[發明專利]一種陣列基板及其檢測方法

有效

• 申請號: 201410650209.2
• 申請日: 2014-11-14
• 公開（公告）號: CN104360504A
• 公開（公告）日: 2015-02-18
• 發明（設計）人: 王醉;羅時勲
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G01R31/02
• 代理公司: 北京聿宏知識產權代理有限公司 11372
• 代理人: 朱繪;張文娟

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，具體地說，涉及一種用于檢測顯示面板方法和顯示面板。

背景技術

在傳統的顯示面板線路設計中，通常會在顯示區域的外側設計有環繞面板的稱為短路桿(Shorting?Bar)的外圍走線，并將掃描線按照奇數(ODD)和偶數(EVEN)分別引出至外圍走線，即整個面板上的奇數和偶數掃描線在顯示區域的外圍各自短接在一起。這種設計是為了在TFT制程的檢測環節中，可以通過給奇數和偶數掃描線不同的電訊號來檢查顯示面板內是否存在短路或斷路的情況，配合不同的數據信號還可以檢查出其他類型的不良。短路桿(Shorting?Bar)在檢測后被斷開或去除，不會影響到成品的正常顯示。

為了改善垂直取向液晶顯示器在大視角出現的色偏現象，會采用充電共享(Charge?Sharing)的像素設計方案。圖1為現有技術中具有短路桿的充電共享陣列基板的線路結構示意圖。采用第N+2行充電掃描線(Charge?Gate?Line)信號來控制第N行電荷共享掃描線(Share?Gate?Line)的開啟和關閉。如果第N行的充電掃描線和電荷共享掃描線之間發生短路，由于第N行的共享掃描線與后面第N+2行的充電掃描線相連，使得二者在順序上皆為奇數或偶數，那么通過上述奇偶行分別引出短路桿的檢測方式并無法在TFT制程段檢出上述短路缺陷。只能依靠成盒(Cell)點燈甚至成品檢測的方式方能檢出，導致產品出現水平掃描線不良，良率降低。

現有技術中還提供一種在短路桿區域設置三條檢測線路的陣列基板，如圖2所示。檢測線路G1、G2和G3依次連接至顯示區域中的連續三行充電掃描線，并向三條檢測線路依次提供檢測信號。這種方案能夠檢測同一行中充電掃描線和電荷共享掃描線之間的短路缺陷，但檢測方式更加復雜、耗時更長。特別是產品批量生產量后，由于各項制程已逐步穩定，上述短路缺陷出現的幾率極低，繼續采用該方案就會導致檢測效率低下，影響產能。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是現有技術中TFT制程階段檢測方式單一，并不能根據產品生產各個時期的良率狀況切換檢測方式，檢測效率較低的缺陷。

為了解決上述技術問題，本申請的實施例提供一種陣列基板，包括：

顯示區，其包括若干行子區域，每行子區域設置充電線和共享線，每行子區域的的共享線連接至行號增加值為偶數的子區域的充電線；

檢測區，其包括第一至第六檢測線路，所述第一至第六檢測線路一一對應地連接至顯示區中的連續六行子區域的充電線；

其中，在第一檢測狀態下，將第一至第六檢測線路分成三組，依次向所述三組檢測線路提供第一檢測信號，以檢測每行子區域中充電線和共享線的線路缺陷；

在第二檢測狀態下，將第一至第六檢測線路分成兩組，依次向所述兩組檢測線路提供第二檢測信號，以檢測相鄰行子區域中充電線和共享線的線路缺陷。

在一個實施例中，在第一檢測狀態下，所述三組檢測線路分別為第一和第四檢測線路、第二和第五檢測線路、第三和第六檢測線路。

在一個實施例中，在第二檢測狀態下，所述兩組檢測線路分別為第一、第三和第五檢測線路，以及第二、第四和第六檢測線路。

在一個實施例中，所述第一檢測信號有效時，通過充電線接收到第一檢測信號的子區域的行號差值為3的倍數。

在一個實施例中，所述偶數為2或者4。

本申請的實施例還提供一種用于檢測陣列基板的方法，所述陣列基板包括顯示區和檢測區，所述顯示區包括若干行子區域，每行子區域設置充電線和共享線，每行子區域的的共享線連接至行號增加值為偶數的子區域的充電線；

所述檢測區包括第一至第六檢測線路，所述第一至第六檢測線路一一對應地連接至顯示區中的連續六行子區域的充電線；

所述方法包括以下步驟：

在第一檢測狀態下，將所述第一至第六檢測線路分成三組，依次向所述三組檢測線路提供第一檢測信號，以檢測每行子區域中充電線和共享線的線路缺陷；

在第二檢測狀態下，將所述第一至第六檢測線路分成兩組，依次向所述兩組檢測線路提供第二檢測信號，以檢測相鄰行子區域中充電線和共享線的線路缺陷。

在一個實施例中，在第一檢測狀態下，所述三組檢測線路分別為第一和第四檢測線路、第二和第五檢測線路、第三和第六檢測線路。

在一個實施例中，在第二檢測狀態下，所述兩組檢測線路分別為第一、第三和第五檢測線路，以及第二、第四和第六檢測線路。