[發明專利]一種高寫入速度低靜態功耗抗單粒子翻轉的SRAM單元有效
| 申請號: | 201410712195.2 | 申請日: | 2014-11-27 |
| 公開(公告)號: | CN104392745A | 公開(公告)日: | 2015-03-04 |
| 發明(設計)人: | 張國和;曾云霖;段國棟 | 申請(專利權)人: | 西安交通大學 |
| 主分類號: | G11C11/413 | 分類號: | G11C11/413 |
| 代理公司: | 西安通大專利代理有限責任公司 61200 | 代理人: | 陸萬壽 |
| 地址: | 710049 陜*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 寫入 速度 靜態 功耗 粒子 翻轉 sram 單元 | ||
1.一種高寫入速度低靜態功耗抗單粒子翻轉的SRAM單元,其特征在于,包括脈沖信號輸入端、信號輸入端、信號輸出端、第一存儲節點(A)、第二存儲節點(B)、第一控制節點(C)、第二控制節點(D)、第一NMOS管(N1)、第二NMOS管(N2)、第三NMOS管(N3)、第四NMOS管(N4)、第五NMOS管(N5)、第六NMOS管(N6)、第一PMOS管(P1)、第二PMOS管(P2)、第三PMOS管(P3)、第四PMOS管(P4)、第五PMOS管(P5)、第六PMOS管(P6)及電源VDD;
所述第一PMOS管(P1)的柵極及漏極分別與第二控制節點(D)及第一控制節點(C)相連接,第一PMOS管(P1)的源極及襯底與電源VDD相連接;
所述第二PMOS管(P2)的柵極及漏極分別與第一控制節點(C)及第二控制節點(D)相連接,第二PMOS管(P2)的源極及襯底與電源VDD相連接;
所述第三PMOS管(P3)的柵極及漏極分別與第一控制節點(C)及第五PMOS管(P5)的源極相連接,第三PMOS管(P3)的源極及襯底與電源VDD相連接;
所述第四PMOS管(P4)的柵極及漏極分別與第二控制節點(D)及第六PMOS管(P6)的源極相連接,第四PMOS管(P4)的源極及襯底與電源VDD相連接;
所述第五PMOS管(P5)的柵極接地,第五PMOS管(P5)的漏極及襯底分別與第一存儲節點(A)及電源VDD相連接;
所述第六PMOS管(P6)的柵極接地,第六PMOS管(P6)的漏極及襯底分別與第二存儲節點(B)及電源VDD相連接;
所述第一NMOS管(N1)的柵極及漏極分別與第二存儲節點(B)及第一存儲節點(A)相連接,第一NMOS管(N1)的源極及襯底接地;
所述第二NMOS管(N2)的柵極及漏極分別與第一存儲節點(A)及第二存儲節點(B)相連接,第二NMOS管(N2)的源極及襯底接地;
所述第三NMOS管(N3)的柵極及漏極分別與第一存儲節點(A)及第一控制節點(C)相連接,第三NMOS管(N3)的源極及襯底接地;
所述第四NMOS管(N4)的柵極及漏極分別與第二存儲節點(B)及第二控制節點(D)相連接,第四NMOS管(N4)的源極及襯底接地;
所述第五NMOS管(N5)的柵極、漏極及源極分別與時鐘信號輸入端、第一存儲節點(A)及信號輸入端相連接,第五NMOS管(N5)的襯底接地;
所述第六NMOS管(N6)的柵極、漏極及源極分別與時鐘信號輸入端、第二存儲節點(B)及信號輸出端相連接,第六NMOS管(N6)的襯底接地。
2.根據權利要求1所述的高寫入速度低靜態功耗抗單粒子翻轉的SRAM單元,其特征在于,信號寫入和讀出時,通過時鐘信號輸入端輸出的時鐘信號控制第五NMOS管(N5)和第六NMOS管(N6)進行信號寫入和信號讀出。
3.根據權利要求1所述的高寫入速度低靜態功耗抗單粒子翻轉的SRAM單元,其特征在于,所述第一PMOS管(P1)、第二PMOS管(P2)、第一NMOS管(N1)及第二NMOS管(N2)組成了一個存儲單元的存儲主體結構,第三PMOS管(P3)、第四PMOS管(P4)、第四NMOS管(N4)及第三NMOS管(N3)組成了存儲單元主體結構的負反饋回路。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于西安交通大學,未經西安交通大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410712195.2/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種流動工況下液態重金屬氧濃度控制固液交換反應裝置
- 下一篇:一種電子小提琴





