動盤進(jìn)行分檢，具有工作噪聲大，占地體積大的缺點(diǎn)，對于環(huán)境噪聲要求苛刻的企業(yè)并不適用，需要研發(fā)出噪音小，結(jié)構(gòu)緊湊的自動分檢設(shè)備。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種噪聲低、占地小、效率高的基于圖像測量的圓柱類銷零件自動分檢設(shè)備。

本發(fā)明的技術(shù)方案是：一種基于圖像測量的圓柱類銷零件自動分檢設(shè)備，包括機(jī)架、一級下料裝置、二級下料裝置、排序裝置、分料裝置、檢測裝置，其特征在于：所述一級下料裝置將待分檢銷零件傳送至排序裝置中，然后經(jīng)二級下料裝置將銷零件傳送至分料裝置和檢測裝置，從而實(shí)現(xiàn)銷零件的自動分檢工作。

所述一級下料裝置由傳送帶、電機(jī)一、鏈輪、大漏斗組成，所述傳送帶固定在機(jī)架頂部并通過鏈輪與電機(jī)一相連，所述傳送帶下部設(shè)置有大漏斗。

所述排序裝置由電機(jī)二、聯(lián)軸器一、軸承座、內(nèi)齒輪組成，所述內(nèi)齒輪設(shè)置在大漏斗底端，所述內(nèi)齒輪通過聯(lián)軸器一、軸承座與電機(jī)二連接，所述電機(jī)二固定在機(jī)架的橫梁上。

所述二級下料裝置由小漏斗、料倉、料倉支架組成，所述小漏斗設(shè)置在內(nèi)齒輪內(nèi)部，所述小漏斗底端連接有料倉，所述料倉通過料倉支架固定在機(jī)架上。

所述分料裝置由彈簧、分料頭、電磁鐵、支持架組成，所述支持架將分料頭固定在料倉下部，所述分料頭一端與電磁鐵相連，一端與彈簧相連。

所述檢測裝置由電機(jī)三、聯(lián)軸器二、軸承二、檢測盤、相機(jī)支架、相機(jī)、電磁閥、噴嘴、光源組成，所述檢測盤設(shè)置在料倉底端，固定在機(jī)架上，所述檢測盤通過下部的聯(lián)軸器二、軸承二與電機(jī)三相連，所述檢測盤頂部的機(jī)架上設(shè)置有噴嘴，所述噴嘴與電磁閥相連接，所述電磁閥設(shè)置在機(jī)架的下側(cè)橫梁上，所述檢測盤上部通過相機(jī)支架設(shè)置有相機(jī)，所述檢測盤下部設(shè)置有光源。

上述料倉為內(nèi)徑為5?mm的不銹鋼管。

所述內(nèi)齒輪外表面有8個凹槽。

所述小漏斗上設(shè)置有計(jì)數(shù)傳感器。

所述檢測盤上設(shè)置有36個凹槽。

本發(fā)明所述銷零件自動分檢設(shè)備由下料裝置、排序裝置、分料裝置、檢測裝置構(gòu)成，采用內(nèi)齒輪排序結(jié)合兩級下料裝置，結(jié)構(gòu)布局合理，總體外形美觀，并且噪聲低，占地小，效率高、工作節(jié)拍＜3s，測量誤差達(dá)到±0.02?mm，噪聲＜40分貝，非常適合圓柱類銷零件的自動分檢要求，可大幅度地降低分檢成本和人員的勞動強(qiáng)度，具有廣闊的應(yīng)用前景。

附圖說明

圖1?是本發(fā)明分檢設(shè)備的結(jié)構(gòu)圖一；

圖2是本發(fā)明分檢設(shè)備的結(jié)構(gòu)圖二；

圖3是圖2中分料裝置的結(jié)構(gòu)放大圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖1、2、3和具體實(shí)施方式對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說明：