[發明專利]玻璃基板的檢測裝置和方法在審
| 申請號: | 201410736482.7 | 申請日: | 2014-12-05 |
| 公開(公告)號: | CN104458767A | 公開(公告)日: | 2015-03-25 |
| 發明(設計)人: | 施文峰 | 申請(專利權)人: | 昆山國顯光電有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/958 | 分類號: | G01N21/958 |
| 代理公司: | 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224 | 代理人: | 唐清凱 |
| 地址: | 215300 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 玻璃 檢測 裝置 方法 | ||
1.一種玻璃基板的檢測裝置,其特征在于,包括:
基座,所述基座用于放置玻璃基板;
光源組件,所述光源組件包括第一光源和第二光源,所述第一光源位于所述基座上方,所述第一光源自所述玻璃基板的上方朝所述玻璃基板發出光線,所述第二光源位于所述基座下方,所述第二光源自所述玻璃基板的下方朝所述玻璃基板發出光線;
接收組件,用于接收所述第一光源照射在所述玻璃基板上的反射光以及所述第二光源照射在所述玻璃基板上的透射光;
調節組件,與所述光源組件連接,用于調節所述第一光源和所述第二光源的發光強度、角度或顏色;
檢測組件,與所述接收組件及所述調節組件連接,用于根據所述調節組件設置的光源信息對所述接收組件接收的所述反射光和所述透射光對所述玻璃基板進行檢測。
2.根據權利要求1所述的玻璃基板的檢測裝置,其特征在于,所述調節組件和所述接收組件連接,所述調節組件用于調節所述接收組件的位置角度以接收所述光源組件發出的光線。
3.根據權利要求1或2所述的玻璃基板的檢測裝置,其特征在于,所述第一光源和所述第二光源為光源組,所述光源組由多個光源組成。
4.根據權利要求1或2所述的玻璃基板的檢測裝置,其特征在于,所述接收組件為一個CCD(Charge-coupled?Device,感光耦合組件),所述CCD(Charge-coupled?Device,感光耦合組件)同時采集所述第一光源的反射光和所述第二光源的透射光。
5.根據權利要求1或2所述的玻璃基板的檢測裝置,其特征在于,所述接收組件包括第一接收組件和第二接收組件,所述第一接收組件用于接收所述第一光源的反射光,所述第二接收組件用于接收所述第二光源的透射光。
6.根據權利要求4所述的玻璃基板的檢測裝置,其特征在于,所述第一接收組件和所述第二接收組件為CCD(Charge-coupled?Device,感光耦合組件)組,所述CCD(Charge-coupled?Device,感光耦合組件)組由多個CCD(Charge-coupled?Device,感光耦合組件)組成。
7.一種玻璃基板的檢測方法,其特征在于,包括以下步驟:
將待檢測的玻璃基板置于第一光源和第二光源之間;其中,所述第一光源自所述玻璃基板的上方朝所述玻璃基板發出光線,所述第二光源自所述玻璃基板的下方朝所述玻璃基板發出光線;
調節所述第一光源和所述第二光源的發光強度、角度或顏色,并接收所述第一光源照射在所述玻璃基板上的反射光以及所述第二光源照射在所述玻璃基板上的透射光;
根據接收的所述反射光和所述透射光對所述玻璃基板進行檢測。
8.根據權利要求7所述的玻璃基板的檢測方法,其特征在于,所述第一光源為主光源,所述第二光源為輔助光源;或者所述第二光源為主光源,所述第一光源為輔助光源。
9.根據權利要求7所述的玻璃基板的檢測方法,其特征在于,所述第一光源和所述第二光源可以獨立使用。
10.根據權利要求7所述的玻璃基板的檢測方法,其特征在于,所述第一光源和所述第二光源可以分時段同時使用。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于昆山國顯光電有限公司,未經昆山國顯光電有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410736482.7/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





