[發(fā)明專利]一種顯示面板的檢測電路及其檢測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410680359.8
• 申請日: 2014-11-24
• 公開（公告）號: CN104375294A
• 公開（公告）日: 2015-02-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉桓;王金杰
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市華星光電技術(shù)有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G02F1/1362;G09G3/00
• 代理公司: 深圳翼盛智成知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 44300
• 代理人: 黃威

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及顯示器領(lǐng)域，特別是涉及一種顯示面板的檢測電路及使用所述檢測電路對顯示面板進(jìn)行檢測的方法。

背景技術(shù)

現(xiàn)有的顯示面板包括多個像素單元，每個像素單元包括主像素部和子像素部，為了解決大視角色偏的問題，通常將主像素部的亮度設(shè)置成大于子像素部的亮度，從而提高顯示效果。主像素部具有第一薄膜晶體管，子像素部具有第二薄膜晶體管和第三薄膜晶體管。主掃描線連接第一薄膜晶體管和第二薄膜晶體管的控制端，在主掃描線輸入為高電平時，第一薄膜晶體管和第二薄膜晶體管閉合，通過數(shù)據(jù)線向主像素部和子像素部充電，充電結(jié)束后主像素部和子像素部的電荷相等。次掃描線連接第三薄膜晶體管的控制端，在次掃描線輸入為高電平時，第三薄膜晶體管閉合，將子像素部的液晶電容上的一部分電荷分配到分享電容上，使得子像素部的電荷小于主像素部的電荷，從而解決了大視角色偏問題。

現(xiàn)有的檢測電路1，如圖1所示，其包括第一檢測線11和第二檢測線12，像素單元15，每個像素單元對應(yīng)的掃描線為主掃描線13和次掃描線14，其中奇數(shù)行(1、3、5、7)的像素單元的主掃描線連接第一檢測線11，偶數(shù)行(2、4、6、8)的像素單元的主掃描線連接第二檢測線12，且第n+2行像素單元的主掃描線連接第n行像素單元的次掃描線，或者如圖2所示，將第n+4行像素單元的主掃描線連接第n行像素單元的次掃描線，圖2其余連接方式與圖1相同，其中n為正整數(shù)?，F(xiàn)有的檢測電路，只能檢測主像素部和子像素部能否發(fā)亮。

但是，在制程中分享電容與子像素部的像素電極之間存在著ITO(透明導(dǎo)電層)殘留，從而使得子像素部的像素電極和分享電容之間出現(xiàn)短路，第三薄膜晶體管的控制作用失效。當(dāng)子像素部的像素電極充電時，分享電容也充電，使得兩者電位相同，當(dāng)子像素部的像素電極充完電時，由于分享電容的上極板與子像素部的像素電極電位相同，使得子像素部的液晶電容不能向分享電容分享一部分電荷，使得子像素部的電位無法被拉低，使得子像素部的亮度出現(xiàn)異常，即顯示面板出現(xiàn)異常。這種異常情況特別是在低灰階(譬如L48灰階)下較為明顯，因此有必要對顯示面板的異常進(jìn)行檢測；而使用現(xiàn)有的檢測電路并不能檢測顯示面板的異常。

故，有必要提供一種顯示面板的檢測電路及使用所述檢測電路對顯示面板進(jìn)行檢測的方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)所存在的問題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種顯示面板的檢測電路及使用所述檢測電路對顯示面板進(jìn)行檢測的方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)的檢測電路不能檢測顯示面板異常的技術(shù)問題，以提高顯示效果。

為解決上述問題，本發(fā)明提供的技術(shù)方案如下：

本發(fā)明實(shí)施例提供一種顯示面板的檢測電路，所述顯示面板包括陣列基板，所述陣列基板包括：

數(shù)據(jù)線、掃描線、以及由所述數(shù)據(jù)線和所述掃描線限定的多個像素單元，所述多個像素單元組成多行像素單元，所述像素單元對應(yīng)的掃描線包括主掃描線和次掃描線；

其中每個所述像素單元包括主像素部和子像素部、所述主像素部具有第一薄膜晶體管，所述子像素部具有第二薄膜晶體管以及第三薄膜晶體管，所述主掃描線，用于向所述第一薄膜晶體管和所述第二薄膜晶體管的控制端輸入第一掃描信號，其中所述第一掃描信號用于控制向所述第一薄膜晶體管的輸入端和所述第二薄膜晶體管的輸入端輸入數(shù)據(jù)信號，所述第一薄膜晶體管的輸出端與所述主像素部的主液晶電容連接，所述第二薄膜晶體管的輸出端與所述子像素部的子液晶電容連接；

所述次掃描線，用于當(dāng)所述第一薄膜晶體管和所述第二薄膜晶體管斷開時，向所述第三薄膜晶體管的控制端輸入第二掃描信號，其中所述第二掃描信號用于對所述子液晶電容和分享電容上的電荷進(jìn)行重新分配，所述第三薄膜晶體管的輸入端與所述子像素部的子液晶電容連接，所述第三薄膜晶體管的輸出端與所述分享電容連接；

所述檢測電路包括：

兩條檢測線，分別用于向每行所述像素單元提供掃描信號；

其中一條所述檢測線僅連接所述像素單元的一條掃描線，另一條所述檢測線連接所述像素單元的另一條掃描線。

本發(fā)明還提供一種使用上述的檢測電路對顯示面板進(jìn)行檢測的方法，其中所述兩條檢測線包括第一檢測線和第二檢測線；所述方法包括：

將所述多行像素單元劃分為n組檢測區(qū)域，其中每組所述檢測區(qū)域包括h行像素單元，第2n+1組檢測區(qū)域中的每行像素單元的主掃描線連接所述第一檢測線，第2n組檢測區(qū)域中的每行像素單元的主掃描線連接所述第二檢測線；第n組檢測區(qū)域中的每行像素單元的次掃描線連接第n+1組檢測區(qū)域中的任一行的像素單元的主掃描線；其中n為正整數(shù)，h＝2k，k≥1。