[發明專利]測試電路中的多個模塊的測試方法和測試設備

有效

• 申請號: 201410586635.4
• 申請日: 2014-10-28
• 公開（公告）號: CN105629148B
• 公開（公告）日: 2018-08-28
• 發明（設計）人: 王柳笛;董菲;龔書;呂寅鵬;李海龍
• 申請（專利權）人: 國際商業機器公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 于小寧

本發明公開了一種用于測試電路中的多個模塊的測試設備和測試方法，所述多個模塊具有相同的結構。所述測試設備包括：比較裝置，被配置為收集通過將激勵信號并行施加于所述多個模塊而由所述多個模塊產生的輸出響應，比較所述多個模塊的輸出響應以確定所述多個模塊的輸出響應是否相同，并且輸出指示該比較裝置的比較結果的信號；以及確定裝置，被配置為接收所述信號，并且根據該比較裝置的比較結果來確定所述多個模塊是否具有缺陷。利用所述測試設備和測試方法，可以簡化對于所述多個具有相同結構的模塊的測試過程，提高測試效率。

技術領域

本發明涉及電路(例如芯片)的可測試性設計的領域，更具體地，涉及一種測試電路中的多個模塊的測試方法和測試設備，所述多個模塊具有相同的結構。

背景技術

為了提高電路測試的效率，在電路設計階段，在電路中增加可用于測試該電路的硬件邏輯，這被稱為電路的可測性設計(DFT，Design for testability)。目前，主流的DFT方法是掃描測試法，其目的在于找出電路的制造缺陷(例如不期望的短路、斷路等)，而非驗證電路的功能。在這種方法中，在設計電路時，將電路中的寄存器替換為具有掃描輸入端口和掃描輸出端口的掃描寄存器。在測試電路時，可以將電路中的所有掃描寄存器連接為掃描鏈。然后，可以將通過自動掃描模式生成(ATPG)工具生成的一個或多個測試模式(testpattern)對應的激勵信號分別輸入到掃描鏈中。如本領域公知的，每個測試模式可用于測試例如一種電路缺陷，并且包括要施加到電路的激勵信號和電路響應于該激勵信號的施加而應當產生的預期輸出響應。這樣，通過確定掃描鏈的輸出響應是否與各個測試模式對應的預期輸出響應一致，可以確定所述電路是否具有對應的缺陷。

在所設計的電路中，常常會使用多個具有相同結構的模塊(或稱為重復使用的模塊)，例如知識產權核(IP core)、認知計算電路中的神經元模塊等。隨著電路規模的增大，在電路中使用的具有相同結構的模塊的數量也越來越多。在現有的DFT方法中，將這些模塊與其他模塊無區別地對待，而沒有根據這些模塊的特點(即，“相同”)來調整該電路的測試方法，因而測試效率不高。

發明內容

本發明的實施例提出了測試電路中的多個具有相同結構的模塊的測試設備和測試方法，其能夠簡化對于所述多個具有相同結構的模塊的測試過程，提高測試效率。

根據本發明的一個方面，提供了一種用于測試電路中的多個模塊的測試設備，所述多個模塊具有相同的結構，所述測試設備包括：比較裝置，被配置為收集通過將激勵信號并行施加于所述多個模塊而由所述多個模塊產生的輸出響應，比較所述多個模塊的輸出響應以確定所述多個模塊的輸出響應是否相同，并且輸出該比較裝置的比較結果；以及確定裝置，被配置為接收所述比較結果，并且根據該比較裝置的比較結果來確定所述多個模塊是否具有缺陷。

根據本發明的另一個方面，提供了一種用于測試電路中的多個模塊的測試方法，所述多個模塊具有相同的結構，所述測試方法包括：收集通過將激勵信號并行施加于所述多個模塊而由所述多個模塊產生的輸出響應；比較所述多個模塊的輸出響應以確定所述多個模塊的輸出響應是否相同；以及根據所述比較的結果來確定所述多個模塊是否具有缺陷。

根據本發明的另一個方面，提供了一種用于測試電路中的多個模塊的測試設備，所述多個模塊具有相同的結構，所述測試設備可以執行根據本發明上述方面的測試方法。

利用根據本發明上述方面的測試設備和測試方法，當電路包括多個具有相同結構的模塊時，可以將激勵信號并行地施加到各個模塊上，并且根據各個模塊的輸出響應是否相同來確定這些模塊是否具有缺陷。這樣，可以并行地測試所述多個模塊，從而可以提高測試效率。此外，由于所述多個模塊可以共用一個或多個測試模式，因此上述測試設備和測試方法可以簡化所述模塊的測試過程。

附圖說明

通過結合附圖對本公開示例性實施方式進行更詳細的描述，本公開的上述以及其它目的、特征和優勢將變得更加明顯，其中，在本公開示例性實施方式中，相同的參考標號通常代表相同部件。