[發明專利]測試單元、陣列基板和顯示面板有效
| 申請號: | 201410602731.3 | 申請日: | 2014-10-31 |
| 公開(公告)號: | CN104298039A | 公開(公告)日: | 2015-01-21 |
| 發明(設計)人: | 張逵 | 申請(專利權)人: | 京東方科技集團股份有限公司;北京京東方顯示技術有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/1362 | 分類號: | G02F1/1362;G02F1/13;H01L27/12 |
| 代理公司: | 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112 | 代理人: | 彭瑞欣;陳源 |
| 地址: | 100015 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 測試 單元 陣列 顯示 面板 | ||
1.一種測試單元,包括多條信號線、短路結構和測試結構,所述短路結構包括多條短路線,每條短路線用于連接顏色相同、極性相同的子像素對應的信號線,所述測試結構包括至少一條測試線,其特征在于,所述短路結構設置在信號線的一端,所述短路結構與所述測試結構相連。
2.根據權利要求1所述的測試單元,其特征在于,所述測試結構包括多條測試線,所述多條短路線被分為多個短路線組,多個短路線組與多條測試線對應相連。
3.根據權利要求2所述的測試單元,其特征在于,所述多條測試線包括第一測試線和第二測試線,所述多個短路線組包括由奇數行的短路線組成的奇數短路線組和由偶數行的短路線組成的偶數短路線組,所述奇數短路線組中的每條短路線與所述第一測試線相連,所述偶數短路線組中的每條短路線與所述第二測試線相連。
4.根據權利要求3所述的測試單元,其特征在于,所述短路結構包括六條短路線。
5.根據權利要求3所述的測試單元,其特征在于,所述測試單元還包括多條第一連接線和多條第二連接線,多條所述第一連接線分別用于連接所述奇數短路線中的多條短路線與所述第一測試線,多條所述第二連接線分別用于連接所述偶數短路線組中的多條短路線與所述第二測試線。
6.根據權利要求5所述的測試單元,其特征在于,多條所述短路線設置在同一層,所述短路線上方設置有第一絕緣層,
所述第一連接線設置在所述短路線下方的層中,且所述短路線在所述第一連接線所在的層上的投影與所述第一連接線不重疊,所述第一連接線和所述短路線之間設置有第二絕緣層,所述第一絕緣層的與所述奇數短路線組中的每條短路線對應位置處設置有第一過孔,所述第二絕緣層和所述第一絕緣層的與每條所述第一連接線對應位置處設置有第二過孔,所述測試單元還包括第一連接件,所述第一連接件通過所述第二過孔和所述第一過孔將所述第一連接線與相對應短路線電連接;和/或
所述第二連接線設置在所述短路線下方的層中,且所述短路線在所述第二連接線所在層上的投影與所述第二連接線不重疊,所述第二連接線和所述短路線之間設置有第三絕緣層,所述第一絕緣層的與所述偶數短路線組中的每條短路線對應位置處設置有第三過孔,所述第一絕緣層和所述第三絕緣層的與每條第二連接線對應位置設置有第四過孔,所述測試單元還包括第二連接件,所述第二連接件通過所述第四過孔和所述第三過孔將所述第二連接線與相對應的短路線電連接。
7.根據權利要求5所述的測試單元,其特征在于,多條所述短路線設置在同一層,
所述第一連接線設置在所述短路線上方的層中,且所述第一連接線在所述短路線所在層上的投影與所述短路線不重疊,所述第一連接線和所述短路線之間設置有第一絕緣層,所述第一連接線上方設置有第二絕緣層,所述第一絕緣層和所述第二絕緣層的與所述奇數短路線組中的每條短路線對應位置處設置有第一過孔,所述第二絕緣層的與每條所述第一連接線對應位置處設置有第二過孔,所述測試單元還包括第一連接件,所述第一連接件通過所述第二過孔和所述第一過孔將所述第一連接線與相對應短路線電連接;和/或
所述第二連接線設置在所述短路線上方的層中,且所述第二連接線在所述短路線所在層上的投影與所述短路線不重疊,所述第二連接線和所述短路線之間設置有第三絕緣層,所述第二連接線上方設置有第四絕緣層,所述第四絕緣層和所述第三絕緣層的與所述偶數短路線組中的每條短路線對應位置處設置有第三過孔,所述第四絕緣層的與每條第二連接線對應位置設置有第四過孔,所述測試單元還包括第二連接件,所述第二連接件通過所述第四過孔和所述第三過孔將所述第二連接線與相對應的短路線電連接。
8.根據權利要求6或7所述的測試單元,其特征在于,制成所述第一連接件和所述第二連接件的材料包括透明電極材料。
9.一種陣列基板,包括顯示區和環繞該顯示區設置的非顯示區,所述顯示區內設置有多條數據線和多條柵線,所述非顯示區內設置有測試單元,其特征在于,所述測試單元包括多條信號線、短路結構和測試結構,所述短路結構包括多條短路線,每條短路線用于連接顏色相同、極性相同的子像素對應的信號線,所述測試結構包括至少一條測試線,其中,所述短路結構設置在信號線的一端,多條所述短路結構與所述測試結構相連。
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