[發明專利]一種基于重采樣和稀疏分解的磁共振圖像降噪方法有效
| 申請號: | 201410749066.0 | 申請日: | 2014-12-09 |
| 公開(公告)號: | CN104376541B | 公開(公告)日: | 2017-09-19 |
| 發明(設計)人: | 周欣;肖灑;呂植成;孫獻平;葉朝輝;劉買利 | 申請(專利權)人: | 中國科學院武漢物理與數學研究所 |
| 主分類號: | G06T5/00 | 分類號: | G06T5/00 |
| 代理公司: | 武漢宇晨專利事務所42001 | 代理人: | 李鵬,王敏鋒 |
| 地址: | 430071 湖*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 采樣 稀疏 分解 磁共振 圖像 方法 | ||
技術領域
本發明涉及磁共振成像(Magnetic Resonance Imaging,MRI)技術領域,具體涉及一種基于重采樣和稀疏分解的磁共振圖像降噪方法。
背景技術
磁共振成像由核磁共振(Nuclear Magnetic Resonance,NMR,)現象衍生出的一種成像技術,是繼CT后醫學影像學的又一重大進步。1973年,由Lauterbur和Mansfield第一次展示了MRI對宏觀物質成像的可行性實驗。自1980年代應用以來,它以極快的速度得到發展。MRI由于其無創性、無放射性、成像參數豐富等優點,被廣泛地應用于全身各類疾病的檢查,成為重要的影像學臨床診斷技術。
但是,和其他影像技術相比,磁共振成像技術成像速度較慢。這種情況在成像層厚很薄時尤為嚴重,單次掃描難以獲得較高的圖像信噪比,需要通過多次掃描累加然后平均的方式來提高圖像信噪比。因為一般情況下,噪聲會隨著時間的變化而起伏變化,而信號則通常不會。所以可以利用噪聲和信號隨時間不同的變化特性來進行降噪。另外一方面,磁共振圖像可以通過稀疏變換進行稀疏表達。在稀疏變換中,信號與噪聲通常表現出不同的變換結果。信號在經過變換后通常變得極為稀疏,而噪聲在圖像中和經過變換后都表現為非稀疏分布。所以信號與噪聲的這種空間分布差異也為降噪提供了可能。
本發明公開的降噪方法,充分利用了磁共振信號和噪聲在時間和空間中的差異性。通過重復欠采樣結合統計學方法,對磁共振圖像中的噪聲進行了壓制。同時通過后續級聯稀疏分解迭代降噪的方式,對圖像進行了二次降噪。經過兩次降噪,本方法可以較好的去除磁共振圖像中的噪聲,提高圖像質量。
發明內容
本發明的目的在于針對現有技術存在的上述磁共振圖像降噪問題,提出一種基于重采樣和稀疏分解的磁共振圖像降噪方法。
為了實現上述目的,本發明采用了以下技術措施:
步驟1、對單一成像層面通過單次掃描獲得的單個K空間數據進行多次欠采樣或多次掃描獲得的多個K空間數據分別進行多次欠采樣,獲得K空間數據的對應的互不相同的數據子集。將數據子集中未采樣數據點對應的數據全部填充為零。將填充后的數據子集通過傅里葉變換得到一組成像層面圖像。總的欠采樣次數至少在100次以上,總的欠采樣次數較少無法充分體現信號與噪聲隨時間波動性的差異。但是總的欠采樣次數過多會增加計算量和所需的存儲空間,需要根據實際情況進行平衡,采樣次數在100~1000次之間。欠采樣率在50%~80%之間。當欠采樣率低于50%,信號無法很好的在每次欠采樣數據中體現,而欠采樣率高于80%時,不同的欠采樣數據之間差異太小,失去了多次欠采樣的意義;
步驟2、對步驟1中獲得的一組成像層面圖像,統計每個相同位置像素點在這組圖像中像素值的均方差。均方差計算公式為:其中D(xi)為第i個像素點像素值的均方差,N為總欠采樣次數,xi為欠采樣圖像的第i個像素點的像素值,為第i個像素點全部欠采樣圖像對應點像素值的平均值。因為均方差計算過程中,用平均值取代了真值所以計算公式與普通均方差計算公式不同;
步驟3、根據步驟2中獲得的各像素點像素值的均方差,并結合衰減函數,確定各像素點像素值的修正系數。衰減函數為:其中wi為第i個像素點的加權函數,α為加權函數的下限值,Di為步驟2中統計得到的第i個點在欠采樣圖像組中的均方差值,β、ε為衰減曲線形狀控制常數。
步驟4、將成像層面的單次掃描得到的K空間數據或多次掃描得到的多個K空間數據的平均值,通過傅里葉變換得到成像層面圖像,并通過步驟3中得到的修正系數對圖像進行第一次降噪;
步驟5、將二次降噪后的成像層面圖像的K空間限定在步驟4中得到的一次降噪圖像的K空間的一定范圍內,通過迭代修正的方式,以二次降噪后的成像層面圖像在稀疏變換域內的1范數最小為優化目標,進行第二次降噪。可以使用的稀疏變換包括離Karhunen-Loeve變換、Haar變換、有限差分變換等。不同部位的磁共振圖像在不同的稀疏變換域中的稀疏程度不同,應根據具體成像部位進行選擇。
如上所述的步驟5中將二次降噪后的成像層面圖像的K空間限定在一次降噪后的成像層面圖像的K空間的一定范圍內的標準為:二次降噪后的成像層面圖像的K空間數據和一次降噪后的成像層面圖像的K空間數據之差的2范數小于預定值。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院武漢物理與數學研究所,未經中國科學院武漢物理與數學研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410749066.0/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





