[發明專利]一種用于漏磁檢測的雙勵磁單元

有效

• 申請號: 201410624324.2
• 申請日: 2014-11-07
• 公開（公告）號: CN104330462A
• 公開（公告）日: 2015-02-04
• 發明（設計）人: 盧永雄;阮鷗;吳路明;劉潤浥
• 申請（專利權）人: 西紅柿科技（武漢）有限公司
• 主分類號: G01N27/83
• 分類號: G01N27/83
• 代理公司: 北京匯澤知識產權代理有限公司 11228
• 代理人: 張瑾

技術領域

本發明屬于磁探傷技術領域，尤其涉及一種用于漏磁檢測的雙勵磁單元。

背景技術

漏磁檢測技術，通過檢測待測樣品的漏磁來檢測待測樣品。當缺陷存在時，缺陷本身的磁導率μ和周圍樣品的磁導率不同，這種待測樣品中局部的磁導率的不均勻性，也就是導磁能力的不均勻性，引起了待測樣品的局域漏磁。為實現缺陷引起的漏磁的最大化，通常要求待測樣品的飽和磁化。當待測樣品飽和磁化時，缺陷引起的漏磁就更明顯，其缺陷的磁導率的差異就更顯著。

文獻中偶見雙勵磁單元或者多勵磁單元技術。但是，這些文獻中要解決的問題和本發明不同，因而其多勵磁單元的布局也不同。為了檢測待測樣品中橫向和縱向的缺陷，一種常見的布局是兩套勵磁單元和磁敏器件成90度布置。在檢測時，可能存在的橫向或者縱向缺陷特別是裂紋，先后經過縱向和橫向的磁場檢測，而更明顯的被檢測出來。這種布局利用了兩個或者多個勵磁單元，實際上是兩套或多套獨立的檢測系統，成90度布置。雖然這樣的布置能一次性檢測橫向和縱向的缺陷，但是，待測樣品沿一個方向的飽和磁化依然是個問題，特別是待測樣品比較厚大的時候。

另外一種具有磁場疊加效果的技術方案，是在直流性的鐵磁勵磁單元的基礎上，在兩個磁極加上交流電磁線圈。這樣的方案，在總體效果上，相當于直流加交流，兩個勵磁場的疊加，同時作用于兩個磁極之間的待測樣品。這個方案要解決的是探測深度的問題，因而在勵磁單元中引入交流成分，利用交流磁場隨頻率的趨膚效應(skin?effect)，達到可以調控檢測深度的目的。隨之而來的問題是，勵磁單元中交流成分的頻率和總體勵磁單元的大小尺寸的矛盾。勵磁單元比較大，或者說需要的磁場比較大的情況下，交流磁場的頻率就不能很高。

綜上，現有技術中缺少一種對厚大型待測樣品進行漏磁檢測的方法或裝置。

發明內容

本發明實施例的目的在于提供一種用于漏磁檢測的雙勵磁單元，以解決現有技術缺少對厚大型待測樣品進行漏磁檢測的方法或裝置的問題。

本發明實施例是這樣實現的，一種用于漏磁檢測的雙勵磁單元，包括：均為U形結構的主勵磁單元(1)和次勵磁單元(2)，所述U形主勵磁單元(1)和所述次勵磁單元(2)在一個平面內并且開口方向相同，所述開口方向垂直于所述待測樣品(4)的平面；

所述主勵磁單元(1)為所述待測樣品(4)提供直流勵磁磁場，所述次勵磁單元(2)位于所述主勵磁單元(1)的U形結構內，所述對待測樣品(4)進行漏磁檢測時，根據所述次勵磁單元(2)位置的不同對應的測量的磁場的變化情況確定所述次勵磁單元(2)的放置位置和所述缺陷(5)的位置，所述次勵磁單元(2)為所述待測樣品(4)的所述缺陷(5)位置處提供一個局域的附加勵磁磁場。

本發明實施例提供的一種用于漏磁檢測的雙勵磁單元的有益效果包括：

本發明實施例提供的一種用于漏磁檢測的雙勵磁單元，分離了主勵磁單元和次勵磁單元，主勵磁單元為待測樣品提供直流勵磁磁場，次勵磁單元為待測樣品提供一個特定的局域的附加勵磁磁場，進行局域的磁場疊加，降低了整體飽和磁化磁場的需求，滿足對比較厚的待測樣品進行飽和磁化的要求，同時降低了勵磁單元的大小，并且通過實際測量得到的數據結構證實其效果，因此特別適用于高鐵、地鐵等鋼軌、石油管道以及重型裝備的在線無損檢測的漏磁檢測儀。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單的介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本發明實施例提供的用于漏磁檢測的雙勵磁單元的結構示意圖；

圖2所示為本發明實施例提供的勵磁單元在提升19mm時的磁場分布示意圖；

圖3所示為本發明實施例提供的勵磁單元在提升1mm時的磁場分布示意圖；

圖4是本發明實施例提供的用于漏磁檢測的雙勵磁單元中的水平和垂直測量路徑示意圖；

圖5是本發明實施例提供的A點在不同的次勵磁單元的提升高度的情況下對應的不同的磁通密度示意圖；

圖6是本發明實施例提供的B和C點在不同的次勵磁單元的提升高度的情況下對應的不同的磁通密度示意圖；

圖7是本發明實施例提供的沿水平測量路徑上各點測量到的總磁場、X分量和Y分量隨次勵磁單元的高度提升的變化示意圖；

1為主勵磁單元，2為次勵磁單元，3為磁罩，4為待測樣品，5為缺陷。

具體實施方式