[發(fā)明專(zhuān)利]一種錐形激光器輸出端面減反膜鍍制方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410674359.7 | 申請(qǐng)日: | 2014-11-20 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104332824A | 公開(kāi)(公告)日: | 2015-02-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 薄報(bào)學(xué);高欣;喬忠良;張晶;李輝;李特;曲軼 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 長(zhǎng)春理工大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01S5/22 | 分類(lèi)號(hào): | H01S5/22;H01S5/028 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 130022 *** | 國(guó)省代碼: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 錐形 激光器 輸出 端面 減反膜鍍制 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種錐形激光器輸出端面減反膜鍍制方法,屬于激光技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
錐形半導(dǎo)體激光器作為一種獲得高光束質(zhì)量、高功率輸出的激光器結(jié)構(gòu),對(duì)輸出端面的殘余反射率要求較高,一般在10-3以下,同時(shí)為了滿(mǎn)足高功率工作要求還需要進(jìn)行端面鈍化處理。現(xiàn)有技術(shù)采用鈍化與減反膜工藝分別進(jìn)行的方法,端面鈍化采用硫化物、硒化物或硅膜,具有穩(wěn)定性差,吸收大的缺點(diǎn),減反膜工藝采用電子束蒸發(fā)或氣相沉積鍍制單層或多層MgF,SiO2,Al2O3等低折射率材料,具有工藝復(fù)雜,重復(fù)性差的缺點(diǎn)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是這樣實(shí)現(xiàn)的,見(jiàn)附圖所示,在錐形激光器的輸出端面4采用射頻反應(yīng)濺射制備四分之一光學(xué)厚度的非晶AlxNy薄膜,通過(guò)調(diào)整濺射條件調(diào)整AlxNy薄膜的折射率,使輸出端面4的殘余反射率達(dá)到錐形激光器低輸出端面反射率設(shè)計(jì)的要求,同時(shí)起到鈍化輸出端面4的作用。
本發(fā)明的技術(shù)效果在于,通過(guò)調(diào)整濺射條件可以在1.7-2.1折射率范圍內(nèi)調(diào)整AlxNy薄膜的折射率,使其滿(mǎn)足GaAs基錐形激光器端面低殘余反射率設(shè)計(jì)的要求,同時(shí)非晶AlxNy薄膜材料的光學(xué)帶隙大于硫化物、硒化物或硅膜,其光吸收相對(duì)很弱,并具有較高的熱導(dǎo)率和與GaAs近似匹配的熱膨脹系數(shù),可以對(duì)GaAs基錐形激光器的輸出端面4起到鈍化作用。
附圖說(shuō)明
所附圖為錐形激光器示意圖1,1為脊形條區(qū),2為錐形放大區(qū),3為脊形條端面,4為輸出端面。
具體實(shí)施方式
如附圖1所示,錐形激光器由脊形條區(qū)1、錐形放大區(qū)2構(gòu)成。在錐形激光器的輸出端面4上,采用高純Al靶的射頻反應(yīng)濺射制備非晶AlxNy薄膜,工作氣體為高純Ar氣與N2氣,通過(guò)改變N2氣流量進(jìn)而調(diào)整AlxNy薄膜的折射率,使其滿(mǎn)足GaAs基錐形激光器端面低殘余反射率設(shè)計(jì)的要求。首先,在GaAs基片上采用射頻反應(yīng)濺射沉積AlxNy薄膜,采用光學(xué)薄膜測(cè)量?jī)x測(cè)試沉積AlxNy薄膜的厚度與折射率,固定Ar氣流量,改變N氣流量獲得不同濺射室工作條件下的AlxNy薄膜的厚度與折射率,然后根據(jù)厚度獲得相應(yīng)濺射條件下的沉積速率。然后,根據(jù)錐形激光器材料的波導(dǎo)有效折射率,采用薄膜設(shè)計(jì)軟件進(jìn)行輸出端面4的變薄膜折射率減反膜設(shè)計(jì),選擇薄膜材料的折射率與厚度。然后,按照折射率選擇濺射室的工作條件,根據(jù)該條件下的濺射沉積速率確定濺射沉積時(shí)間,所制備的非晶AlxNy薄膜即滿(mǎn)足減反膜設(shè)計(jì)要求。
下面結(jié)合實(shí)例說(shuō)明本發(fā)明。808nm波長(zhǎng)錐形激光器材料的波導(dǎo)有效折射率為3.65,錐形激光器減反膜的反射率設(shè)計(jì)為0.1%,則采用薄膜設(shè)計(jì)軟件TFCalc35設(shè)計(jì)薄膜的折射率為1.9,厚度為103nm,其濺射條件為:射頻功率150W,Ar氣流量為10sccm,N2氣流量為8sccm,濺射沉積速率為0.036nm/s。由此獲得濺射沉積時(shí)間為2861秒。將808nm波長(zhǎng)錐形激光器芯片的輸出端面用夾具固定在基片臺(tái)上,靶材采用99.999%純度的Al靶,濺射室抽真空至2×10-4Pa,調(diào)節(jié)Ar氣流量與N2流量,充入濺射室99.999%純度的Ar氣與N2氣。開(kāi)啟射頻電源,調(diào)節(jié)輸出功率至150W,預(yù)濺射5分鐘后打開(kāi)樣品臺(tái)擋板開(kāi)始在錐形激光器的輸出端面4濺射沉積非晶AlxNy薄膜,沉積時(shí)間共2861秒。采用上述方法鍍制輸出端面減反膜的錐形激光器具有M2因子小于2的光束質(zhì)量,通過(guò)鍍制低反射輸出端面抑制了錐形放大區(qū)2的光場(chǎng)畸變,提高了錐形激光器的光束質(zhì)量;通過(guò)非晶AlxNy薄膜對(duì)輸出端面4的鈍化,提高了腔面災(zāi)變功率水平,輸出功率大于12W。
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