[發明專利]校正液晶顯示裝置的方法和設備

有效

• 申請號: 201410688277.8
• 申請日: 2014-11-26
• 公開（公告）號: CN104376827B
• 公開（公告）日: 2017-12-15
• 發明（設計）人: 田允允;崔賢植;方正
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: G09G3/36
• 分類號: G09G3/36
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司72001
• 代理人: 江鵬飛,汪揚

技術領域

本發明涉及液晶顯示領域，特別地涉及一種校正液晶顯示裝置的方法和設備。

背景技術

隨著薄膜場效應晶體管液晶顯示（TFT-LCD Display）技術的發展和工業技術的進步，液晶顯示器件生產成本降低、制造工藝的日益完善，TFTLCD已經取代了陰極射線管顯示成為平板顯示領域的主流技術；并且，由于其本身所具有的優點，在市場和消費者心中已成為理想的顯示器件。目前市場上各種模式、各種尺寸的液晶顯示屏已十分普及，而對于最為人們接受的液晶顯示屏，其技術缺點有待急需解決。

發明內容

為了改善顯示效果在角度上的差異，現有的液晶顯示器中，如圖1所示，顯示陣列的相鄰行101、102中的像素電極101a、102a通常被設置為具有不同的傾斜取向（也稱為疇取向，domain orientation）。在這種布置模式下，從側面（即，傾斜于液晶面板的方向，例如沿著液晶面板對角線的任意傾斜方向）進行觀察時，會發現顯示器呈現一行亮一行暗的現象（也稱為H-Line現象），如圖2所示。由于相鄰行中的像素電極通常被設置為具有不同的疇取向，在液晶顯示器的所有灰階下，從顯示器的側面觀察，都將存在上述現象。人眼對低灰階敏感度更高，因此這種明暗交錯的現象在顯示器顯示低灰階（即，亮度較低的）圖像時尤為明顯。

為了解決上述技術問題，本發明的實施例提供一種校正液晶顯示裝置的方法，所述液晶顯示裝置包括像素陣列，所述像素陣列中的每個像素包括傾斜布置的電極，其中奇數行像素中的所述電極的傾斜取向不同于偶數行像素中的所述電極的傾斜取向；所述方法包括：

在預定的方向上分別測量奇數行像素在多個灰階下的亮度和偶數行像素在所述多個灰階下的亮度；以及

調節所述奇數行像素的數據線電壓和/或所述偶數行像素的數據線電壓，使得在所述多個灰階中的每一個下，所述奇數行像素的亮度與所述偶數行像素的亮度在所述預定的方向上相同。

優選地，所述調節的步驟包括：利用在預定的方向上同一個灰階下測量的奇數行像素的亮度和偶數行像素的亮度來計算在該灰階下的參考亮度；在每一個灰階下，將奇數行像素的亮度和偶數行像素的亮度調節為與該灰階下的參考亮度相同。

優選地，所述調節的步驟還包括：利用奇數行像素和/或偶數行像素的電壓-透射率關系來調節所述奇數行像素的數據線電壓和/或所述偶數行像素的數據線電壓。

優選地，所述參考亮度是在同一個灰階下測量的奇數行像素的亮度和偶數行像素的亮度的均值。

優選地，所述多個灰階的數目為256。

優選地，所述電極是像素電極。

優選地，所述預定的方向為使用者的觀看方向。

本發明的實施例還提供了一種校正液晶顯示裝置的設備，所述液晶顯示裝置包括像素陣列，所述像素陣列中的每個像素包括傾斜布置的電極，其中奇數行像素中的所述電極的傾斜取向不同于偶數行像素中的所述電極的傾斜取向；所述設備包括：

測量單元，所述測量單元在預定的方向上分別測量奇數行像素在多個灰階下的亮度和偶數行像素在所述多個灰階下的亮度；以及

調節單元，所述調節單元調節所述奇數行像素的數據線電壓和/或所述偶數行像素的數據線電壓，使得在所述多個灰階中的每一個下，所述奇數行像素的亮度與所述偶數行像素的亮度在所述預定的方向上相同。

優選地，所述調節單元利用在預定的方向上同一個灰階下測量的奇數行像素的亮度和偶數行像素的亮度來計算在該灰階下的參考亮度；在每一個灰階下，將奇數行像素的亮度和偶數行像素的亮度調節為與該灰階下的參考亮度相同。

優選地，所述調節單元利用奇數行像素和/或偶數行像素的電壓-透射率關系來調節所述奇數行像素的數據線電壓和/或所述偶數行像素的數據線電壓。

優選地，所述參考亮度是在同一個灰階下測量的奇數行像素的亮度和偶數行像素的亮度的均值。

優選地，所述多個灰階的數目為256。

優選地，所述電極是像素電極。

本發明的實施例還提供了一種校正液晶顯示裝置的儀器，所述液晶顯示裝置包括像素陣列，所述像素陣列中的每個像素包括傾斜布置的電極，其中奇數行像素中的所述電極的傾斜取向不同于偶數行像素中的所述電極的傾斜取向；所述儀器包括：

測量單元，所述測量單元包括亮度測量組件和角度控制組件；以及

調節單元，所述調節單元包括與所述液晶顯示裝置相連接的電壓調整組件。

優選地，所述角度控制組件支撐所述亮度測量組件。