[發明專利]一種基于DSP的晶圓偏心在線檢測裝置及方法在審
| 申請號: | 201410637193.1 | 申請日: | 2014-11-12 |
| 公開(公告)號: | CN105655266A | 公開(公告)日: | 2016-06-08 |
| 發明(設計)人: | 鄒風山;李崇;張峰;宋吉來;陳守良;韓志平 | 申請(專利權)人: | 沈陽新松機器人自動化股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/66 | 分類號: | H01L21/66 |
| 代理公司: | 沈陽科苑專利商標代理有限公司 21002 | 代理人: | 許宗富 |
| 地址: | 110168 遼*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 dsp 偏心 在線 檢測 裝置 方法 | ||
技術領域
本發明涉及檢測技術領域,特別涉及一種基于DSP的晶圓偏心在線檢測裝 置及方法。
背景技術
晶圓偏心在線檢測,一般采用檢測光的跳變的點數方法或基于線陣CCD的 檢測方法。
通過檢測光的跳變的點數確定晶圓的偏心,該裝置通常由單個激光二極管 和一個接收器組成。該裝置結構簡單,但機械手在運動中,晶圓邊緣的運動曲 線跟圓形相差較大,易發生晶圓偏心現象且出現偏心的差值較大,從而導致檢 測成功率低。
檢測光的跳變的點數法,要實現較高檢測成功率,必須建立坐標系,判斷 晶圓的中心和真空吸盤中心的偏差,控制x軸、y軸的電機運動,保證激光二極 管照射方向相切到晶圓邊緣內部,這樣將增加機械設計的復雜度,檢測時間長, 同時相對提高了成本。
基于線陣CCD的檢測方法,該裝置由線陣CCD、二值化電路、時鐘驅動電路、 CPLD和MCU等組成。線性CCD信號的實際波形表現為類似一條正弦曲線,否則 其表現為標準波形,通過兩種波形的比較可以得到晶圓的偏心。上述方法可以 較精確地將晶圓放到吸盤的中心,與激光二極管檢測法相比大大縮短了檢測的 時間,提高檢測的成功率。
基于線陣CCD的檢測方法,機械結構相對檢測光的跳變的點數方法要復雜, 檢測時間較短,但仍無法及時判斷機械手在運行時手上晶片破損、嚴重偏位 (>5mm)、掉片等異常情況的發生。
發明內容
本發明旨在克服現有晶圓偏心檢測技術的缺陷,提高檢測成功率,提供一 種基于DSP的晶圓偏心在線檢測裝置及方法。
為實現上述目的,本發明采用以下技術方案:
一方面,本發明提供一種基于DSP的晶圓偏心在線檢測裝置,用于檢測晶 圓偏心,包括:機器人控制器、真空機械手、第一傳感器、第二傳感器、工位、 晶圓放置區和晶圓獲取區;所述機器人控制器與所述真空機械手相連;所述第 一傳感器、第二傳感器與所述機器人控制器相連,且所述第一傳感器、第二傳 感器前后布置在傳輸路徑上,所述傳輸路徑為所述真空機械手將晶圓傳送至工 位的路徑;所述晶圓放置區、晶圓獲取區提供真空機械手晶圓的放置處及晶圓 的獲取區域。
一些實施例中,所述第一傳感器、第二傳感器采用驅動器IO采集。
一些實施例中,還包括高速光耦,所述第一傳感器、第二傳感器經所述高 速光耦與所述機器人控制器相連。
再另一方面,本發明提供一種晶圓偏心在線檢測裝置的方法,包括,
S1、所述真空機械手從晶圓獲取區獲取晶圓;
S2、所述真空機械手向晶圓放置區方向傳送晶圓往復運動N次;
S3、所述晶圓每次往返運動中四次觸發所述第一傳感器和第二傳感器,獲 得采樣點;
S4、記錄所述采樣點的位置信息并鎖存;
S5、根據三點確定圓,獲得一組圓心和半徑數組;
S6、標準圓選取,并通過所述圓心與標準圓心比較,最終求得偏差值。
S7、根據已知數據獲取每一組數據的偏心方差值,在標定范圍內,進行偏 差糾正操作,糾正后的晶圓經所述真空機械手將晶圓放置在晶圓放置區;
S8、所述晶圓放置區檢查到有晶圓被送入時,傳感器信號翻轉,此時真空 機械手重新運動到晶圓獲取區獲取新的晶圓。
一些實施例中,所述三點確定圓為,
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





