[發明專利]一種微孔檢測裝置以及旋轉檢測系統

有效

• 申請號: 201410649688.6
• 申請日: 2014-11-14
• 公開（公告）號: CN104457510A
• 公開（公告）日: 2015-03-25
• 發明（設計）人: 肖湘杰;楊榮海;吳濤
• 申請（專利權）人: 深圳太辰光通信股份有限公司
• 主分類號: G01B5/12
• 分類號: G01B5/12;B07C5/06
• 代理公司: 深圳新創友知識產權代理有限公司 44223
• 代理人: 江耀純

1.一種微孔檢測裝置，用于檢測超硬材料工件的精密微孔，其特征在于：包括測針、測針保護機構、檢測力提供模塊、活動支架及感應模塊，所述測針保護機構包括活動式嵌套配合的固定機構和滑動機構，所述測針由上至下依次穿入所述滑動機構和所述固定機構，且所述滑動機構至少部分位于所述固定機構內；

所述活動支架固定連接至所述滑動機構，并可帶動所述滑動機構上下移動，所述檢測力提供模塊固定連接于所述測針上并壓于所述滑動機構的上端面上，使得所述檢測力提供模塊隨所述滑動機構上下移動，所述測針與所述檢測力提供模塊一同上下移動；

當所述活動支架向下移動時，所述滑動機構向下移動，使得位于所述固定機構內的所述測針逐漸向下移動以穿入位于所述固定機構下方的待測工件的所述微孔內；當所述活動支架向上移動時，所述滑動機構向上移動，同時向上頂所述檢測力提供模塊以使所述測針從所述待測工件的所述微孔中抽出；

所述感應模塊固定于所述活動支架上，用于感應所述測針是否產生相對于所述感應模塊的向上位移，以判斷所述測針是否穿過所述待測工件的所述微孔。

2.如權利要求1所述的微孔檢測裝置，其特征在于：所述檢測力提供模塊為砝碼，所述感應模塊包括光纖，通過所述光纖感應所述砝碼是否產生相對于所述感應模塊的向上位移，以判斷所述測針是否產生相對于所述感應模塊的向上位移。

3.如權利要求1所述的微孔檢測裝置，其特征在于：所述測針為柔性針規或剛性針規。

4.如權利要求1所述的微孔檢測裝置，其特征在于：所述固定機構為筒狀固定套，所述滑動機構為筒狀滑動套，所述滑動套的外徑為所述測針直徑的2～3倍。

5.一種旋轉檢測系統，用于檢測超硬材料工件的精密微孔，其特征在于：包括旋轉臺、支撐臺、進料器、微孔檢測裝置、出料器以及控制系統，所述微孔檢測裝置如權利要求1至4任一項所述；所述進料器具有放料口，所述出料器具有入口和出料嘴；

所述旋轉臺上圓周式均勻分布有多個用于固定待測工件的工件固定位，所述進料器、所述微孔檢測裝置和所述出料器固定于所述支撐臺上，分別形成進料工位、檢測工位和出料工位，并且所述放料口、所述固定機構和所述入口分別對準一個所述工件固定位，以使所述進料器通過所述放料口將所述待測工件放入所述工件固定位；

所述旋轉臺在所述控制系統的控制下間歇式旋轉，且每次旋轉的角度其中N為所述工件固定位的個數，以使位于所述工件固定位上的所述待測工件隨所述旋轉臺由所述進料器處旋轉至所述微孔檢測裝置處進行微孔檢測，再旋轉至所述出料器處并從所述入口離開所述旋轉臺；所述控制系統根據所述微孔檢測的結果控制所述出料嘴進行不同角度的間歇式轉動，以將來自所述入口的工件按照孔徑進行分類；

其中，N≥3，且N為整數。

6.如權利要求5所述的旋轉檢測系統，其特征在于：所述控制系統包括控制器、微電機、第一伺服電機和第二伺服電機；所述第一伺服電機在所述控制器的控制下帶動所述旋轉臺進行所述間歇式旋轉；所述控制器根據所述感應模塊的判斷結果控制所述第二伺服電機帶動所述出料嘴進行所述不同角度的間歇式轉動；所述微電機在所述控制器的控制下帶動所述活動支架上下移動以進行所述微孔檢測。

7.如權利要求6所述的旋轉檢測系統，其特征在于：所述工件固定位為所述旋轉臺上開設的移載孔，所述移載孔為通孔，且在所述移載孔的底部設有鏤空支撐架以承載所述待測工件；所述旋轉檢測系統還包括位于所述旋轉臺下方且正對所述入口的吹氣嘴，所述吹氣嘴在所述控制器的控制下間歇性向上吹氣以將工件吹入所述入口而進入所述出料器。

8.如權利要求7所述的旋轉檢測系統，其特征在于：所述出料嘴下方設有多個分檔格，所述出料嘴通過所述不同角度的間歇式轉動將不同孔徑范圍的工件放入相應的所述分檔格中，以進行所述分類。

9.如權利要求8所述的旋轉檢測系統，其特征在于：包括多個所述檢測工位和多個所述進料工位；每個所述檢測工位上的所述微孔檢測裝置具有預定直徑的所述測針，其中所述預定直徑等于所述不同孔徑范圍之間的分界值。

10.如權利要求7所述的旋轉檢測系統，其特征在于：所述檢測工位處設有第二感應模塊，位于所述移載孔下方，用于感應所述測針是否從所述待測工件的所述微孔通出，以判斷所述測針是否穿過所述待測工件的所述微孔。