[發明專利]多軸型三維測量設備

在審

• 申請號: 201410751760.6
• 申請日: 2014-12-10
• 公開（公告）號: CN104697466A
• 公開（公告）日: 2015-06-10
• 發明（設計）人: 阿部信策
• 申請（專利權）人: 株式會社三豐
• 主分類號: G01B11/25
• 分類號: G01B11/25
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

1.一種多軸型三維測量設備，包括：

多軸臂機構；

探測器，其形成在所述多軸臂機構的末端，并且用于測量工件；以及

投影儀，其形成在所述多軸臂機構的末端，并且用于根據所述工件和所述探測器之間的距離來對所投影的投影圖像的范圍進行縮放，

其中，所述投影儀被配置為與所述工件和所述探測器之間的距離的差異無關地投影所述工件的全尺寸投影圖形以使所述全尺寸投影圖形與所述工件一致，并且投影用于識別所述探測器的測量預定位置的顯示信息。

2.根據權利要求1所述的多軸型三維測量設備，其中，所述投影圖像的投影方向被設置成與所述探測器的末端方向相同的方向。

3.根據權利要求1或2所述的多軸型三維測量設備，其中，所述顯示信息被配置為在所述工件的測量前后發生變化。

4.根據權利要求3所述的多軸型三維測量設備，其中，所述顯示信息進一步包括與所述探測器的已測量位置有關的信息。

5.根據權利要求4所述的多軸型三維測量設備，其中，所述顯示信息進一步包括所述探測器的所述測量預定位置的設計值和已測量位置的測量值。

6.根據權利要求5所述的多軸型三維測量設備，其中，所述顯示信息進一步包括與對形狀同所述工件的形狀相同的工件進行測量的情況下的測量過程、測量指示和測量技術有關的測量簡檔信息。

7.根據權利要求1所述的多軸型三維測量設備，其中，所述顯示信息進一步包括與所述探測器的已測量位置有關的信息。

8.根據權利要求7所述的多軸型三維測量設備，其中，所述顯示信息進一步包括所述探測器的所述測量預定位置的設計值和已測量位置的測量值。

9.根據權利要求8所述的多軸型三維測量設備，其中，所述顯示信息進一步包括與對形狀同所述工件的形狀相同的工件進行測量的情況下的測量過程、測量指示和測量技術有關的測量簡檔信息。

10.根據權利要求1所述的多軸型三維測量設備，其中，所述顯示信息進一步包括所述探測器的所述測量預定位置的設計值和已測量位置的測量值。

11.根據權利要求10所述的多軸型三維測量設備，其中，所述顯示信息進一步包括與對形狀同所述工件的形狀相同的工件進行測量的情況下的測量過程、測量指示和測量技術有關的測量簡檔信息。

12.根據權利要求1所述的多軸型三維測量設備，其中，所述顯示信息進一步包括與對形狀同所述工件的形狀相同的工件進行測量的情況下的測量過程、測量指示和測量技術有關的測量簡檔信息。