[發明專利]多軸型三維測量設備

在審

• 申請號: 201410751760.6
• 申請日: 2014-12-10
• 公開（公告）號: CN104697466A
• 公開（公告）日: 2015-06-10
• 發明（設計）人: 阿部信策
• 申請（專利權）人: 株式會社三豐
• 主分類號: G01B11/25
• 分類號: G01B11/25
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

技術領域

本發明涉及一種多軸型三維測量設備，并且尤其涉及被構造成測量者能夠在無需將視線從工件移開的情況下確認為了測量所要確認的信息的能夠進行高效和高精度測量的多軸型三維測量設備。

背景技術

專利文獻1公開了一種多軸型三維測量設備。該多軸型三維測量設備具有用于測量工件的探測器以及在末端包括該探測器的多軸臂機構。在該多軸型三維測量設備中，將進行測量的工件的位置(測量預定位置)顯示在所連接的筆記本型個人計算機或臺式個人計算機(計算機)的顯示模塊(顯示器)上，并且探測器在參考設計信息等的情況下以接觸或非接觸方式來測量該工件的測量預定位置。換句話說，該多軸型三維測量設備被構造成測量者在個人計算機的顯示模塊上確認要測量的工件的測量預定位置等，并且在將該位置與實際工件進行對照的情況下進行測量。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開2007-47014

換句話說，在如專利文獻1所示的多軸型三維測量設備中，在每次測量時，測量者需要重復用于交替地觀看工件和個人計算機的顯示模塊的操作。也就是說，由于每次測量時測量者將視線從工件移開，因而難以維持高測量效率并且存在例如引發測量錯誤的擔憂。特別地，對于經驗少的測量者而言，無法進行高效的測量，并且測量效率或者測量精度可能顯著下降。

另外，考慮了用于將顯示模塊小型化、將顯示模塊配置在測量者附近并且防止測量者的視線從工件移開的技術。然而，即使在這種情況下，仍然重復用于交替地觀看顯示模塊和工件的操作，顯示模塊的顯示大小還降低可視性，并且可能地，該技術無法實現上述問題的解決方案。

發明內容

本發明的典型實施方式提供了一種多軸型三維測量設備，其中可以通過將該多軸型三維測量設備構造成測量者能夠在無需將視線從工件移開的情況下確認為了測量所要確認的信息，來進行高效和高精度的測量。

根據典型實施方式的一種多軸型三維測量設備，包括：

多軸臂機構；

探測器，其形成在所述多軸臂機構的末端，并且用于測量工件；以及

投影儀，其形成在所述多軸臂機構的末端，并且用于根據所述工件和所述探測器之間的距離來對所投影的投影圖像的范圍進行縮放，

其中，所述投影儀被配置為與所述工件和所述探測器之間的距離的差異無關地投影所述工件的全尺寸投影圖形以使所述全尺寸投影圖形與所述工件一致，并且投影用于識別所述探測器的測量預定位置的顯示信息。

所述投影圖像的投影方向可以被設置成與所述探測器的末端方向相同的方向。

所述顯示信息可以被配置為在所述工件的測量前后發生變化。

所述顯示信息可以進一步包括與所述探測器的已測量位置有關的信息。

所述顯示信息可以進一步包括所述探測器的所述測量預定位置的設計值和已測量位置的測量值。

所述顯示信息可以進一步包括與對形狀同所述工件的形狀相同的工件進行測量的情況下的測量過程、測量指示和測量技術有關的測量簡檔信息。

根據本發明，可以通過構造成測量者能夠在無需將視線從工件移開的情況下確認為了測量所要確認的信息，來進行高效和高精度的測量。

附圖說明

圖1是示出根據本發明第一實施方式的多軸型三維測量設備的一個示例的示意圖。

圖2A是示出圖1的多軸型三維測量機的一個示例的示意圖。

圖2B是圖1的多軸型三維測量機的探測器和投影儀相對于臂頭的配置圖。

圖3是示出工件、多軸型三維測量機和投影圖像的范圍之間的關系的示意圖。

圖4是示出另一工件的一個示例的示意圖。

圖5是示出與圖4的工件有關的設計信息的一個示例的示意圖。

圖6是示出將圖5的設計信息投影到圖4的工件上的狀態的一個示例的示意圖。

圖7是示出圖6的局部的一個示例的示意圖。

圖8是示出用于識別圖7的測量預定位置的顯示信息的一個示例的示意圖。

圖9是示出用于從圖7的狀態識別已測量位置的顯示信息的一個示例的示意圖。

圖10是示出用于識別另一工件的測量預定位置和已測量位置的顯示信息的一個示例的示意圖。

圖11是示出投影圖像的顯示過程的一個示例的流程圖。