[發(fā)明專(zhuān)利]IC卡高速扭曲測(cè)試裝置和方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410647559.3
• 申請(qǐng)日: 2014-11-14
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN105628525A
• 公開(kāi)（公告）日: 2016-06-01
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王順仁;馬振洲;陳召安;王璀;夏栩;劉鑫
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 航天信息股份有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01N3/34
• 分類(lèi)號(hào): G01N3/34
• 代理公司: 北京工信聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11266
• 代理人: 黃曉軍

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及IC卡(IntegratedCircuitCard，集成電路卡)測(cè)試技術(shù)領(lǐng) 域，尤其涉及一種IC卡高速扭曲測(cè)試裝置和方法。

背景技術(shù)

IC卡在我們的生活中使用越來(lái)越普遍，使用數(shù)量越來(lái)越大，但是在使用 過(guò)程中，經(jīng)常出現(xiàn)IC卡使用一段時(shí)間后不能繼續(xù)使用的現(xiàn)象。對(duì)損壞后返回 的IC卡進(jìn)行分析，除去人為損壞的IC卡，大部分是芯片虛接、虛焊或線圈變 形造成線與線之間虛接，造成IC卡使用一段時(shí)間后出現(xiàn)不能繼續(xù)使用的現(xiàn) 象。

目前，現(xiàn)有技術(shù)中的一種IC卡扭曲測(cè)試方法為：將IC卡放在兩個(gè)卡槽 中，通過(guò)兩個(gè)卡槽之間距離變化強(qiáng)迫IC卡彎曲變形，彎曲測(cè)試設(shè)備卡槽之間 距離變化的大小確定IC卡彎曲量的大小，卡彎曲量是兩個(gè)固定不變的參數(shù)。

上述現(xiàn)有技術(shù)中的IC卡扭曲測(cè)試方法的缺點(diǎn)為：該測(cè)試方法測(cè)試數(shù)量 少，測(cè)試誤差大，測(cè)試效率低，并且是破壞性測(cè)試，測(cè)試后就不能在成為產(chǎn) 品出廠。該方法對(duì)IC卡在生產(chǎn)過(guò)程中和出廠前進(jìn)行抽樣測(cè)試，能對(duì)批量生產(chǎn) 的IC卡進(jìn)行在線批量測(cè)試。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的實(shí)施例提供了一種IC卡高速扭曲測(cè)試裝置和方法，以實(shí)現(xiàn)對(duì)IC 卡進(jìn)行有效的扭曲測(cè)試。

本發(fā)明提供了如下方案：

一種IC卡高速?gòu)澢鷾y(cè)試裝置，包括：

四個(gè)從左到右排列的測(cè)試裝置和一個(gè)使中間兩個(gè)測(cè)試裝置進(jìn)行高度升降 的升降裝置，所述測(cè)試裝置包括兩個(gè)轉(zhuǎn)動(dòng)裝置和偏轉(zhuǎn)電機(jī)，所述兩個(gè)轉(zhuǎn)動(dòng)裝 置分別為定輪裝置和動(dòng)輪裝置，所述定輪裝置由定輪圓軸和帶動(dòng)定輪圓軸轉(zhuǎn) 動(dòng)的電機(jī)組成，所述動(dòng)輪裝置由動(dòng)輪圓軸和帶動(dòng)動(dòng)輪圓軸轉(zhuǎn)動(dòng)的電機(jī)組成。

所述各個(gè)測(cè)試裝置之間的距離間隔相同。

所述偏轉(zhuǎn)電機(jī)與所述動(dòng)輪裝置同心，所述偏轉(zhuǎn)電機(jī)通過(guò)連接裝置和所述 動(dòng)輪裝置連接。

所述升降裝置由升降電機(jī)或液壓裝置、升降桿和與中間兩個(gè)測(cè)試裝置的 連接梁組成。

當(dāng)所述各個(gè)測(cè)試裝置中的定輪圓軸和動(dòng)輪圓軸在電機(jī)的帶動(dòng)下自身轉(zhuǎn)動(dòng) 時(shí)，所述定輪圓軸順時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)，所述動(dòng)輪圓軸逆時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)；或者，所述定輪 圓軸逆時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)，所述動(dòng)輪圓軸順時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)。

