[發明專利]智能按鍵檢測系統及其使用方法

在審

• 申請號: 201410615860.6
• 申請日: 2014-11-05
• 公開（公告）號: CN104375081A
• 公開（公告）日: 2015-02-25
• 發明（設計）人: 胡克飛
• 申請（專利權）人: 浙江杭一電器有限公司
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及檢測系統領域，尤其涉及智能按鍵檢測系統及其使用方法。

背景技術

????目前市面上，用于遙控板上的按鍵檢測的方法都為人工一個個按鍵檢測過去；遙控板上的按鍵很多，這樣的工作方式效率太低，影響到產量及人力成本；且手工在測按鍵時會出現人為誤差，影響檢測結果。

發明內容

本發明的目的在于提供智能按鍵檢測系統，其用智能檢測的方式代替了純手工一個個點位測試的方式，大大增加了按鍵檢測的工作效率，節省了人力物力的成本。

為了達到上述目的，本發明的技術方案是：

智能按鍵檢測系統，包括主MCU和從MCU，所述主MCU的I/O口和從MCU的I/O口雙向通信連接，所述從MCU與I/O擴展IC端口通過線路連接，所述I/O擴展IC端口與模擬開關IC通過線路連接，所述模擬開關IC與測試夾具通過線路連接，所述測試夾具與主MCU通過線路連接。

所述測試夾具包括支架，所述支架與氣缸相連，所述支架上安裝有金屬探針，所述金屬探針分別與限位傳感器、模擬開關IC相連，所述限位傳感器、氣缸均與主MCU相連。

智能按鍵檢測系統的使用方法，包括如下步驟：1）在主MIC設置待檢測按鍵的數量、按鍵按下的時間、兩個按鍵按下的間隔時間并將信號發送給從MCU；2）從MCU接收由主MCU發送的待檢測按鍵的數量、按鍵按下的時間、兩個按鍵按下的間隔時間信號，控制I/O擴展IC以一個I/O口控制多個模擬開關IC（4）；同時，主MCU控制氣缸，使夾具上的金屬探針去接觸待測按鍵；3）模擬開關IC的輸出端控制金屬探針的通電開關，金屬探針接觸被檢測按鍵的按鍵點位，通過限位傳感器觸發主MCU，進行檢測，當主MCU上的綠燈亮時，按鍵點位無故障；當紅燈亮時按鍵點位存在故障。

本發明的有益效果是：本發明其用智能檢測的方式代替了純手工一個個點位測試的方式，大大增加了按鍵檢測的工作效率，節省了人力物力的成本。

附圖說明

圖1為本發明的結構示意圖。

具體實施方式

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實施例1

如圖1所示的智能按鍵檢測系統，包括主MCU1和從MCU2，所述主MCU1的I/O口和從MCU2的I/O口雙向通信連接，所述從MCU與I/O擴展IC端口3通過線路連接，所述I/O擴展IC端口3與模擬開關IC4通過線路連接，所述模擬開關IC4與測試夾具5通過線路連接，所述測試夾具5與主MCU1通過線路連接。

所述測試夾具包括支架6，所述支架6與氣缸7相連，所述支架6上安裝有金屬探針8，所述金屬探針8分別與限位傳感器9、模擬開關IC4相連，所述限位傳感器8、氣缸7均與主MCU1相連。

智能按鍵檢測系統的使用方法，包括如下步驟：1）在主MIC1設置待檢測按鍵10的數量、按鍵按下的時間、兩個按鍵按下的間隔時間并將信號發送給從MCU2；2）從MCU2接收由主MCU1發送的待檢測按鍵10的數量、按鍵按下的時間、兩個按鍵按下的間隔時間信號，控制I/O擴展IC以一個I/O口控制多個模擬開關IC4；同時，主MCU1控制氣缸7，使夾具5上的金屬探針8去接觸待測按鍵10；3）模擬開關IC4的輸出端控制金屬探針8的通電開關，金屬探針8接觸被檢測按鍵10的按鍵點位，通過限位傳感器9觸發主MCU1，進行檢測，當主MCU1上的綠燈亮時，按鍵點位無故障；當紅燈亮時按鍵點位存在故障。

本實施例的智能按鍵檢測系統，其用智能檢測的方式代替了純手工一個個點位測試的方式，大大增加了按鍵檢測的工作效率，節省了人力物力的成本。