[發明專利]IC卡高速扭曲測試裝置和方法在審
| 申請號: | 201410647559.3 | 申請日: | 2014-11-14 |
| 公開(公告)號: | CN105628525A | 公開(公告)日: | 2016-06-01 |
| 發明(設計)人: | 王順仁;馬振洲;陳召安;王璀;夏栩;劉鑫 | 申請(專利權)人: | 航天信息股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N3/34 | 分類號: | G01N3/34 |
| 代理公司: | 北京工信聯合知識產權代理事務所(普通合伙) 11266 | 代理人: | 黃曉軍 |
| 地址: | 100195 北京市*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | ic 高速 扭曲 測試 裝置 方法 | ||
1.一種IC卡高速彎曲測試裝置,其特征在于,包括:
四個從左到右排列的測試裝置和一個使中間兩個測試裝置進行高度升降 的升降裝置,所述測試裝置包括兩個轉動裝置和偏轉電機,所述兩個轉動裝 置分別為定輪裝置和動輪裝置,所述定輪裝置由定輪圓軸和帶動定輪圓軸轉 動的電機組成,所述動輪裝置由動輪圓軸和帶動動輪圓軸轉動的電機組成。
2.根據權利要求1所述的IC卡高速彎曲測試裝置,其特征在于,所述各 個測試裝置之間的距離間隔相同。
3.根據權利要求1所述的IC卡高速彎曲測試裝置,其特征在于,所述偏 轉電機與所述動輪裝置同心,所述偏轉電機通過連接裝置和所述動輪裝置連 接。
4.根據權利要求1所述的IC卡高速彎曲測試裝置,其特征在于,所述升 降裝置由升降電機或液壓裝置、升降桿和與中間兩個測試裝置的連接梁組 成。
5.根據權利要求1所述的IC卡高速彎曲測試裝置,其特征在于,當所述 各個測試裝置中的定輪圓軸和動輪圓軸在電機的帶動下自身轉動時,所述定 輪圓軸順時針轉動,所述動輪圓軸逆時針轉動;或者,所述定輪圓軸逆時針 轉動,所述動輪圓軸順時針轉動。
6.一種基于權利要求1至5任一項所述的裝置的IC卡高速彎曲測試方法, 其特征在于,包括:
將IC卡設置在最左邊或者最右邊的測試裝置中的定輪圓軸和動輪圓軸之 間的間隔中,所述各個測試裝置中的定輪圓軸和動輪圓軸在電機的帶動下自 身轉動,利用摩擦力將所述IC卡向前移動,使所述IC卡依次經過各個測試裝 置;所述動輪裝置還在所述偏轉電機的帶動下與定輪裝置同心按圓周軌跡以 一定的角度做偏轉運動,迫使IC卡按定輪圓軸的輪廓形狀彎曲。
7.根據權利要求6所述的方法,其特征在于,所述中間兩個測試裝置的 升降高度H由相鄰測試裝置之間的距離L、定輪圓軸的半徑r和設定的動輪偏 轉角度θ確定,
H=Ltanθ-2r[sinθcotan(90°-θ)+cosθ-1]。
8.根據權利要求6所述的方法,其特征在于,所述IC卡彎曲量v由所述定 輪圓軸的半徑r和所述動輪偏轉角度θ確定,
9.根據權利要求6或7或8所述的方法,其特征在于,所述的方法還包 括:
將從左到右的4個測試裝置分別稱為第一個測試裝置、第二個測試裝置、 第三個測試裝置和第四個測試裝置,當IC卡由左向右傳輸時,第一個測試裝 置中的上部的轉動裝置為定輪裝置,該定輪裝置逆時針轉動,下部的轉動裝 置為動輪裝置,該動輪裝置順時針轉動,向右偏轉設定的動輪偏轉角度θ;
第二個測試裝置中的上部的轉動裝置為動輪裝置,該動輪裝置逆時針轉 動,并且不發生偏轉,下部的轉動裝置為定輪裝置,該定輪裝置順時針轉 動;
第三個測試裝置中的上部的轉動裝置為動輪裝置,該動輪裝置逆時針轉 動,向右偏轉設定的動輪偏轉角度θ,下部的轉動裝置為定輪裝置,該定輪裝 置順時針轉動;
第四個測試裝置中的上部的轉動裝置為定輪裝置,該定輪裝置逆時針轉 動,下部的轉動裝置為動輪裝置,該動輪裝置順時針轉動,不發生偏轉。
10.根據權利要求6或7或8所述的方法,其特征在于,當IC卡由右向左傳 輸時,第四個測試裝置中的上部的轉動裝置為定輪裝置,該定輪裝置順時針 轉動,下部的轉動裝置為動輪裝置,該動輪裝置逆時針轉動,向左偏轉設定 的動輪偏轉角度θ;
第三個測試裝置中的上部的轉動裝置為動輪裝置,該動輪裝置順時針轉 動,并且不發生偏轉,下部的轉動裝置為定輪裝置,該定輪裝置逆時針轉 動。
第二個測試裝置中的上部的轉動裝置為動輪裝置,該動輪裝置順時針轉 動,向左偏轉設定的動輪偏轉角度θ,下部的轉動裝置為定輪裝置,該定輪裝 置逆時針轉動。
第一個測試裝置中的上部的轉動裝置為定輪裝置,該定輪裝置順時針轉 動,下部的轉動裝置為動輪裝置,該動輪裝置逆時針轉動,不發生偏轉。
11.根據權利要求6或7或8所述的方法,其特征在于,所述的方法還包 括:
將第一個IC卡高速彎曲測試裝置正向安裝,將第二個IC卡高速彎曲測試 裝置倒立反方向安裝,將IC卡從左向右或者從右向左同時經過所述第一個IC 卡高速彎曲測試裝置和第二個IC卡高速彎曲測試裝置,同時對所述IC卡進行 雙面彎曲測試。
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