[發明專利]雙晶小K值超聲波探傷探頭及探傷方法在審
| 申請號: | 201410721528.8 | 申請日: | 2014-12-03 |
| 公開(公告)號: | CN104458919A | 公開(公告)日: | 2015-03-25 |
| 發明(設計)人: | 張嘯;宋紹河 | 申請(專利權)人: | 北京中電龍源環??萍加邢薰?/a> |
| 主分類號: | G01N29/24 | 分類號: | G01N29/24;G01N29/04 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 雙晶 超聲波 探傷 探頭 方法 | ||
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技術領域
本發明涉及管道無損探傷技術領域,尤其是一種雙晶小K值超聲波探傷探頭及探傷方法。
背景技術
在熱力發電廠和石油化工系統設備上,大量采用了小管徑管道,就一臺鍋爐而言大約有幾千條管道,其焊口竟達上萬只。這些管道一般處在極其惡劣的環境中服役很容易損壞,由于焊接質量或設備非正常運行,常出現焊縫處泄露和爆破,一旦損壞將造成設備損壞和人員傷亡,因而對這些管道和連接焊縫在安裝和服役期間必須進行檢驗,以確保設備和人員的安全。
此類管焊縫現在常規的探傷方法多采用X射線和超聲波探傷檢測。采用X射線方法檢驗,勞動強度大、費時、費力、耗材,且對人有較大的損害;在用超聲波方法檢驗時,目前多采用小管徑大K值超聲波探頭,即5MHz、K3探頭。眾所周知,超聲波波束有近場長度。
橫波聲場近場區長度按下式計算:
N=???????????????????????????????????????????????
式N—近場長度
Nˊ—探頭在鋼中的近場長度
—波源面積
—介質Ⅱ中橫波波長
—入射點至波源的距離
—入射點至假想波源的距離
已知:
壓電晶片面積為5×5=25mm2
有機玻璃中縱波聲速2710??
鋼中橫波聲速3230
壓電晶片頻率5MHz
橫波探頭K值為1.5?(按新設計探頭計算)
﹦
將數字代入(1)(2)式得出Nˊ=7.035mm
由計算得到探頭的近場長度為7.035mm,而我們預檢的管壁厚度大都在3-8mm左右,在探頭的近場區內,近場區內波幅多有副瓣,易形成雜波且不成線性關系,因而缺陷不能按探頭的線性進行顯示。
經多年應用確實發現了大量缺陷,但應用中發現這種探頭制作合格率較低,往往會產生表面波和傷波前的雜波,表面波和雜波影響對傷波的判斷,其檢測率較低。由于探頭壓電晶片尺寸小則相對發射能量低,當利用二次波檢上部缺陷時聲能損失大,也造成了檢測靈敏度降低。目前推廣應用的小管徑超聲波探頭實際并沒有得到廣泛應用。根據以上情況我們經多年潛心研究摸索出一種較為理想的探傷方法。
發明內容
本發明針對現有技術的不足,提出一種雙晶小K值超聲波探傷探頭,結構巧妙,無雜波、波形單一、缺陷檢出率高。
為了實現上述發明目的,本發明提供以下技術方案:一種雙晶小K值超聲波探頭,包括殼體,該殼體內設有吸收膠、有機玻璃楔塊、壓電晶片和隔聲層,該有機玻璃楔塊和壓電晶片均設有兩個;該兩個壓電晶片的頻率為2.5~5HMz,焦點為8~10mm,分別固定在兩個有機玻璃楔塊一端,兩個有機玻璃楔塊為交叉設置,隔聲層設在兩個有機玻璃楔塊之間。
進一步地,兩個有機玻璃楔塊之間夾角為6~8o。
本發明還提供了一種雙晶小K值超聲波探傷方法,無表面波、無雜波出現,波幅單一、判傷準確、檢測率高。
為了實現上述發明目的,本發明提供以下技術方案:一種雙晶小K值超聲波探傷方法,包括以下步驟:
⑴、建立探傷基準:將探頭正對在試塊上,該試塊上設有已知孔徑和深度尺寸的缺陷,移動探頭進行探傷測試,得到探傷基準;或將探頭正對與待檢測管件相同尺寸的輔助管件,該輔助管件為無缺陷管件,其兩端分別設有內壁槽和外壁槽,由內壁槽端開始移動探傷測試,內壁槽調出二次波,外壁槽調出三次波;
⑵、探傷:將探頭對準待測管件焊縫,移動探頭,獲得缺陷的波形圖;與步驟⑴探傷基準比對,確定缺陷的位置和尺寸。
進一步地,該試塊上設有Φ1×6mm孔。
進一步地,探傷前還包括檢測探頭的靈敏度:將Φ1×6mm孔調整二次波、三次波的波幅80%高探測輔助管件得到的反射當量值。
進一步地,步驟⑵探傷中,判斷缺陷方式為:二次底波和三次底波之間出現波可判定為缺陷;二次波后出現反射波,若波的最高點在三次波之前可判為缺陷波,若在三次波之后可判為焊瘤波。
與現有技術相比,本發明具有以下優點:采用小K值雙晶探頭檢測小管徑缺陷無表面波、無雜波出現,具有波幅單一、判傷準確、檢測率高等優點。
附圖說明
圖1為本發明探頭的結構原理圖;
圖2為試塊的主視圖;
圖3為圖2的俯視圖;
圖4為輔助管件的示意圖。
具體實施方式
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