[發明專利]檢測治具在審
| 申請號: | 201410722997.1 | 申請日: | 2014-12-03 |
| 公開(公告)號: | CN104714055A | 公開(公告)日: | 2015-06-17 |
| 發明(設計)人: | 顧偉正;魏豪;周嘉南;何志浩 | 申請(專利權)人: | 旺矽科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/02 | 分類號: | G01R1/02;G01R31/02 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
| 地址: | 中國臺灣新竹縣*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 檢測 | ||
技術領域
本發明與電性檢測器具有關;特別是指一種檢測治具。
背景技術
按,目前用以檢測電子產品的各精密電子組件間的電性連接是否確實的方法,是以使用探針卡作為一檢測機與待測電子對象之間的測試訊號與電源訊號的傳輸接口。探針卡主要是由相互電性連接的探針與剛性的多層印刷電路板所構成,利用探針點觸待測電子對象的待測部位,再以檢測機傳送測試訊號至待測電子對象,以進行待測電子對象的電性檢測。
隨著電子科技的進步,待測電子對象的指令周期與每秒的訊號傳輸量日益增大,檢測機所輸出的測試訊號的頻率將隨的提升。然而,作為訊號傳輸接口的探針為細長的結構且與其他探針間距通常呈線固定,不僅具有較高的微量電感,且在傳送高頻的測試訊號時,微量電感將使得電路的阻抗值大幅提升,造成高頻的測試訊號大幅衰減,而容易有誤判測試訊號的情形產生。
發明內容
本發明的目的是提供一種檢測治具,可有效地傳輸高頻測試訊號。
為實現上述目的,本發明提供檢測治具用以接觸一待測電子對象,且該待測電子對象具有復數個接點,而該檢測治具包含有一基板、一載板、至少二導接件、以及至少一補償件。其中,該基板上布設有至少一訊號線路以及至少一接地線路。該載板設置于該基板上,具有一基材以及一布設于該基材的導接線路,該基材以絕緣體制成,而該導接線路則以導體制成,且該基材設有至少一訊號貫孔、至少一接地貫孔以及復數補償孔,而該訊號貫孔正對該訊號線路,該接地貫孔正對該接地線路。該些導接件具有彈性且以導體制成,分別設置于該訊號貫孔與該接地貫孔中,且該二導接件的其中一端分別而與對應的該訊號線路以及該接地線路接抵而呈電性連接,而另一端分別凸出至該載板外以供接觸該待測電子對象的二該接點。該補償件以導體制成,且設置于其中一該補償孔中,并通過該導接線路與位于該接地貫孔中的導接件電性連接。
通過上述設計,可有效地減少高頻衰減,而可有效地傳輸高頻測試訊號。
附圖說明
圖1為本發明一較佳實施例的檢測治具立體圖。
圖2為本發明一較佳實施例的檢測治具分解圖。
圖3為本發明一較佳實施例的載板的分解圖。
圖4為圖1中沿A-A線剖視處的放大圖。
圖5為不同頻率的測試訊號通過一較佳實施例檢測治具后的衰減關系圖。
附圖中符號說明:
10基座,20基板,21訊號線路,22接地線路,30接頭,31訊號電極,32殼體,40導接件,41身部,42抵部,50補償件,60載板,61基材,611訊號貫孔,612接地貫孔,613補償孔,62導接線路,63對位件,631對位孔,70定位座,72穿孔,80外殼,81錐孔。
具體實施方式
為能更清楚地說明本發明,舉較佳實施例并配合附圖詳細說明如后。
請參閱圖1與圖2所示,為本發明一較佳實施例的檢測治具,包含有一基座10、一基板20、二接頭30、三導接件40、復數個補償件50、一載板60、一定位座70以及一外殼80。
該基板20固定設置于該基座10上,且該基板20在本實施例中為剛性的多層印刷電路板,其上布設有一訊號線路21與二接地線路22,該二接地線路22對稱設置,且該訊號線路21位于該二接地線路22之間。
各該接頭30具有以導體制成且相隔離的一訊號電極31與一殼體32,各該接頭30設于該基板20的側邊,且各該訊號電極31電性連接該訊號線路21,各該殼體32電性連接各該接地線路22。
該些導接件40具有彈性且以導體制成,于本實施例中為金屬制的彈簧針(Pogo?Pin),且具有一身部41以及二個分別位于該身部41相反兩端的抵部42,各該抵部42的外徑小于該身部41的外徑,且可相對該身部41位移。
該補償件50以導體制成。于本實施例中,該補償件50為金屬針,但不以此為限。
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