[發明專利]X射線分析裝置及X射線檢測方法

有效

• 申請號: 201410641399.1
• 申請日: 2014-11-13
• 公開（公告）號: CN104656114B
• 公開（公告）日: 2018-08-10
• 發明（設計）人: 作村拓人;中江保一;前山正孝;松下一之
• 申請（專利權）人: 株式會社理學
• 主分類號: G01T1/00
• 分類號: G01T1/00
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 趙琳琳

本發明提供一種輻射線檢測器、使用其的X射線分析裝置及輻射線檢測方法，能夠維持輻射線連續入射的曝光狀態而不會產生空載時間地檢測輻射線。輻射線檢測器(100)與外部設備(200)同步地檢測輻射線，具備：在輻射線的粒子被檢測到時產生脈沖的傳感器(110)；被設置成能計數脈沖的多個計數器(140a、140b)；以及在從外部設備(200)接受了同步信號時切換多個計數器(140a、140b)之中對脈沖進行計數的計數器的控制電路(160)。

技術領域

本發明涉及與外部設備同步地檢測輻射線的輻射線檢測器、使用其的X射線分析裝置及輻射線檢測方法。

背景技術

以往，作為輻射線檢測器而采用CCD檢測器。CCD檢測器在數據讀出過程中需要一定的時間，若在數據讀出時進行曝光，則因檢測畫面的位置而使曝光時間產生偏差。因這種緣故，CCD的曝光準備完備后以自快門打開、快門關閉到進行數據讀出的順序來進行曝光。例如，在專利文獻1的圖4中記載有使用了CCD檢測器的X射線單晶構造解析方法的快門定時。

如上所述，在CCD檢測器中，由于在檢測時伴隨著快門的開閉，因此無法實施無快門測量。在單晶構造解析中的測量之中，在一次的測量工藝過程中若在使晶體旋轉的同時拍攝幾百～幾千張圖像，則每當拍攝時都要開閉快門，在時間上成為較大的損失。

再有，在不具備緩沖器功能的普通的半導體檢測器中，存在讀出時間。在讀出時間內無法進行數據曝光，縱使進行了無快門測量，也會產生數據的缺損時間。

針對這種以快門開閉為前提的現有技術，提出在快門打開的狀態保持不變的情況下使用CMOS檢測器來檢測X射線的方法。在非專利文獻1中提出使用X射線CMOS檢測器的高速、高精度的新的衍射數據測量方法。在非專利文獻1所記載的方法中，在快門打開的狀態保持不變的情況下使晶體連續地旋轉，并以一定的時間間隔讀取衍射圖像。再有，在非專利文獻1中雖然也記載著連續樣品旋轉模式，但如圖3所示作為讀出(readout)而言存在空載時間。

另一方面，公開了利用從檢測器實施多行讀出的技術。在專利文獻2中記載著將二維圖像檢測部的數據分為奇數行和偶數行而向兩個儲存區域讀出的方法。再有，在專利文獻3中記載著在二維圖像檢測部的連續曝光中多次進行各受光元件的讀出動作。

專利文獻

專利文獻1：JP特開2003-75373號公報

專利文獻2：JP特開平10-126692號公報

專利文獻3：專利第2830482號公報

非專利文獻

非專利文獻1：Kazuya Hasegawa，Kunio Hirata，Tetsuya Shimizu，NobutakaShimizu，Takaaki Hikima，Seiki Baba，Takashi Kumasaka and Masaki Yamamoto，″Development of a shutterless continuous rotation method using an X-ray CMOSdetector for protein crystallography，Journal of Applied Crystallography，2009，42，1165-1175

非專利文獻2：Gregor Hulsen，Christian Broennimann，Eric F.Eikenberry andArmin Wagner，″Protein crystallography with a novel large-area pixeldetector，Journal of Applied Crystallography，2006，39，550-557