[發(fā)明專利]一種低溫漂CMOS帶隙基準(zhǔn)源電路在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410698360.3 | 申請(qǐng)日: | 2014-11-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104375552A | 公開(公告)日: | 2015-02-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李弦 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市芯海科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G05F1/567 | 分類號(hào): | G05F1/567 |
| 代理公司: | 深圳市凱達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所 44256 | 代理人: | 劉大彎 |
| 地址: | 518067 廣東省深圳市南山*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 低溫 cmos 基準(zhǔn) 電路 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于電源技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及低溫度系數(shù)帶隙基準(zhǔn)電壓源。
背景技術(shù)
許多電壓測(cè)量設(shè)備需要使用帶隙基準(zhǔn)源為片內(nèi)ADC、比較器、buffer、定時(shí)器等模塊提供基準(zhǔn)電壓。基準(zhǔn)電壓隨電壓和溫度的變化直接關(guān)系到各個(gè)模塊的性能穩(wěn)定性。
帶隙基準(zhǔn)源的傳統(tǒng)實(shí)現(xiàn)方式如圖1所示。該帶隙基準(zhǔn)源包含電阻R1A/R1B/R2,三極管Q1/Q2(兩者面積之比A_Q2:A_Q1=M>1),運(yùn)放OP1。
由于運(yùn)放的反饋?zhàn)饔茫Y(jié)點(diǎn)net1和net2電壓相等,即
Vbe1=Vbe2+I2*R2
即
I2=(Vbe1-Vbe2)/R2=ΔVbe/R2
其中,Vbe1是三極管Q1的基極射極電壓,Vbe2是三極管Q2的基極射極電壓,ΔVbe是Vbe1與Vbe2的電壓差。那么,
Vbg=Vbe1+I2*(R2+R1B)=Vbe1+(1+R1B/R2)*ΔVbe
其中,ΔVbe=VT*In(M),VT=KT/q是溫度電壓當(dāng)量,隨溫度正向變化,M是三極管Q1、Q2的面積之比。
Vbe1=Vg0-VT*In(EG)-VT*(γ-α)*In(T)
其中,γ,α,R,G均是與溫度無關(guān)的常數(shù)[2]。從上式可以看出,Vbe除了包含溫度一階項(xiàng)VT*In(EG),還包含高階項(xiàng)VT*(γ-α)*In(T)。
一般的帶隙基準(zhǔn)源只考慮Vbe的一階項(xiàng),忽略高階項(xiàng)。這樣,只需要調(diào)整電阻比值R1B/R2就可以得到與溫度一階不相關(guān)的電壓Vbg。但是對(duì)于高精度系統(tǒng)來說,必須消除溫度高階項(xiàng)的影響。
專利申請(qǐng)200510120849.3提出了一種低溫度系數(shù)帶隙基準(zhǔn)參考電壓源,該電壓源包括PTAT電流產(chǎn)生電路、基準(zhǔn)電壓?jiǎn)?dòng)電路、基準(zhǔn)電壓合成電路、基極電流抵消電路、第一電流鏡像電路,其中該低溫度系數(shù)帶隙基準(zhǔn)參考電壓源還包括二階溫度補(bǔ)償電流產(chǎn)生電路,與所述第一電流鏡像電路、基準(zhǔn)電壓合成電路相連,輸入PTAT電流、帶隙基準(zhǔn)電壓,通過利用MOS管漏源電流與柵源壓差的平方關(guān)系,產(chǎn)生二階補(bǔ)償電流并輸出至基準(zhǔn)電壓合成電路產(chǎn)生二階補(bǔ)償電壓,補(bǔ)償基準(zhǔn)電壓的二階溫度系數(shù),產(chǎn)生極低溫度系數(shù)的基準(zhǔn)電壓。該申請(qǐng)雖然克服了經(jīng)典帶隙基準(zhǔn)電壓的溫度系數(shù)偏高的問題,可抵消二階溫度系數(shù)的影響,但是結(jié)構(gòu)較復(fù)雜,面積較大,成本也較高。
