[發(fā)明專利]一種電路器件的可靠性評估方法及裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410692196.5
• 申請日: 2014-11-25
• 公開（公告）號: CN104408252B
• 公開（公告）日: 2017-10-10
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李孝遠;林熠;李洛宇;羅春華;安奇;劉從振
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市國微電子有限公司
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 深圳中一專利商標事務所44237
• 代理人: 張全文

1.一種電路器件的可靠性評估方法，其特征在于，包括：

配置用于可靠性評估的測試電路的特性參數(shù)；

基于實驗數(shù)據(jù)獲取所述特性參數(shù)的應力趨勢模型，所述應力趨勢模型用于表示所述特性參數(shù)在不同應力之下的特性參數(shù)值；

建立所述測試電路的電路模型；

在所述測試電路的電路模型中引入所述應力趨勢模型，得到所述測試電路的應力仿真數(shù)據(jù)；

基于所述測試電路的應力仿真數(shù)據(jù)，采用阿列尼烏斯經(jīng)驗公式完成對所述測試電路的可靠性評估；

所述基于實驗數(shù)據(jù)獲取所述特性參數(shù)的應力趨勢模型包括：

根據(jù)所述測試電路的類型，為所述測試電路施加與該類型相匹配的加速壽命實驗；

采集加速壽命實驗過程中產(chǎn)生的實驗數(shù)據(jù)，所述實驗數(shù)據(jù)包括不同應力條件下對應的特性參數(shù)值；

基于采集到的實驗數(shù)據(jù)進行趨勢分析，生成所述特性參數(shù)的應力趨勢模型。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述測試電路包括單元器件、功能電路或者單元電路。

3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于實驗數(shù)據(jù)獲取所述特性參數(shù)的應力趨勢模型包括：

基于與所述測試電路相同工藝或者相同類型的其他電路器件的加速壽命實驗數(shù)據(jù)進行趨勢分析，生成所述特性參數(shù)的應力趨勢模型。

4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述采用阿列尼烏斯經(jīng)驗公式完成對所述測試電路的可靠性評估包括：

采用阿列尼烏斯經(jīng)驗公式完成對所述測試電路的壽命時間和/或激活能的 預估。

5.一種電路器件的可靠性評估裝置，其特征在于，包括：

特性參數(shù)配置單元，用于配置用于可靠性評估的測試電路的特性參數(shù)；

應力趨勢模型建立單元，用于基于實驗數(shù)據(jù)獲取所述特性參數(shù)的應力趨勢模型，所述應力趨勢模型用于表示所述特性參數(shù)在不同應力之下的特性參數(shù)值；

測試電路模型建立單元，用于建立所述測試電路的電路模型；

模型引入單元，用于在所述測試電路的電路模型中引入所述應力趨勢模型，得到所述測試電路的應力仿真數(shù)據(jù)；

評估單元，用于基于所述測試電路的應力仿真數(shù)據(jù)，采用阿列尼烏斯經(jīng)驗公式完成對所述測試電路的可靠性評估；

所述應力趨勢模型建立單元包括：

實驗子單元，用于根據(jù)所述測試電路的類型，為所述測試電路施加與該類型相匹配的加速壽命實驗；

采集子單元，用于采集加速壽命實驗過程中產(chǎn)生的實驗數(shù)據(jù)，所述實驗數(shù)據(jù)包括不同應力條件下對應的特性參數(shù)值；

分析子單元，用于基于采集到的實驗數(shù)據(jù)進行趨勢分析，生成所述特性參數(shù)的應力趨勢模型。

6.如權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，所述測試電路包括單元器件、功能電路或者單元電路。

7.如權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，所述應力趨勢模型建立單元具體用于：

基于與所述測試電路相同工藝或者相同類型的其他電路器件的加速壽命實驗數(shù)據(jù)進行趨勢分析，生成所述特性參數(shù)的應力趨勢模型。

8.如權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，所述評估單元具體用于：

采用阿列尼烏斯經(jīng)驗公式完成對所述測試電路的壽命時間和/或激活能的預估。