[發明專利]一種測量TGY培養基中U(VI)和U(IV)含量的方法有效
| 申請號: | 201410597337.5 | 申請日: | 2014-10-30 |
| 公開(公告)號: | CN104360011A | 公開(公告)日: | 2015-02-18 |
| 發明(設計)人: | 陳曉明;劉小玲;羅學剛;阮晨;廖祥兵;王丹;唐運來 | 申請(專利權)人: | 西南科技大學 |
| 主分類號: | G01N31/22 | 分類號: | G01N31/22;G01N21/31;G01N21/78 |
| 代理公司: | 成都九鼎天元知識產權代理有限公司 51214 | 代理人: | 卿誠;呂玲 |
| 地址: | 621000 四川*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 測量 tgy 培養基 vi iv 含量 方法 | ||
1.一種測量TGY培養基中U(VI)和U(IV)含量的方法,其特征在于包括以下步驟:
步驟S1、制作U(VI)的標準曲線;
步驟S2、利用U(VI)制備U(IV),在6?mol/L?的HCl介質中,以鋅粒為還原劑,制備出等濃度的U(IV);?
步驟S3、取等濃度的U(VI)和U(IV)混合培養基,采用偶氮胂Ⅲ分光光度法測量其中U(VI)的含量;?
步驟S4、選擇氧化U(IV)為總鈾的濃硝酸用量,分別采取不同用量濃硝酸對TGY培養基中的U(IV)進行趕酸氧化;?
步驟S5、采用濃硝酸將U(IV)氧化成U(VI),利用偶氮胂Ⅲ顯色劑顯色和0.4?mol/L氯乙酸-0.4?mol/L氯乙酸鈉緩沖液定容,測量U(VI),即總鈾含量,在含U(VI)和U(IV)的混合體系中,利用總U減去U(VI)從而可間接計算出U(IV)的含量。
2.根據權利要求1所述的測量TGY培養基中U(VI)和U(IV)含量的方法,其特征在于步驟S1中所述的制作U(VI)的標準曲線的具體步驟為:取1000?mg/L的U(VI)2?mL,然后用去離子水定容至50?mL,配制成40?mg/L的U(VI),向8支10mL的比色管中,分別加入40?mg/L的0?mL、0.2?mL、0.4?mL、0.6?mL、0.8?mL、1.0?mL、1.5?mL、2?mL,以及質量百分含量為0.05%的偶氮胂Ⅲ顯色劑1mL,并采用緩沖液定容至10?mL,充分搖勻,靜置30?min,于652?nm處測量吸光度。
3.根據權利要求1所述的測量TGY培養基中U(VI)和U(IV)含量的方法,其特征在于所述的步驟S2中利用U(VI)制備U(IV),其反應條件為:在6?mol/L?的HCl介質中,以鋅粒為還原劑,U(VI)初始濃度為10?mg/L,鋅粒濃度為12?g/L,反應時間為180?min,制備出與U(VI)等濃度的U(IV)。
4.根據權利要求1所述的測量TGY培養基中U(VI)和U(IV)含量的方法,其特征在于所述的步驟S3中采用偶氮胂Ⅲ分光光度法測量U(VI)的具體步驟為:取2?mL樣品,即等濃度的U(VI)和U(IV)混合培養基,加入1?mL?質量百分含量為0.05%偶氮胂Ⅲ顯色液,并采用0.4?mol/L氯乙酸-0.4?mol/L氯乙酸鈉緩沖液定容至10?mL,靜置30?min,在波長652?nm處測量其吸光度。
5.根據權利要求1所述的測量TGY培養基中U(VI)和U(IV)含量的方法,其特征在于所述的步驟S4中所述的利用總U量測定U(VI)的含量的具體步驟為:取2?mL樣品,即含等濃度U(VI)和U(IV)?的TGY培養基,采用1?mL濃硝酸加熱趕酸,在常溫下用電爐加熱使其保持微沸狀態,直到出現白色殘渣為止,用去離子水溶解白色殘渣并定容至5?mL,用偶氮胂Ⅲ分光光度法測試U(VI)的含量,此為總U量,在含U(VI)和U(IV)體系中U(IV)的含量由兩者的差值得出。
6.根據權利要求1所述的測量TGY培養基中U(VI)和U(IV)含量的方法,其特征在于步驟S5所述的濃硝酸的質量百分含量為65%-68%。
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