[發明專利]測試單元、陣列基板和顯示面板

有效

• 申請號: 201410602731.3
• 申請日: 2014-10-31
• 公開（公告）號: CN104298039A
• 公開（公告）日: 2015-01-21
• 發明（設計）人: 張逵
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;北京京東方顯示技術有限公司
• 主分類號: G02F1/1362
• 分類號: G02F1/1362;G02F1/13;H01L27/12
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 彭瑞欣;陳源

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，具體涉及一種測試單元、包括該測試單元的陣列基板和包括該陣列基板的顯示面板。

背景技術

薄膜晶體管液晶顯示器(Thin?Film?Transistor?Liquid?Crystal?Display，TFT-LCD)的主體結構包括液晶面板和背光源，液晶面板包括對盒的陣列基板、彩膜基板以及設置在其間的液晶層。

在顯示器的制作過程中，需要對陣列基板以及液晶盒進行測試。陣列基板上設置有與數據線一一對應的信號線11，陣列測試(Array?test)時，可以將信號線11按照排列順序分為奇數信號線和偶數信號線，并設置第一測試線21和第二測試線22分別為奇數信號線和偶數信號線提供測試信號。液晶盒測試(cell?test)時，通過與每條信號線11對應的引針(pin)輸入測試信號，測試信號相同的信號線11與同一條短路線31短接，例如，可以設置六條短路線31，與第一條短路線31相連的信號線分別為第1條、第7條、第13條……信號線；與第二條短路線31相連的信號線分別為第2條、第8條、第14條信號線，并按此規則完成所有信號線11與短路線31的連接，如圖1所示。

但是，在圖1中，第一測試線21、第二測試線22以及短路線31沿信號線11的長度方向依次排列，信號線在第二測試線22與短路線31之間的部分較長，占用的了較大的面積，從而減少了陣列基板上用于排布數據線和柵線的布線空間，而金屬線布置密集將導致靜電擊穿發生的可能性。

發明內容

本發明的目的在于提供一種測試單元、一種包括該測試單元的陣列基板和一種包括該陣列基板的顯示面板，所述測試單元所占用的寬度較小，因而陣列基板上數據線和柵線的布線區域較大，從而減小靜電擊穿現象的發生。

為了實現上述目的，本發明提供一種測試單元，包括多條信號線、短路結構和測試結構，所述短路結構包括多條短路線，每條短路線用于連接顏色相同、極性相同的子像素對應的信號線，所述測試結構包括至少一條測試線，其中，所述短路結構設置在信號線的一端，所述短路結構與所述測試結構相連。

優選地，所述測試結構包括多條測試線，所述多條短路線被分為多個短路線組，多個短路線組與多條測試線對應相連。

優選地，所述多條測試線包括第一測試線和第二測試線，所述多個短路線組包括由奇數行的短路線組成的奇數短路線組和由偶數行的短路線組成的偶數短路線組，所述奇數短路線組中的每條短路線與所述第一測試線相連，所述偶數短路線組中的每條短路線與所述第二測試線相連。

優選地，所述短路結構包括六條短路線。

優選地，所述測試單元還包括多條第一連接線和多條第二連接線，多條所述第一連接線分別用于連接所述奇數短路線中的多條短路線與所述第一測試線，多條所述第二連接線分別用于連接所述偶數短路線組中的多條短路線與所述第二測試線。

優選地，多條所述短路線設置在同一層，所述短路線上方設置有第一絕緣層，

所述第一連接線設置在所述短路線下方的層中，且所述短路線在所述第一連接線所在的層上的投影與所述第一連接線不重疊，所述第一連接線和所述短路線之間設置有第二絕緣層，所述第一絕緣層的與所述奇數短路線組中的每條短路線對應位置處設置有第一過孔，所述第二絕緣層和所述第一絕緣層的與每條所述第一連接線對應位置處設置有第二過孔，所述測試單元還包括第一連接件，所述第一連接件通過所述第二過孔和所述第一過孔將所述第一連接線與相對應短路線電連接；和/或

所述第二連接線設置在所述短路線下方的層中，且所述短路線在所述第二連接線所在層上的投影與所述第二連接線不重疊，所述第二連接線和所述短路線之間設置有第三絕緣層，所述第一絕緣層的與所述偶數短路線組中的每條短路線對應位置處設置有第三過孔，所述第一絕緣層和所述第三絕緣層的與每條第二連接線對應位置設置有第四過孔，所述測試單元還包括第二連接件，所述第二連接件通過所述第四過孔和所述第三過孔將所述第二連接線與相對應的短路線電連接。

優選地，多條所述短路線設置在同一層，