[發明專利]平板探測器的使用方法和控制裝置

有效

• 申請號: 201410579442.6
• 申請日: 2014-10-24
• 公開（公告）號: CN104320595B
• 公開（公告）日: 2017-07-28
• 發明（設計）人: 姬長勝;J·S·墨子
• 申請（專利權）人: 上海聯影醫療科技有限公司
• 主分類號: H04N5/32
• 分類號: H04N5/32;H04N5/225
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及探測器技術領域，尤其涉及一種平板探測器的使用方法和控制裝置。

背景技術

平板探測器(Flat Panel Detector，FPD)是由精密電子元器件構成的成像探測設備，能夠通過面陣探測器，將放射線透照物體后生成的圖像信號轉換成易于存儲和處理，并且符合一定標準的數字圖像。

在平板探測器的使用過程中，隨著接受劑量的增加，會出現老化，性能變差等現象。由于平板探測器的價格非常昂貴，因此如何提高平板探測器的壽命，在降低成本方面就顯得非常重要。

發明內容

本發明實施例解決的問題是如何提高平板探測器的使用壽命。

為解決上述問題，本發明實施例提供一種平板探測器的使用方法，包括：計算第k次照射在所述平板探測器上的使用面積；根據預估的所述平板探測器有效面積上探測單元累計所接受的劑量以及所述使用面積，確定第k次照射的所述使用面積在所述平板探測器的有效面積上的位置分布范圍，使所述平板探測器的有效面積上所接受的累積劑量均勻。

可選的，所述計算第k次照射在所述平板探測器上的使用面積包括：根據第k次照射確定的射野、照射源到所述平板探測器的距離以及照射源到被照射物的距離，計算本次照射在所述平板探測器上的使用面積。

可選的，根據預估的所述平板探測器有效面積上探測單元累計所接受的劑量以及所述使用面積，確定第k次照射的所述使用面積在所述平板探測器的有效面積上的位置分布范圍包括：檢測當所述射野的中心在所述平板探測器上的不同探測單元時，所述平板探測器的有效面積上探測單元累計所接受的劑量；選取使所述平板探測器所接受的累計劑量最平均時射野中心所在的探測單元，作為所述射野的中心在平板探測器上的位置；根據所述射野的中心在平板探測器上的位置以及所述使用面積，劃定第k次照射的所述使用面積在所述平板探測器的有效面積上的位置分布范圍。

可選的，通過公式依次計算所述射野的中心在每個探測單元上時，各探測單元所接受的累計劑量的均方差；其中，所述TD_k(i，j)為所述平板探測器有效面積上的探測單元(i，j)在第k次照射成像后所接受的累積劑量；所述為所述平板探測器各探測單元在第k次照射成像后所接受的平均累計劑量；所述i，j均為正整數。

可選的，所述平板探測器有效面積上的探測單元(i，j)在第k次照射成像后所接受的累積劑量，通過TD_k-1(i，j)+I(i，j)_k/G_k計算；其中，TD_k-1(i，j)為所述平板探測器有效面積上的探測單元(i，j)在第k次成像前累積接受的劑量；I(i，j)_k為第k次成像中所述探測單元(i，j)的預估成像灰度值；G_k為第k次成像中的平板探測器增益。

可選的，檢測當所述射野的中心在所述平板探測器上的不同探測單元時，所述平板探測器的有效面積上探測單元累計所接受的劑量之前，還包括：根據所述平板探測器有效面積分布區域的邊緣與所述使用面積的分布區域之間的距離，確定所述射野中心于所述平板探測器上的可選范圍。

為了解決上述的技術問題，本發明實施例還公開了一種平板探測器的控制裝置，包括：計算單元，用于計算第k次照射在所述平板探測器上的使用面積；判定單元，用于根據預估的所述平板探測器有效面積上探測單元累計所接受的劑量以及所述使用面積，確定第k次照射的所述使用面積在所述平板探測器的有效面積上的位置分布范圍，使所述平板探測器的有效面積上所接受的累積劑量均勻。

可選的，所述計算單元根據第k次照射確定的射野、照射源到所述平板探測器的距離以及照射源到被照射物的距離，計算本次照射在所述平板探測器上的使用面積。

可選的，所述判定單元包括：檢測子單元，用于檢測當所述射野的中心在所述平板探測器上的不同探測單元時，所述平板探測器的有效面積上探測單元累計所接受的劑量；選取子單元，用于選取使所述平板探測器所接受的累計劑量最平均時射野中心所在的探測單元，作為所述射野的中心在平板探測器上的位置；劃定子單元，用于根據所述射野的中心在平板探測器上的位置以及所述使用面積，劃定第k次照射的所述使用面積在所述平板探測器的有效面積上的位置分布范圍。