[發(fā)明專利]DRAM中子單粒子效應(yīng)試驗控制方法與裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410678067.0
• 申請日: 2014-11-21
• 公開（公告）號: CN105679371B
• 公開（公告）日: 2018-08-31
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 王群勇;張峰;陳冬梅;陽輝
• 申請（專利權(quán)）人: 北京圣濤平試驗工程技術(shù)研究院有限責(zé)任公司
• 主分類號: G11C29/08
• 分類號: G11C29/08;G05B19/04
• 代理公司: 北京路浩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11002
• 代理人: 李相雨

1.DRAM中子單粒子效應(yīng)試驗控制方法，其特征在于，具體包括以下步驟：

S1：對器件的多個控制參數(shù)進行設(shè)置與計算；

S2：在完成設(shè)置與計算的多個控制參數(shù)組合的約束條件下對器件進行控制；

其中，所述多個控制參數(shù)包括：錯誤數(shù)觀測值N、未防護位B、注量率F、器件敏感功能塊數(shù)i、錯誤類型數(shù)j、試驗截止檢測錯誤數(shù)N_end以及截止注量F_end；

其中，所述錯誤數(shù)觀測值N由如下公式計算獲得：

N＝N₀*[錯誤傳遞率/(軟件用例覆蓋率*軟件用例測試覆蓋率)]，其中，N₀為初始錯誤數(shù)觀測值，所述錯誤傳遞率、軟件用例覆蓋率以及軟件用例測試覆蓋率均為試驗聯(lián)調(diào)聯(lián)試時的獲取值；

所述未防護位B由如下公式計算獲得：

B＝B₀*資源利用率*未防護率，其中，B₀為真實的配置工作位數(shù)，所述資源利用率以及未防護率均為試驗聯(lián)調(diào)聯(lián)試時的獲取值；

所述注量率F由如下公式計算獲得：

其中，F(xiàn)為試驗器件接收到的中子累積注量，單位為n/cm²；Netarea為監(jiān)測到的靶源產(chǎn)生的α粒子數(shù)；R為試驗器件到靶源的距離，單位為cm；

所述器件敏感功能塊數(shù)i和所述錯誤類型數(shù)j取值如下：

i＝1，j＝1；

所述試驗截止檢測錯誤數(shù)N_end以及截止注量F_end的獲取具體為：

首先，在器件不可重復(fù)抽樣的情況下，顯著水平α＝0.05，置信度CL＝1-α?xí)r，根據(jù)置信區(qū)間的定義，建立計算模型：

再次，將及代入建立計算模型進行整理，得到公式：

最終，根據(jù)預(yù)設(shè)表中不同精度的對應(yīng)值獲取所述截止檢測錯誤數(shù)N_end以及截止注量F_end。

2.DRAM中子單粒子效應(yīng)試驗控制裝置，其特征在于，包括：

設(shè)置計算模塊，用于對器件的多個控制參數(shù)進行設(shè)置與計算；

控制模塊，用于在完成設(shè)置與計算的多個控制參數(shù)組合的約束條件下對器件進行控制；

其中，所述多個控制參數(shù)包括：錯誤數(shù)觀測值N、未防護位B、注量率F、器件敏感功能塊數(shù)i、錯誤類型數(shù)j、試驗截止檢測錯誤數(shù)N_end以及截止注量F_end；

其中，所述錯誤數(shù)觀測值N由如下公式計算獲得：

N＝N₀*[錯誤傳遞率/(軟件用例覆蓋率*軟件用例測試覆蓋率)]，其中，N₀為初始錯誤數(shù)觀測值，所述錯誤傳遞率、軟件用例覆蓋率以及軟件用例測試覆蓋率均為試驗聯(lián)調(diào)聯(lián)試時的獲取值；

所述未防護位B由如下公式計算獲得：

B＝B₀*資源利用率*未防護率，其中，B₀為真實的配置工作位數(shù)，所述資源利用率以及未防護率均為試驗聯(lián)調(diào)聯(lián)試時的獲取值；

所述注量率F由如下公式計算獲得：

其中，F(xiàn)為試驗器件接收到的中子累積注量，單位為n/cm²；Netarea為監(jiān)測到的靶源產(chǎn)生的α粒子數(shù)；R為試驗器件到靶源的距離，單位為cm；

所述器件敏感功能塊數(shù)i和所述錯誤類型數(shù)j取值如下：

i＝1，j＝1；

所述試驗截止檢測錯誤數(shù)N_end以及截止注量F_end的獲取具體為：

首先，在器件不可重復(fù)抽樣的情況下，顯著水平α＝0.05，置信度CL＝1-α?xí)r，根據(jù)置信區(qū)間的定義，建立計算模型：

再次，將及代入建立計算模型進行整理，得到公式：

最終，根據(jù)預(yù)設(shè)表中不同精度的對應(yīng)值獲取所述截止檢測錯誤數(shù)N_end以及截止注量F_end。