[發明專利]校正液晶顯示裝置的方法和設備

有效

• 申請號: 201410688277.8
• 申請日: 2014-11-26
• 公開（公告）號: CN104376827B
• 公開（公告）日: 2017-12-15
• 發明（設計）人: 田允允;崔賢植;方正
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: G09G3/36
• 分類號: G09G3/36
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司72001
• 代理人: 江鵬飛,汪揚

1.一種校正液晶顯示裝置的方法，其特征在于，所述液晶顯示裝置包括像素陣列，所述像素陣列中的每個像素包括傾斜布置的電極，其中奇數行像素中的所述電極的傾斜取向不同于偶數行像素中的所述電極的傾斜取向；所述方法包括：

在預定的方向上分別測量奇數行像素在多個灰階下的亮度和偶數行像素在所述多個灰階下的亮度；以及

調節所述奇數行像素的數據線電壓和/或所述偶數行像素的數據線電壓，使得在所述多個灰階中的每一個下，所述奇數行像素的亮度與所述偶數行像素的亮度在所述預定的方向上相同。

2.如權利要求1所述的校正液晶顯示裝置的方法，其特征在于，所述調節的步驟包括：利用在預定的方向上同一個灰階下測量的奇數行像素的亮度和偶數行像素的亮度來計算在該灰階下的參考亮度；在每一個灰階下，將奇數行像素的亮度和偶數行像素的亮度調節為與該灰階下的參考亮度相同。

3.如權利要求2所述的校正液晶顯示裝置的方法，其特征在于，所述調節的步驟還包括：利用奇數行像素和/或偶數行像素的電壓-透射率關系來調節所述奇數行像素的數據線電壓和/或所述偶數行像素的數據線電壓。

4.如權利要求2所述的校正液晶顯示裝置的方法，其特征在于，所述參考亮度是在同一個灰階下測量的奇數行像素的亮度和偶數行像素的亮度的均值。

5.如權利要求1所述的校正液晶顯示裝置的方法，其特征在于，所述多個灰階的數目為256。

6.如權利要求1所述的校正液晶顯示裝置的方法，其特征在于，所述電極是像素電極。

7.如權利要求1所述的校正液晶顯示裝置的方法，其特征在于，所述預定的方向為使用者的觀看方向。

8.一種校正液晶顯示裝置的設備，所述液晶顯示裝置包括像素陣列，所述像素陣列中的每個像素包括傾斜布置的電極，其中奇數行像素中的所述電極的傾斜取向不同于偶數行像素中的所述電極的傾斜取向；其特征在于，所述設備包括：

測量單元，所述測量單元在預定的方向上分別測量奇數行像素在多個灰階下的亮度和偶數行像素在所述多個灰階下的亮度；以及

調節單元，所述調節單元調節所述奇數行像素的數據線電壓和/或所述偶數行像素的數據線電壓，使得在所述多個灰階中的每一個下，所述奇數行像素的亮度與所述偶數行像素的亮度在所述預定的方向上相同。

9.如權利要求8所述的校正液晶顯示裝置的設備，其特征在于，所述調節單元利用在預定的方向上同一個灰階下測量的奇數行像素的亮度和偶數行像素的亮度來計算在該灰階下的參考亮度；在每一個灰階下，將奇數行像素的亮度和偶數行像素的亮度調節為與該灰階下的參考亮度相同。

10.如權利要求9所述的校正液晶顯示裝置的設備，其特征在于，所述調節單元利用奇數行像素和/或偶數行像素的電壓-透射率關系來調節所述奇數行像素的數據線電壓和/或所述偶數行像素的數據線電壓。

11.如權利要求9所述的校正液晶顯示裝置的設備，其特征在于，所述參考亮度是在同一個灰階下測量的奇數行像素的亮度和偶數行像素的亮度的均值。

12.如權利要求8所述的校正液晶顯示裝置的設備，其特征在于，所述多個灰階的數目為256。

13.如權利要求8所述的校正液晶顯示裝置的設備，其特征在于，所述電極是像素電極。

14.如權利要求8所述的校正液晶顯示裝置的設備，其特征在于，所述預定的方向為使用者的觀看方向。

15.一種校正液晶顯示裝置的儀器，所述液晶顯示裝置包括像素陣列，所述像素陣列中的每個像素包括傾斜布置的電極，其中奇數行像素中的所述電極的傾斜取向不同于偶數行像素中的所述電極的傾斜取向；其特征在于，所述儀器包括：

測量單元，所述測量單元包括亮度測量組件和角度控制組件；以及

調節單元，所述調節單元包括與所述液晶顯示裝置相連接的電壓調整組件。

16.如權利要求15所述的校正液晶顯示裝置的儀器，其特征在于，所述角度控制組件支撐所述亮度測量組件。

17.如權利要求15所述的校正液晶顯示裝置的儀器，其特征在于，所述亮度測量組件是電荷耦合器件。

18.如權利要求15所述的校正液晶顯示裝置的儀器，其特征在于，所述電壓調整組件與所述液晶顯示裝置的數據線驅動電路相連接。