[發(fā)明專利]CMOS圖像傳感器產(chǎn)品的CP測(cè)試裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410589973.3 | 申請(qǐng)日: | 2014-10-28 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104297660A | 公開(公告)日: | 2015-01-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馮建中 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京思比科微電子技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/26 | 分類號(hào): | G01R31/26 |
| 代理公司: | 北京凱特來(lái)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11260 | 代理人: | 鄭立明;趙鎮(zhèn)勇 |
| 地址: | 100085 北京市海*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | cmos 圖像傳感器 產(chǎn)品 cp 測(cè)試 裝置 | ||
1.一種CMOS圖像傳感器產(chǎn)品的CP測(cè)試裝置,其特征在于,包括探針卡,所述探針卡上設(shè)有自動(dòng)對(duì)焦的鏡頭組件,所述自動(dòng)對(duì)焦的鏡頭組件包括鏡頭,所述鏡頭連接有自動(dòng)馬達(dá),所述自動(dòng)馬達(dá)與所述探針卡連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的CMOS圖像傳感器產(chǎn)品的CP測(cè)試裝置,其特征在于,所述自動(dòng)馬達(dá)通過(guò)FPC柔性電路板與所述探針卡連接。
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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