[發(fā)明專利]一種陣列基板及其檢測(cè)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410650209.2
• 申請(qǐng)日: 2014-11-14
• 公開（公告）號(hào): CN104360504A
• 公開（公告）日: 2015-02-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王醉;羅時(shí)勲
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市華星光電技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G02F1/13
• 分類號(hào): G02F1/13;G01R31/02
• 代理公司: 北京聿宏知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11372
• 代理人: 朱繪;張文娟

1.一種陣列基板，其特征在于，包括：

顯示區(qū)，其包括若干行子區(qū)域，每行子區(qū)域設(shè)置充電線和共享線，每行子區(qū)域的的共享線連接至行號(hào)增加值為偶數(shù)的子區(qū)域的充電線；

檢測(cè)區(qū)，其包括第一至第六檢測(cè)線路，所述第一至第六檢測(cè)線路一一對(duì)應(yīng)地連接至顯示區(qū)中的連續(xù)六行子區(qū)域的充電線；

其中，在第一檢測(cè)狀態(tài)下，將第一至第六檢測(cè)線路分成三組，依次向所述三組檢測(cè)線路提供第一檢測(cè)信號(hào)，以檢測(cè)每行子區(qū)域中充電線和共享線的線路缺陷；

在第二檢測(cè)狀態(tài)下，將第一至第六檢測(cè)線路分成兩組，依次向所述兩組檢測(cè)線路提供第二檢測(cè)信號(hào)，以檢測(cè)相鄰行子區(qū)域中充電線和共享線的線路缺陷。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列基板，其特征在于，在第一檢測(cè)狀態(tài)下，所述三組檢測(cè)線路分別為第一和第四檢測(cè)線路、第二和第五檢測(cè)線路、第三和第六檢測(cè)線路。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列基板，其特征在于，在第二檢測(cè)狀態(tài)下，所述兩組檢測(cè)線路分別為第一、第三和第五檢測(cè)線路，以及第二、第四和第六檢測(cè)線路。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的陣列基板，其特征在于，所述第一檢測(cè)信號(hào)有效時(shí)，通過充電線接收到第一檢測(cè)信號(hào)的子區(qū)域的行號(hào)差值為3的倍數(shù)。

5.根據(jù)權(quán)利要求2至4中任一項(xiàng)所述的陣列基板，其特征在于，所述偶數(shù)為2或者4。

6.一種用于檢測(cè)陣列基板的方法，其特征在于，所述陣列基板包括顯示區(qū)和檢測(cè)區(qū)，所述顯示區(qū)包括若干行子區(qū)域，每行子區(qū)域設(shè)置充電線和共享線，每行子區(qū)域的的共享線連接至行號(hào)增加值為偶數(shù)的子區(qū)域的充電線；

所述檢測(cè)區(qū)包括第一至第六檢測(cè)線路，所述第一至第六檢測(cè)線路一一對(duì)應(yīng)地連接至顯示區(qū)中的連續(xù)六行子區(qū)域的充電線；

所述方法包括以下步驟：

在第一檢測(cè)狀態(tài)下，將所述第一至第六檢測(cè)線路分成三組，依次向所述三組檢測(cè)線路提供第一檢測(cè)信號(hào)，以檢測(cè)每行子區(qū)域中充電線和共享線的線路缺陷；

在第二檢測(cè)狀態(tài)下，將所述第一至第六檢測(cè)線路分成兩組，依次向所述兩組檢測(cè)線路提供第二檢測(cè)信號(hào)，以檢測(cè)相鄰行子區(qū)域中充電線和共享線的線路缺陷。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述方法，其特征在于，所述在第一檢測(cè)狀態(tài)下，所述三組檢測(cè)線路分別為第一和第四檢測(cè)線路、第二和第五檢測(cè)線路、第三和第六檢測(cè)線路。

8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，在所述第二檢測(cè)狀態(tài)下，所述兩組檢測(cè)線路分別為第一、第三和第五檢測(cè)線路，以及第二、第四和第六檢測(cè)線路。

9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，所述第一檢測(cè)信號(hào)有效時(shí)，通過充電線接收到第一檢測(cè)信號(hào)的子區(qū)域的行號(hào)差值為3的倍數(shù)。

10.根據(jù)權(quán)利要求7-9中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述偶數(shù)為2或者4。