發(fā)明內(nèi)容
為解決上述問題,本發(fā)明的目的在于提供一種低溫漂CMOS帶隙基準(zhǔn)源電路,該電路適用于CMOS工藝的低溫漂帶隙基準(zhǔn)源,結(jié)構(gòu)較簡(jiǎn)單,成本較低。
本發(fā)明的另一個(gè)目地在于提供一種低溫漂CMOS帶隙基準(zhǔn)源電路,該電路實(shí)現(xiàn)容易,能夠準(zhǔn)確地得到低溫漂的基準(zhǔn)電壓。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明的技術(shù)方案為:
一種低溫漂CMOS帶隙基準(zhǔn)源電路,該電路包含電阻R1A/R1B,三極管Q1/Q2,運(yùn)放OP1,其特征在于所述電路還包括有電阻Rcp/Rb、NMOS管電流鏡、PMOS管電流鏡,及補(bǔ)償電流產(chǎn)生電路;其中,Rb并接于三極管Q1的基極,電阻Rb接于NMOS管電流鏡、PMOS管電流鏡之間,并連接于運(yùn)放OP1;補(bǔ)償電流產(chǎn)生電路則接于PMOS管電流鏡。
本發(fā)明通過上述電路結(jié)構(gòu)的改進(jìn),使通過電阻Rcp的電流可以來調(diào)整三極管基極電流,從而調(diào)整其溫度特性,得到低溫漂的基準(zhǔn)電壓。
所述三極管Q1/Q2兩者面積之比A_Q2:A_Q1=1。
所述NMOS管電流鏡,包括有Mn1/Mn2兩個(gè)電流鏡,所述Mn1/Mn2兩個(gè)電流鏡串接于電阻Rcp。
所述PMOS管電流鏡,包括有Mp1/Mp2/Mp3三個(gè)電流鏡,且所述Mp1/Mp2/Mp3三個(gè)電流鏡串聯(lián)在一起,Mp1接補(bǔ)償電流產(chǎn)生電路,Mp3則接電阻Rcp。
本發(fā)明通過電路結(jié)構(gòu)的改進(jìn),使通過電阻Rcp的電流可以來調(diào)整三極管基極電流,從而調(diào)整其溫度特性,得到低溫漂的基準(zhǔn)電壓。而且該電路適用于CMOS工藝的低溫漂帶隙基準(zhǔn)源,結(jié)構(gòu)較簡(jiǎn)單,成本較低。
附圖說明
圖1是現(xiàn)有技術(shù)的電路圖。
圖2是本發(fā)明所實(shí)施的電路圖。
具體實(shí)施方式
為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白,以下結(jié)合附圖及實(shí)施例,對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解,此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明,并不用于限定本發(fā)明。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于深圳市芯海科技有限公司,未經(jīng)深圳市芯海科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410698360.3/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G05F 調(diào)節(jié)電變量或磁變量的系統(tǒng)
G05F1-00 從系統(tǒng)的輸出端檢測(cè)的一個(gè)電量對(duì)一個(gè)或多個(gè)預(yù)定值的偏差量并反饋到系統(tǒng)中的一個(gè)設(shè)備里以便使該檢測(cè)量恢復(fù)到它的一個(gè)或多個(gè)預(yù)定值的自動(dòng)調(diào)節(jié)系統(tǒng),即有回授作用的系統(tǒng)
G05F1-02 .調(diào)節(jié)電弧的電氣特性
G05F1-10 .調(diào)節(jié)電壓或電流
G05F1-66 .電功率的調(diào)節(jié)
G05F1-70 .調(diào)節(jié)功率因數(shù);調(diào)節(jié)無功電流或無功功率
G05F1-67 ..為了從一個(gè)發(fā)生器,例如太陽能電池,取得最大功率的





