[發明專利]一種模塊化AOI定位方法、系統及燒錄IC設備

在審

• 申請號: 201410740537.1
• 申請日: 2014-12-08
• 公開（公告）號: CN104504386A
• 公開（公告）日: 2015-04-08
• 發明（設計）人: 周秋香
• 申請（專利權）人: 深圳市浦洛電子科技有限公司
• 主分類號: G06K9/32
• 分類號: G06K9/32;G06T7/00;G06F9/445
• 代理公司: 深圳市君勝知識產權代理事務所44268
• 代理人: 王永文;李想

技術領域

本發明涉及IC燒錄技術領域，尤其涉及的是一種模塊化AOI定位方法、系統及燒錄IC設備。

背景技術

國內的IC燒錄行業中，雖然自動化燒錄產業已開發多年，但AOI定位檢測系統還沒跟上國際腳步、特別是在IC檢測領域，相關開發技術人員的不足、市場對AOI檢測不了解、定位精度低等諸多問題一直導致此系統無法持續開發生產。傳統人工檢測方式，容易造成企業質量難以把關，同時也大大降低IC產出效率，更嚴重的導致企業無法拿到更多訂單，也因質量問題無法與更高端商品合作，對于企業來說，這樣的損失是長久的。

因此，現有技術有待改進和提高。

發明內容

鑒于上述現有技術的不足，本發明的目的在于提供一種模塊化AOI定位方法、系統及燒錄IC設備，旨在解決現有的IC燒錄行業中IC定位精度低的問題。

本發明的技術方案如下：

一種模塊化AOI定位方法，用于對燒錄IC設備進行IC定位，其中，所述方法包括步驟：

A、加載燒錄IC圖片，并對所述燒錄IC圖片進行圖像功能調整；

B、獲取所述調整后的圖像區塊，判斷所述調整后的圖像區塊是否為可用區域；

C、若所述調整后的圖像區塊為可用區域，則對所述可用區域進行CCD比對；

D、若所述CCD比對結果處于一預先設置的閥值范圍內，則對所述可用區域進行圖像校正，根據校正結果對燒錄IC設備進行IC定位。

所述模塊化AOI定位方法，其中，所述步驟A中獲加載所述燒錄IC圖片包括步驟：

開啟四個線程，設置所述燒錄IC圖片的四個頂點為起始點，向圖片中心加載圖片數據。

所述模塊化AOI定位方法，其中，所述圖像功能調整包括：調整圖像亮度值、銳利值、膨脹值和腐蝕值。

所述模塊化AOI定位方法，其中，所述步驟C中CCD比對包括步驟：

C1、取出所述可用區域，根據標準點到線距離公式計算可用區域邊緣，并通過所述可用區域邊緣獲取可用區域外框的所有點位；

C2、根據所述外框所有點位計算所述圖像區塊的中心位置；

C3、取出同測最遠距離的兩個點位，利用所述兩個點位所在直線的斜率公式計算出偏移角度和X/Y偏移量。

所述模塊化AOI定位方法，其中，所述步驟D中圖像校正具體包括步驟：

D1、預先設置一校正塊，將所述校正塊置于CCD下方，利用繪圖手法劃出相等于所述校正塊長度值的直線；

D2、根據所述長度值計算出相對應的像素值，此數值對應關系記為長度-像素對應關系，根據所述長度-像素對應關系計算出像素值為1時所對應的長度值，此數值對應關系記為像素-長度對應關系；

D3、將所述像素-長度對應關系設定為校正標準，根據所述校正標準對所述可用區域的所有像素點進行圖像校正。

所述模塊化AOI定位系統，其中，所述定位系統包括：

加載調整圖片模塊，用于加載燒錄IC圖片，并對所述燒錄IC圖片進行圖像功能調整；

可用區域判斷模塊，用于獲取所述調整后的圖像區塊，判斷所述調整后的圖像區塊是否為可用區域；

CCD比對模塊，用于若所述調整后的圖像區塊為可用區域，則對所述可用區域進行CCD比對；

圖像校正模塊，用于若所述CCD比對結果處于一預先設置的閥值范圍內，則對所述可用區域進行圖像校正，根據校正結果對燒錄IC設備進行IC定位；

所述加載所述燒錄IC圖片包括：開啟四個線程，設置所述IC圖片的四個頂點為起始點，向圖片中心加載圖片數據；

所述圖像功能調整包括：調整圖像亮度值、銳利值、膨脹值和腐蝕值。

所述模塊化AOI定位系統，其中，所述CCD比對模塊還包括：

可用區域外框點位獲取單元，用于取出所述可用區域，根據標準點到線距離公式計算可用區域邊緣，并通過所述可用區域邊緣獲取可用區域外框的所有點位；

中心位置計算單元，用于根據所述外框所有點位計算所述圖像區塊的中心位置；

偏移值計算單元，用于取出同測最遠距離的兩個點位，利用所述兩個點位所在直線的斜率公式計算出偏移角度和X/Y偏移量。

所述模塊化AOI定位系統，其中，所述圖像校正模塊還包括：

長度值獲取單元，用于預先設置一校正塊，將所述校正塊置于CCD下方，利用繪圖手法劃出相等于所述校正塊長度值的直線；