[發明專利]CMOS圖像傳感器產品的CP測試裝置

在審

• 申請號: 201410589973.3
• 申請日: 2014-10-28
• 公開（公告）號: CN104297660A
• 公開（公告）日: 2015-01-21
• 發明（設計）人: 馮建中
• 申請（專利權）人: 北京思比科微電子技術股份有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 北京凱特來知識產權代理有限公司 11260
• 代理人: 鄭立明;趙鎮勇

技術領域

本發明涉及一種WAFER測試裝置，尤其涉及一種CMOS圖像傳感器產品的CP測試裝置。

背景技術

如圖1所示，CMOS圖像傳感器產品的WAFER測試(CP測試),需要在探針卡(PROBE?CARD)上安裝鏡頭(PUPIL?LENS)，才能保證測試的準確性。

現有技術中的方式是固定焦距的鏡頭，調試效率低、測試成本高。

發明內容

本發明的目的是提供一種調試效率高、測試成本低的CMOS圖像傳感器產品的CP測試裝置。

本發明的目的是通過以下技術方案實現的：

本發明的CMOS圖像傳感器產品的CP測試裝置，包括探針卡，所述探針卡上設有自動對焦的鏡頭組件，所述自動對焦的鏡頭組件包括鏡頭，所述鏡頭連接有自動馬達，所述自動馬達與所述探針卡連接。

由上述本發明提供的技術方案可以看出，本發明實施例提供的CMOS圖像傳感器產品的CP測試裝置，由于探針卡上設有自動對焦的鏡頭組件，提高了調試的效率、降低了測試的成本。

附圖說明

圖1為現有技術中CMOS圖像傳感器產品的CP測試裝置的探針卡的組裝結構示意圖；

圖2為本發明實施例中自動對焦的鏡頭組件的結構示意圖。

圖中：1、鏡頭，2、自動馬達，3、FPC柔性電路板，4、探針卡。

具體實施方式

下面將對本發明實施例作進一步地詳細描述。

本發明的CMOS圖像傳感器產品的CP測試裝置，其較佳的具體實施方式如圖2所示：

包括探針卡，所述探針卡上設有自動對焦的鏡頭組件，所述自動對焦的鏡頭組件包括鏡頭，所述鏡頭連接有自動馬達，所述自動馬達與所述探針卡連接。

所述自動馬達通過FPC柔性電路板與所述探針卡連接。

本發明的CMOS圖像傳感器產品的CP測試裝置，將固定焦距的鏡頭換成自動對焦的鏡頭組件，通過FPC柔性電路板，將控制信號引到探針卡上，可以自動控制鏡頭的焦距，極大的提高了調試的效率、降低了測試的成本。

以上所述，僅為本發明較佳的具體實施方式，但本發明的保護范圍并不局限于此，任何熟悉本技術領域的技術人員在本發明披露的技術范圍內，可輕易想到的變化或替換，都應涵蓋在本發明的保護范圍之內。因此，本發明的保護范圍應該以權利要求書的保護范圍為準。