[發(fā)明專利]自動(dòng)化檢測(cè)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410609209.8 | 申請(qǐng)日: | 2014-10-31 |
| 公開(公告)號(hào): | CN105629909A | 公開(公告)日: | 2016-06-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王敏政;顧剛濤 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 群創(chuàng)光電股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G05B19/418 | 分類號(hào): | G05B19/418;G01R31/00;G01M11/00;G09G3/36 |
| 代理公司: | 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127 | 代理人: | 郭曉宇 |
| 地址: | 中國臺(tái)灣新竹*** | 國省代碼: | 中國臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 自動(dòng)化 檢測(cè) 方法 | ||
1.一種自動(dòng)化檢測(cè)方法,其特征在于,包括以下步驟:
由一第一自動(dòng)取料裝置將至少一面板移動(dòng)至一第一檢測(cè)工站,以自動(dòng)化進(jìn)行所述 面板的點(diǎn)亮檢測(cè);
將所述面板與至少一偏光板及至少一電路板組合而得到一顯示模塊,并由一第二 自動(dòng)取料裝置將所述顯示模塊移動(dòng)至一第二檢測(cè)工站,以自動(dòng)化進(jìn)行所述顯示模塊的 光學(xué)檢測(cè)及點(diǎn)亮檢測(cè);以及
將所述顯示模塊與一背光模塊組合而得到一顯示裝置,并由一第三自動(dòng)取料裝置 將所述顯示裝置移動(dòng)至一第三檢測(cè)工站,以自動(dòng)化進(jìn)行所述顯示裝置的點(diǎn)亮檢測(cè)。
2.如權(quán)利要求1所述的自動(dòng)化檢測(cè)方法,其特征在于,所述面板承載于一卡匣 內(nèi),或一托盤內(nèi),或一輸送帶上,并通過所述第一自動(dòng)取料裝置移動(dòng)至所述第一檢測(cè) 工站。
3.如權(quán)利要求1所述的自動(dòng)化檢測(cè)方法,其特征在于,所述第一自動(dòng)取料裝置 為一四軸或六軸的機(jī)械手臂。
4.如權(quán)利要求1所述的自動(dòng)化檢測(cè)方法,其特征在于,于所述第一檢測(cè)工站自 動(dòng)化進(jìn)行所述面板的點(diǎn)亮檢測(cè),包含以下步驟:
通過所述第一自動(dòng)取料裝置將所述面板移動(dòng)至一定位除塵裝置,以對(duì)所述面板進(jìn) 行除塵并定位;
通過一移載裝置將已除塵及定位后的所述面板移到一點(diǎn)亮檢測(cè)裝置,以通過所述 點(diǎn)亮檢測(cè)裝置對(duì)所述面板進(jìn)行點(diǎn)亮檢測(cè);
當(dāng)所述面板的檢測(cè)為正常時(shí),更通過所述移載裝置將檢測(cè)正常的所述面板移動(dòng)至 一正常區(qū);及
當(dāng)所述面板的檢測(cè)為不正常時(shí),更通過所述移載裝置將檢測(cè)不正常的所述面板移 動(dòng)至一待復(fù)驗(yàn)區(qū)。
5.如權(quán)利要求1所述的自動(dòng)化檢測(cè)方法,其特征在于,所述第二自動(dòng)取料裝置 包含一第一托盤升降裝置及一輸送帶,所述第一托盤升降裝置移動(dòng)至少一托盤,且所 述輸送帶在所述第二檢測(cè)工站內(nèi)承載及移動(dòng)所述托盤。
6.如權(quán)利要求5所述的自動(dòng)化檢測(cè)方法,其特征在于,于所述第二檢測(cè)工站自 動(dòng)化進(jìn)行所述顯示模塊的點(diǎn)亮檢測(cè),包含以下步驟:
通過所述第一托盤升降裝置將所述托盤由一第一位置移到一第二位置,其中于所 述第二位置時(shí),所述托盤內(nèi)承載所述顯示模塊;
通過所述輸送帶將內(nèi)含有所述顯示模塊的所述托盤由所述第二位置移動(dòng)至一電 連接裝置,以通過多個(gè)電連接元件通過所述電路板電連接所述顯示模塊;
通過所述輸送帶將所述托盤移動(dòng)到一光學(xué)檢測(cè)裝置,以通過所述光學(xué)檢測(cè)裝置對(duì) 所述顯示模塊進(jìn)行光學(xué)檢測(cè);
通過所述輸送帶將所述托盤移動(dòng)到一點(diǎn)亮檢測(cè)裝置,以通過所述點(diǎn)亮檢測(cè)裝置對(duì) 所述顯示模塊進(jìn)行點(diǎn)亮檢測(cè);
通過一噴碼裝置對(duì)托盤的所述顯示模塊進(jìn)行噴碼,以區(qū)別正?;虍惓5娘@示模 塊;
通過所述輸送帶將所述托盤移動(dòng)至一電分離裝置,并將所述些電連接元件與所述 顯示模塊進(jìn)行分離,且由所述托盤內(nèi)取出所述顯示模塊;及
通過所述輸送帶將空的所述托盤移動(dòng)至一第二托盤升降裝置,并通過所述第二托 盤升降裝置將所述托盤由一第三位置移到至一第四位置,且通過所述輸送帶將所述托 盤由所述第四位置移動(dòng)到所述第一托盤升降裝置的所述第一位置。
7.如權(quán)利要求1所述的自動(dòng)化檢測(cè)方法,其特征在于,于所述第三自動(dòng)取料裝 置將所述顯示裝置移動(dòng)至所述第三檢測(cè)工站之前,更包含以下步驟:
通過一裝載裝置的一第一取放料機(jī)構(gòu)于一輸送帶上將所述顯示裝置取出,并置放 于所述裝載裝置的一定位承載機(jī)構(gòu)上進(jìn)行定位;
將所述顯示裝置移動(dòng)至一熱壓裝置,以通過一熱壓工藝將所述電路板連結(jié)于所述 背光模塊的背面;
將所述顯示裝置移動(dòng)至一易撕貼裝置,以通過一易撕貼工藝將所述顯示裝置貼上 一層易撕貼材;
將所述顯示裝置移動(dòng)至一貼黑膠裝置,以通過一貼黑膠工藝將所述顯示裝置的所 述電路板貼上黑膠;及
將所述顯示裝置移動(dòng)至一面壓裝置,以通過一面壓工藝降低所述顯示模塊與所述 背光模塊之間的間隙。
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