[發明專利]一種微孔檢測裝置以及旋轉檢測系統

有效

• 申請號: 201410649688.6
• 申請日: 2014-11-14
• 公開（公告）號: CN104457510A
• 公開（公告）日: 2015-03-25
• 發明（設計）人: 肖湘杰;楊榮海;吳濤
• 申請（專利權）人: 深圳太辰光通信股份有限公司
• 主分類號: G01B5/12
• 分類號: G01B5/12;B07C5/06
• 代理公司: 深圳新創友知識產權代理有限公司 44223
• 代理人: 江耀純

技術領域

本發明涉及微孔檢測技術領域，尤其涉及一種用于檢測超硬材料器件精密微孔(例如陶瓷插芯內孔)的微孔檢測裝置以及旋轉檢測系統。

背景技術

陶瓷插芯或其它超硬材料器件的精密微孔(例如陶瓷插芯內孔為φ0.125^+0.001mm)的檢測一般是用針規(一種檢具)由人工進行檢測。針規分為柔性和剛性，由于檢測的孔徑非常小，針規都很細，而且：剛性針規較脆，檢測中極易折斷，而柔性針規在檢測中極易彎折、彎曲。因此，目前的檢測方法效率低，勞動強度大，檢測成本高；也正因為針規在檢測中極易折斷或彎曲、彎折，給這類產品的自動化檢測設備的開發帶來了一定的難度。

發明內容

本發明的目的之一在于提出一種微孔檢測裝置，以解決在檢測過程中柔性測針極易彎曲/彎折導致檢測出現偏差、檢測效率低下的技術問題。

本發明提供的微孔檢測裝置的技術方案如下：

一種微孔檢測裝置，用于檢測超硬材料工件的精密微孔，包括測針、測針保護機構、檢測力提供模塊、活動支架及感應模塊，所述測針保護機構包括活動式嵌套配合的固定機構和滑動機構，所述測針由上至下依次穿入所述滑動機構和所述固定機構，且所述滑動機構至少部分位于所述固定機構內；所述活動支架固定連接至所述滑動機構，并可帶動所述滑動機構上下移動，所述檢測力提供模塊固定連接于所述測針上并壓于所述滑動機構的上端面上，使得所述檢測力提供模塊隨所述滑動機構上下移動，所述測針與所述檢測力提供模塊一同上下移動；當所述活動支架向下移動時，所述滑動機構向下移動進入所述固定機構內，使得位于所述固定機構內的所述測針逐漸向下移動以穿入位于所述固定機構下方的待測工件的所述微孔內；當所述活動支架向上移動時，所述滑動機構向上移動，同時向上頂所述檢測力提供模塊以使所述測針從所述待測工件的所述微孔中抽出；所述感應模塊固定于所述活動支架上，用于感應所述測針是否產生相對于所述感應模塊的向上位移，以判斷所述測針是否穿過所述待測工件的所述微孔。在對例如陶瓷插芯等超硬材料工件的內孔進行精密微孔檢測時，一般采用針規進行人工穿插檢測，但是這種方法由于待測工件本身非常細小，而針規更加細，操作起來極其困難，導致檢測效率低下，而且針規成本高昂，為了降低成本，可以采用普通鋼絲，但是普通鋼絲屬于柔性檢具(測針)，人工檢測幾乎無法進行操作，正因為柔性檢具極易彎曲的特性導致其無法用于自動化檢測設備中。本方案提出了一種微孔檢測裝置，在該裝置中，通過測針保護機構將測針很好地保護起來，由于測針本身直徑非常小，同時滑動機構也較細，因此固定機構的內孔尺寸也比較接近測針的直徑，因此，在自動化設備的高速檢測中，當測針在穿插工件內孔時，由于孔徑過小而使測針受到較大的反向軸向力時，測針會反向(向上)運動，在固定機構和滑動機構的內壁阻擋下，測針不至于發生較大彎曲/彎折，因此通過感應模塊可以感應到測針相對于感應模塊產生了向上的位移，此時即表明測針沒能完全穿過工件內孔(即前述的微孔)。因此，可以將本裝置應用于自動化檢測設備中，從而大大提高檢測效率。另外，由于有測針保護機構的保護，在檢測過程中，可以使用較大的檢測力，因此檢測過程和檢測結果對于工件內孔的清潔度不敏感，測針可以將部分因雜質堵塞的內孔穿通。本裝置適用于柔性測針，也適用于剛性測針例如針規，但是柔性測針成本較低，而且可以實現自動切斷更新。

優選地，所述檢測力提供模塊為砝碼，所述感應模塊包括光纖，通過所述光纖感應所述砝碼是否產生相對于所述感應模塊的向上位移，以判斷所述測針是否產生相對于所述感應模塊的向上位移。

優選地，所述測針為柔性針規或剛性針規。

優選地，所述固定機構為筒狀固定套，所述滑動機構為筒狀滑動套，所述滑動套的外徑為所述測針直徑的2～3倍。

另，本發明還提供一種旋轉檢測系統，使用前述的微孔檢測裝置，對檢測超硬材料工件的精密微孔進行自動化檢測，并依微孔孔徑對工件進行分類。本方案提供的旋轉檢測系統如下：