[發明專利]智能按鍵檢測系統及其使用方法

在審

• 申請號: 201410615860.6
• 申請日: 2014-11-05
• 公開（公告）號: CN104375081A
• 公開（公告）日: 2015-02-25
• 發明（設計）人: 胡克飛
• 申請（專利權）人: 浙江杭一電器有限公司
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.智能按鍵檢測系統，其特征在于：包括主MCU（1）和從MCU（2），所述主MCU（1）的I/O口和從MCU（2）的I/O口雙向通信連接，所述從MCU與I/O擴展IC端口（3）通過線路連接，所述I/O擴展IC端口（3）與模擬開關IC（4）通過線路連接，所述模擬開關IC（4）與測試夾具（5）通過線路連接，所述測試夾具（5）與主MCU（1）通過線路連接。

2.根據權利要求1所述的智能按鍵檢測系統，其特征在于：所述測試夾具（5）包括支架（6），所述支架（6）與氣缸（7）相連，所述支架（6）上安裝有金屬探針（8），所述金屬探針（8）分別與限位傳感器（9）、模擬開關IC（4）相連，所述限位傳感器（9）、氣缸（7）均與主MCU（1）相連。

3.智能按鍵檢測系統的使用方法，其特征在于，包括如下步驟：1）在主MIC（1）設置待檢測按鍵（10）的數量、按鍵按下的時間、兩個按鍵按下的間隔時間并將信號發送給從MCU（2）；2）從MCU（2）接收由主MCU（1）發送的待檢測按鍵（10）的數量、按鍵按下的時間、兩個按鍵按下的間隔時間信號，控制I/O擴展IC以一個I/O口控制多個模擬開關IC（4）；同時，主MCU（1）控制氣缸（7），使夾具（5）上的金屬探針（8）去接觸待測按鍵（10）；3）模擬開關IC（4）的輸出端控制金屬探針（8）的通電開關，金屬探針（8）接觸被檢測按鍵（10）的按鍵點位，通過限位傳感器（9）觸發主MCU（1），進行檢測，當主MCU（1）上的綠燈亮時，按鍵點位無故障；當紅燈亮時按鍵點位存在故障。