[發明專利]雙晶小K值超聲波探傷探頭及探傷方法

在審

• 申請號: 201410721528.8
• 申請日: 2014-12-03
• 公開（公告）號: CN104458919A
• 公開（公告）日: 2015-03-25
• 發明（設計）人: 張嘯;宋紹河
• 申請（專利權）人: 北京中電龍源環?？萍加邢薰?/a>
• 主分類號: G01N29/24
• 分類號: G01N29/24;G01N29/04
• 代理公司: 北京中恒高博知識產權代理有限公司 11249
• 代理人: 劉洪京

1.一種雙晶小K值超聲波探頭，其特征在于：包括殼體，該殼體內設有吸收膠、有機玻璃楔塊、壓電晶片和隔聲層，該有機玻璃楔塊和壓電晶片均設有兩個；該兩個壓電晶片的頻率為2.5～5HMz，焦點為8～10mm，分別固定在兩個有機玻璃楔塊一端，兩個有機玻璃楔塊為交叉設置，隔聲層設在兩個有機玻璃楔塊之間。

2.如權利要求1所述雙晶小K值超聲波探頭，其特征在于：兩個有機玻璃楔塊之間夾角為6～8o。

3.一種采用如權利要求1所述雙晶小K值超聲波探頭的探傷方法，包括以下步驟：

⑴、建立探傷基準：將探頭正對在試塊上，該試塊上設有已知孔徑和深度尺寸的缺陷，移動探頭進行探傷測試，得到探傷基準；或將探頭正對與待檢測管件相同尺寸的輔助管件，該輔助管件為無缺陷管件，其兩端分別設有內壁槽和外壁槽，由內壁槽端開始移動探傷測試，內壁槽調出二次波，外壁槽調出三次波；

⑵、探傷：將探頭對準待測管件焊縫，移動探頭，獲得缺陷的波形圖；與步驟⑴探傷基準比對，確定焊縫的位置和尺寸。

4.如權利要求3所述探傷方法，其特征在于：該試塊上設有Φ1×6mm孔。

5.如權利要求4所述探傷方法，其特征在于：探傷前還包括檢測探頭的靈敏度：將Φ1×6mm孔調整二次波、三次波的波幅80%高探測輔助管件得到的反射當量值。

6.如權利要求3所述探傷方法，其特征在于：步驟⑵探傷中，判斷缺陷方式為：二次底波和三次底波之間出現波可判定為缺陷；二次波后出現反射波，若波的最高點在三次波之前可判為缺陷波，若在三次波之后可判為焊瘤波。