一種IC卡高速?gòu)澢鷾y(cè)試方法，包括：

將IC卡設(shè)置在最左邊或者最右邊的測(cè)試裝置中的定輪圓軸和動(dòng)輪圓軸之 間的間隔中，所述各個(gè)測(cè)試裝置中的定輪圓軸和動(dòng)輪圓軸在電機(jī)的帶動(dòng)下自 身轉(zhuǎn)動(dòng)，利用摩擦力將所述IC卡向前移動(dòng)，使所述IC卡依次經(jīng)過(guò)各個(gè)測(cè)試裝 置；所述動(dòng)輪裝置還在所述偏轉(zhuǎn)電機(jī)的帶動(dòng)下與定輪裝置同心按圓周軌跡以 一定的角度做偏轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)，迫使IC卡按定輪圓軸的輪廓形狀彎曲。

所述中間兩個(gè)測(cè)試裝置的升降高度H由相鄰測(cè)試裝置之間的距離L、定 輪圓軸的半徑r和設(shè)定的動(dòng)輪偏轉(zhuǎn)角度θ確定，

H＝Ltanθ-2r[sinθcotan(90°-θ)+cosθ-1]。

所述IC卡彎曲量v由所述定輪圓軸的半徑r和所述動(dòng)輪偏轉(zhuǎn)角度θ確定，

所述的方法還包括：

將從左到右的4個(gè)測(cè)試裝置分別稱(chēng)為第一個(gè)測(cè)試裝置、第二個(gè)測(cè)試裝置、 第三個(gè)測(cè)試裝置和第四個(gè)測(cè)試裝置，當(dāng)IC卡由左向右傳輸時(shí)，第一個(gè)測(cè)試裝 置中的上部的轉(zhuǎn)動(dòng)裝置為定輪裝置，該定輪裝置逆時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)，下部的轉(zhuǎn)動(dòng)裝 置為動(dòng)輪裝置，該動(dòng)輪裝置順時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)，向右偏轉(zhuǎn)設(shè)定的動(dòng)輪偏轉(zhuǎn)角度θ；

第二個(gè)測(cè)試裝置中的上部的轉(zhuǎn)動(dòng)裝置為動(dòng)輪裝置，該動(dòng)輪裝置逆時(shí)針轉(zhuǎn) 動(dòng)，并且不發(fā)生偏轉(zhuǎn)，下部的轉(zhuǎn)動(dòng)裝置為定輪裝置，該定輪裝置順時(shí)針轉(zhuǎn) 動(dòng)；

第三個(gè)測(cè)試裝置中的上部的轉(zhuǎn)動(dòng)裝置為動(dòng)輪裝置，該動(dòng)輪裝置逆時(shí)針轉(zhuǎn) 動(dòng)，向右偏轉(zhuǎn)設(shè)定的動(dòng)輪偏轉(zhuǎn)角度θ，下部的轉(zhuǎn)動(dòng)裝置為定輪裝置，該定輪裝 置順時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)；

第四個(gè)測(cè)試裝置中的上部的轉(zhuǎn)動(dòng)裝置為定輪裝置，該定輪裝置逆時(shí)針轉(zhuǎn) 動(dòng)，下部的轉(zhuǎn)動(dòng)裝置為動(dòng)輪裝置，該動(dòng)輪裝置順時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)，不發(fā)生偏轉(zhuǎn)。

當(dāng)IC卡由右向左傳輸時(shí)，第四個(gè)測(cè)試裝置中的上部的轉(zhuǎn)動(dòng)裝置為定輪裝 置，該定輪裝置順時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)，下部的轉(zhuǎn)動(dòng)裝置為動(dòng)輪裝置，該動(dòng)輪裝置逆時(shí) 針轉(zhuǎn)動(dòng)，向左偏轉(zhuǎn)設(shè)定的動(dòng)輪偏轉(zhuǎn)角度θ；

第三個(gè)測(cè)試裝置中的上部的轉(zhuǎn)動(dòng)裝置為動(dòng)輪裝置，該動(dòng)輪裝置順時(shí)針轉(zhuǎn) 動(dòng)，并且不發(fā)生偏轉(zhuǎn)，下部的轉(zhuǎn)動(dòng)裝置為定輪裝置，該定輪裝置逆時(shí)針轉(zhuǎn) 動(dòng)。