[發明專利]一種用于漏磁檢測的雙勵磁單元

有效

• 申請號: 201410624324.2
• 申請日: 2014-11-07
• 公開（公告）號: CN104330462A
• 公開（公告）日: 2015-02-04
• 發明（設計）人: 盧永雄;阮鷗;吳路明;劉潤浥
• 申請（專利權）人: 西紅柿科技（武漢）有限公司
• 主分類號: G01N27/83
• 分類號: G01N27/83
• 代理公司: 北京匯澤知識產權代理有限公司 11228
• 代理人: 張瑾

1.一種用于漏磁檢測的雙勵磁單元，其特征在于，所述雙勵磁單元包括均為U形結構的主勵磁單元(1)和次勵磁單元(2)，所述U形主勵磁單元(1)和所述次勵磁單元(2)在一個平面內并且開口方向相同，所述開口方向垂直于所述待測樣品(4)的平面；

所述主勵磁單元(1)為所述待測樣品(4)提供直流勵磁磁場，所述次勵磁單元(2)位于所述主勵磁單元(1)的U形結構內，所述對待測樣品(4)進行漏磁檢測時，根據所述次勵磁單元(2)位置的不同對應的測量的磁場的變化情況確定所述次勵磁單元(2)的放置位置和所述缺陷(5)的位置，所述次勵磁單元(2)為所述待測樣品(4)的所述缺陷(5)位置處提供一個局域的附加勵磁磁場。

2.如權利要求1所述的雙勵磁單元，其特征在于，所述主勵磁單元(1)為永磁鐵，所述次勵磁單元(2)為永磁鐵或電磁鐵。

3.如權利要求1所述的雙勵磁單元，其特征在于，所述主勵磁單元(1)和所述次勵磁單元(2)組合使用電磁鐵和永磁鐵。

4.如權利要求1所述的雙勵磁單元，其特征在于，所述雙勵磁單元還包括磁罩(3)，所述磁罩(3)位于所述U形次勵磁單元(2)的U形結構內，置于所述待測樣品(4)的表面。

5.如權利要求1所述的雙勵磁單元，其特征在于，

所述主勵磁單元(1)高度：60mm；長度：120mm；厚度：60mm；

所述次勵磁單元(2)高度：15mm；長度：24mm；厚度：20mm。