[發(fā)明專利]測試包含多個相位旋轉(zhuǎn)器的集成電路設(shè)計在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410736228.7 | 申請日： | 2014-12-04 |
| 公開（公告）號： | CN104778295A | 公開（公告）日： | 2015-07-15 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | R.G.杰羅維茨;S.B.希金斯;J.A.亞丹扎 | 申請（專利權(quán)）人： | 國際商業(yè)機器公司 |
| 主分類號： | G06F17/50 | 分類號： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105 | 代理人： | 邸萬奎 |
| 地址： | 美國紐*** | 國省代碼： | 美國;US |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 測試 包含 相位 旋轉(zhuǎn) 集成電路設(shè)計 | ||
1.一種用于測試相位旋轉(zhuǎn)器的電路，包括：
比較元件，包括第一輸入端和第二輸入端，其中所述比較元件被配置為將提供在所述第一輸入端的第一信號的第一相位與提供在所述第二輸入端的第二信號的第二相位進行比較；
第一測試總線，連接到所述第一輸入端；以及
第二測試總線，連接到所述第二輸入端。
2.如權(quán)利要求1所述的電路，其中所述比較元件包括可調(diào)邏輯。
3.如權(quán)利要求1所述的電路，其中所述比較元件包括可調(diào)與門。
4.如權(quán)利要求1所述的電路，其中所述比較元件包括相位檢測器。
5.如權(quán)利要求1所述的電路，其中：
所述多個相位旋轉(zhuǎn)器的第一子集與所述第一測試總線關(guān)聯(lián)，并且選擇性地可連接到所述第一測試總線；以及
所述多個相位旋轉(zhuǎn)器的第二子集與所述第二測試總線關(guān)聯(lián)，并且選擇性地可連接到所述第二測試總線。
6.如權(quán)利要求1所述的電路，其中：
所述多個相位旋轉(zhuǎn)器中的單個相位旋轉(zhuǎn)器選擇性地可連接到所述第一測試總線；以及
所述多個相位旋轉(zhuǎn)器中除了所述單個相位旋轉(zhuǎn)器之外的所有其它相位旋轉(zhuǎn)器選擇性地可連接到所述第二測試總線。
7.如權(quán)利要求1所述的電路，其中與所述多個相位旋轉(zhuǎn)器分離的相位源選擇性地可連接到所述第一測試總線。
8.如權(quán)利要求7所述的電路,其中所述相位源包括鎖相環(huán)(PLL)的輸出。
9.如權(quán)利要求8所述的電路,還包括所述PLL的反饋環(huán)中的測試相位旋轉(zhuǎn)器。
10.如權(quán)利要求1所述的電路，其中所述比較元件的輸出是所述第一相位與所述第二相位之間的相位關(guān)系的函數(shù)。
11.一種用于測試相位旋轉(zhuǎn)器的系統(tǒng)，包括：
第一測試總線，連接到比較元件的第一輸入端；
第二測試總線，連接到所述比較元件的第二輸入端；以及
控制電路，被配置為：
選擇性地將第一相位源連接到所述第一測試總線；
選擇性地將第二相位源連接到所述第二測試總線，所述第二相位源包括多個相位旋轉(zhuǎn)器之一的輸出；
存儲所述比較元件的輸出；以及
向所述多個相位旋轉(zhuǎn)器提供輸入。
12.如權(quán)利要求11所述的系統(tǒng)，其中所述控制電路包括內(nèi)置自測試(BIST)結(jié)構(gòu)。
13.如權(quán)利要求11所述的系統(tǒng)，其中所述控制電路被配置為向所述比較元件提供控制信號和調(diào)諧信號之一。
14.如權(quán)利要求11所述的系統(tǒng)，其中通過所述控制單元提供給所述多個相位旋轉(zhuǎn)器的輸入包括相位和權(quán)重設(shè)定。
15.如權(quán)利要求11所述的系統(tǒng)，其中所述比較元件的輸出是所述第一相位源與所述第二相位源之間的相位關(guān)系的函數(shù)。
16.如權(quán)利要求15所述的系統(tǒng)，還包括邏輯，其配置為將所述比較元件的輸出與所述第一相位源與所述第二相位源之間的預(yù)定期望相位關(guān)系進行比較。
17.一種用于測試相位旋轉(zhuǎn)器的方法，包括：
將第一相位源連接到比較元件的第一輸入端；
將第二相位源連接到比較元件的第二輸入端，其中所述第二相位源包括選擇性地可連接到所述第二輸入端的多個相位旋轉(zhuǎn)器之一的輸出；
生成所述第一相位源與所述第二相位源之間的相位關(guān)系的期望值；以及
將所述期望值與所述比較元件的輸出進行比較。
18.如權(quán)利要求17所述的方法，其中所述第一相位源包括以下之一：
所述多個相位旋轉(zhuǎn)器中的另一個的輸出；以及
鎖相環(huán)的輸出。
19.如權(quán)利要求17所述的方法，還包括：
選擇針對所述第一相位源的第一相位和第一權(quán)重中的至少一個；以及
選擇針對所述第二相位源的第二相位和第二權(quán)重中的至少一個。
20.如權(quán)利要求17所述的方法，還包括：針對所述多個相位旋轉(zhuǎn)器中的每一個，重復(fù)所述連接所述第二相位源、所述生成以及所述比較。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于國際商業(yè)機器公司，未經(jīng)國際商業(yè)機器公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410736228.7/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
