[發(fā)明專利]一種顯示面板的檢測電路及其檢測方法

有效

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• 申請日: 2014-11-24
• 公開（公告）號: CN104375294A
• 公開（公告）日: 2015-02-25
• 發(fā)明（設計）人: 劉桓;王金杰
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G02F1/1362;G09G3/00
• 代理公司: 深圳翼盛智成知識產權事務所(普通合伙) 44300
• 代理人: 黃威

1.一種顯示面板的檢測電路，其特征在于，

所述顯示面板包括陣列基板，所述陣列基板包括：

數(shù)據線、掃描線、以及由所述數(shù)據線和所述掃描線限定的多個像素單元，所述多個像素單元組成多行像素單元，所述像素單元對應的掃描線包括主掃描線和次掃描線；

其中每個所述像素單元包括主像素部和子像素部、所述主像素部具有第一薄膜晶體管，所述子像素部具有第二薄膜晶體管以及第三薄膜晶體管，所述主掃描線，用于向所述第一薄膜晶體管和所述第二薄膜晶體管的控制端輸入第一掃描信號，其中所述第一掃描信號用于控制向所述第一薄膜晶體管的輸入端和所述第二薄膜晶體管的輸入端輸入數(shù)據信號，所述第一薄膜晶體管的輸出端與所述主像素部的主液晶電容連接，所述第二薄膜晶體管的輸出端與所述子像素部的子液晶電容連接；

所述次掃描線，用于當所述第一薄膜晶體管和所述第二薄膜晶體管斷開時，向所述第三薄膜晶體管的控制端輸入第二掃描信號，其中所述第二掃描信號用于對所述子液晶電容和分享電容上的電荷進行重新分配，所述第三薄膜晶體管的輸入端與所述子像素部的子液晶電容連接，所述第三薄膜晶體管的輸出端與所述分享電容連接；

所述檢測電路包括：

兩條檢測線，分別用于向每行所述像素單元提供掃描信號；

其中一條所述檢測線僅連接所述像素單元的一條掃描線，另一條所述檢測線連接所述像素單元的另一條掃描線。

2.一種使用如權利要求1所述的檢測電路對顯示面板進行檢測的方法，其特征在于，所述兩條檢測線包括第一檢測線和第二檢測線；所述方法包括：

將所述多行像素單元劃分為n組檢測區(qū)域，其中每組所述檢測區(qū)域包括h行像素單元，第2n+1組檢測區(qū)域中的每行像素單元的主掃描線連接所述第一檢測線，第2n組檢測區(qū)域中的每行像素單元的主掃描線連接所述第二檢測線；第n組檢測區(qū)域中的每行像素單元的次掃描線連接第n+1組檢測區(qū)域中的任一行的像素單元的主掃描線；其中n為正整數(shù)，h＝2k，k≥1。

3.根據權利要求2所述的對顯示面板進行檢測的方法，其特征在于，

向所述第一檢測線輸入高電平電壓，以及向所述第二檢測線輸入低電平電壓，以使所述第2n+1組檢測區(qū)域中的每行像素單元的所述第一薄膜晶體管和所述第二薄膜晶體管閉合，并且使所述第2n+1組檢測區(qū)域中的每行像素單元的所述第三薄膜晶體管斷開；

并通過所述數(shù)據線向所述第2n+1組檢測區(qū)域中的每行像素單元輸入第一數(shù)據信號，以對所述第2n+1組檢測區(qū)域中的每行像素單元的所述子像素部進行充電；

在所述通過所述數(shù)據線向所述第2n+1組檢測區(qū)域中的每行像素單元輸入第一數(shù)據信號的步驟之后，所述方法還包括：

向所述第一檢測線輸入低電平電壓，以及向所述第二檢測線輸入高電平電壓，以使所述第2n+1組檢測區(qū)域中的每行像素單元的所述第一薄膜晶體管和所述第二薄膜晶體管斷開，并且使所述第2n+1組檢測區(qū)域中的每行像素單元的所述第三薄膜晶體管閉合；

并通過所述數(shù)據線向所述第2n組檢測區(qū)域的每行像素單元輸入第二數(shù)據信號，以檢測所述第2n+1組檢測區(qū)域中的每行像素單元的所述子像素部的亮度是否異常，生成檢測結果；其中所述第一數(shù)據信號的電壓大于所述第二數(shù)據信號的電壓。

4.根據權利要求2所述的對顯示面板進行檢測的方法，其特征在于，

向所述第二檢測線輸入高電平電壓，以及向所述第一檢測線輸入低電平電壓，以使所述第2n組檢測區(qū)域中的每行像素單元的所述第一薄膜晶體管和所述第二薄膜晶體管閉合，并且使所述第2n組檢測區(qū)域中的每行像素單元的所述第三薄膜晶體管斷開；

并通過所述數(shù)據線向所述第2n組檢測區(qū)域中的每行像素單元輸入第一數(shù)據信號，以對所述第2n組檢測區(qū)域中的每行像素單元的所述子像素部進行充電；

在所述通過所述數(shù)據線向所述第2n組檢測區(qū)域中的每行像素單元輸入第一數(shù)據信號的步驟之后，所述方法還包括：

向所述第二檢測線輸入低電平電壓，以及向所述第一檢測線輸入高電平電壓，以使所述第2n組檢測區(qū)域中的每行像素單元的所述第一薄膜晶體管和所述第二薄膜晶體管斷開，并且使所述第2n組檢測區(qū)域中的每行像素單元的所述第三薄膜晶體管閉合；

并通過所述數(shù)據線向所述第2n+1組檢測區(qū)域的每行像素單元輸入第二數(shù)據信號，以檢測所述第2n組檢測區(qū)域中的每行像素單元的所述子像素部的亮度是否異常，以生成檢測結果，其中所述第一數(shù)據信號的電壓大于所述第二數(shù)據信號的電壓。