[發(fā)明專利]測(cè)試電路中的多個(gè)模塊的測(cè)試方法和測(cè)試設(shè)備

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410586635.4
• 申請(qǐng)日: 2014-10-28
• 公開（公告）號(hào): CN105629148B
• 公開（公告）日: 2018-08-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王柳笛;董菲;龔書;呂寅鵬;李海龍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 國(guó)際商業(yè)機(jī)器公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105
• 代理人: 于小寧

1.一種用于測(cè)試電路中的多個(gè)模塊的測(cè)試設(shè)備，所述多個(gè)模塊具有相同的結(jié)構(gòu)，所述測(cè)試設(shè)備包括：

比較裝置，被配置為收集通過(guò)將激勵(lì)信號(hào)并行施加于所述多個(gè)模塊而由所述多個(gè)模塊產(chǎn)生的輸出響應(yīng)，比較所述多個(gè)模塊的輸出響應(yīng)以確定所述多個(gè)模塊的輸出響應(yīng)是否相同，并且輸出該比較裝置的比較結(jié)果,其中，所述比較裝置依序?qū)⑺龆鄠€(gè)模塊的輸出響應(yīng)兩兩地進(jìn)行比較，以確定所述多個(gè)模塊的輸出響應(yīng)是否相同；以及

確定裝置，被配置為接收該比較裝置的比較結(jié)果，并且根據(jù)該比較裝置的比較結(jié)果來(lái)確定所述多個(gè)模塊是否具有缺陷；

其中，所述確定裝置響應(yīng)于被比較的兩個(gè)模塊的輸出響應(yīng)相同，確定這兩個(gè)模塊不具有缺陷；

以及其中，所述確定裝置響應(yīng)于被比較的兩個(gè)模塊的輸出響應(yīng)不同，確定這兩個(gè)模塊中的至少一個(gè)模塊具有缺陷；

并且其中，所述確定裝置響應(yīng)于被比較的兩個(gè)模塊的輸出響應(yīng)不同，并且這兩個(gè)模塊中的一個(gè)模塊與所述多個(gè)模塊中除了這兩個(gè)模塊之外的某個(gè)模塊的輸出響應(yīng)相同，確定這兩個(gè)模塊中的另一模塊具有缺陷。

2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試設(shè)備，其中，所述多個(gè)模塊包含具有相同結(jié)構(gòu)的掃描鏈，所述掃描鏈包含至少一個(gè)掃描寄存器，并且其中所述激勵(lì)信號(hào)被并行施加到所述多個(gè)模塊的掃描鏈。

3.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試設(shè)備，其中，所述比較裝置包括針對(duì)每?jī)蓚€(gè)模塊設(shè)置在所述電路中的異或門，用于比較這兩個(gè)模塊的輸出響應(yīng)。

4.如權(quán)利要求3所述的測(cè)試設(shè)備，還包括：

存儲(chǔ)裝置，被配置為存儲(chǔ)通過(guò)依序?qū)⑺龆鄠€(gè)模塊的輸出響應(yīng)兩兩地進(jìn)行比較而產(chǎn)生的比較結(jié)果，以便將該比較結(jié)果提供給所述確定裝置。

5.如權(quán)利要求4所述的測(cè)試設(shè)備，其中，所述存儲(chǔ)裝置包括與每個(gè)異或門相關(guān)聯(lián)地設(shè)置的或門和D觸發(fā)器寄存器，所述或門的一個(gè)輸入端連接到相關(guān)聯(lián)的異或門的輸出端，所述或門的另一個(gè)輸入端連接到所述D觸發(fā)器寄存器的輸出端，所述或門的輸出端連接到所述D觸發(fā)器寄存器的輸入端。

6.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試設(shè)備，其中，該測(cè)試設(shè)備被包含在所述電路中。

7.一種用于測(cè)試電路中的多個(gè)模塊的測(cè)試方法，所述多個(gè)模塊具有相同的結(jié)構(gòu)，所述測(cè)試方法包括：

收集通過(guò)將激勵(lì)信號(hào)并行施加于所述多個(gè)模塊而由所述多個(gè)模塊產(chǎn)生的輸出響應(yīng)；

比較所述多個(gè)模塊的輸出響應(yīng)以確定所述多個(gè)模塊的輸出響應(yīng)是否相同，其中，所述比較所述多個(gè)模塊的輸出響應(yīng)以確定所述多個(gè)模塊的輸出響應(yīng)是否相同包括依序?qū)⑺龆鄠€(gè)模塊的輸出響應(yīng)兩兩地進(jìn)行比較，以確定所述多個(gè)模塊的輸出響應(yīng)是否相同；以及

根據(jù)所述比較的結(jié)果來(lái)確定所述多個(gè)模塊是否具有缺陷，其中，所述根據(jù)所述比較的結(jié)果來(lái)確定所述多個(gè)模塊是否具有缺陷包括：

響應(yīng)于被比較的兩個(gè)模塊的輸出響應(yīng)相同，確定這兩個(gè)模塊不具有缺陷；

響應(yīng)于被比較的兩個(gè)模塊的輸出響應(yīng)不同，確定這兩個(gè)模塊中的至少一個(gè)具有缺陷；

響應(yīng)于被比較的兩個(gè)模塊的輸出響應(yīng)不同，并且這兩個(gè)模塊中的一個(gè)模塊與所述多個(gè)模塊中除了這兩個(gè)模塊之外的某個(gè)模塊的輸出響應(yīng)相同，確定這兩個(gè)模塊中的另一模塊具有缺陷。

8.如權(quán)利要求7所述的測(cè)試方法，其中，所述多個(gè)模塊包含具有相同結(jié)構(gòu)的掃描鏈，所述掃描鏈包含至少一個(gè)掃描寄存器，并且其中所述激勵(lì)信號(hào)被并行施加到所述多個(gè)模塊的掃描鏈。

9.如權(quán)利要求7所述的測(cè)試方法，其中，使用針對(duì)每?jī)蓚€(gè)模塊設(shè)置的異或門來(lái)比較這兩個(gè)模塊的輸出響應(yīng)。

10.如權(quán)利要求9所述的測(cè)試方法，還包括：

存儲(chǔ)通過(guò)依序?qū)⑺龆鄠€(gè)模塊的輸出響應(yīng)兩兩地進(jìn)行比較而產(chǎn)生的比較結(jié)果，以便在確定所述多個(gè)模塊是否具有缺陷時(shí)使用。