[發明專利]X射線分析裝置及X射線檢測方法有效
| 申請號： | 201410641399.1 | 申請日： | 2014-11-13 |
| 公開（公告）號： | CN104656114B | 公開（公告）日： | 2018-08-10 |
| 發明（設計）人： | 作村拓人;中江保一;前山正孝;松下一之 | 申請（專利權）人： | 株式會社理學 |
| 主分類號： | G01T1/00 | 分類號： | G01T1/00 |
| 代理公司： | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人： | 趙琳琳 |
| 地址： | 日本國*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 輻射 檢測器 使用 射線 分析 裝置 檢測 方法 | ||
1.一種X射線分析裝置，連續地檢測X射線，所述X射線分析裝置的特征在于具備：
X射線源，連續地照射X射線；
樣品臺，載置解析對象；
臂，與所述樣品臺聯動；
控制部，對所述樣品臺以及所述臂的動作進行控制以使得所述臂繞著所述解析對象旋轉；和
輻射線檢測器，具備：傳感器，在檢測到X射線時產生脈沖；多個計數器，被設置成能對所述脈沖進行計數；和控制電路，將所述臂或者所述解析對象的移動的控制信號作為觸發信號，在接受到觸發信號的定時，切換所述多個計數器之中對所述脈沖進行計數的計數器，并進行連續曝光，并且所述輻射線檢測器被設置在所述臂的端部。
2.根據權利要求1所述的X射線分析裝置，其特征在于，還具備：
讀出電路，在接受所述觸發信號的定時之間，從之前剛剛結束所述計數的計數器進行讀出。
4.根據權利要求1或2所述的X射線分析裝置，其特征在于，
作為所述多個計數器而具備三個以上的計數器。
5.一種X射線檢測方法，連續地檢測X射線，所述X射線檢測方法的特征在于包括：
在從X射線源連續地照射出X射線的狀態下，對載置解析對象的樣品臺以及與所述樣品臺聯動的臂的動作進行控制以使得所述臂繞著所述解析對象旋轉，并且利用被設置多個的計數器之中的一個計數器對在檢測到X射線時產生的脈沖進行計數的步驟；
將所述臂或者所述解析對象的移動的控制信號作為觸發信號，在接受到觸發信號的定時，切換被設置成能計數所述脈沖的多個計數器之中對所述脈沖進行計數的計數器的步驟；和
與所述計數器的切換同時地從之前剛剛結束計數的計數器讀出計數數據的步驟，
反復進行一系列步驟，直到測量結束為止。
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