[發(fā)明專利]一種結(jié)型場效應(yīng)管的制作方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410571939.3 | 申請日: | 2014-10-23 |
| 公開(公告)號: | CN105590855A | 公開(公告)日: | 2016-05-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馬萬里 | 申請(專利權(quán))人: | 北大方正集團(tuán)有限公司;深圳方正微電子有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/336 | 分類號: | H01L21/336 |
| 代理公司: | 北京同達(dá)信恒知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11291 | 代理人: | 黃志華 |
| 地址: | 100871 北京市*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 場效應(yīng) 制作方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,具體的涉及一種結(jié)型場效應(yīng)管的制作方法。
背景技術(shù)
結(jié)型場效應(yīng)晶體管(JunctionFieldEffectTransistor,JFET)是一種 通過柵電壓改變柵區(qū)PN結(jié)耗盡層的寬度,以達(dá)到調(diào)制導(dǎo)電溝道橫截面積,從而 有效控制溝道電流的多子導(dǎo)電場效應(yīng)半導(dǎo)體器件。目前,廣泛用于變頻器、伺 服控制器、低噪音電源、變頻調(diào)速、家用電器、照明、網(wǎng)絡(luò)通信、計(jì)算機(jī)、汽 車電子、國防、航空航天等領(lǐng)域,是現(xiàn)代電力電子器件中應(yīng)用潛力最大的器件 之一。
因此,結(jié)型場效應(yīng)管的加工制造是產(chǎn)業(yè)鏈的最重要的核心環(huán)節(jié)。但是在目 前的制作工藝中需要進(jìn)行兩次光刻、兩次離子注入和高溫驅(qū)入才能形成阱區(qū)和 柵極區(qū),步驟比較繁瑣,且耗費(fèi)大量成本。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)施例提供一種結(jié)型場效應(yīng)管的制作方法,用以解決現(xiàn)有技術(shù)中存 在結(jié)型場效應(yīng)管制造工藝步驟比較繁瑣,且耗費(fèi)大量成本的問題。
本發(fā)明實(shí)施例提供一種結(jié)型場效應(yīng)管的制作方法,該方法包括:
對場氧化后的襯底的部分氧化層進(jìn)行刻蝕;
將所述刻蝕后的襯底進(jìn)行第一雜質(zhì)的第一次注入,并通過高溫氮?dú)鈱⑺? 刻蝕后的襯底進(jìn)行第一雜質(zhì)的第一次驅(qū)入,形成阱區(qū);
將第二雜質(zhì)注入所述阱區(qū),通過高溫氮?dú)鈱λ鲎⑷氲牡诙s質(zhì)進(jìn)行驅(qū)入 形成柵極區(qū);
對形成柵極區(qū)后的襯底上表面的氧化層進(jìn)行部分刻蝕,并進(jìn)行第一雜質(zhì)的 第二次注入,形成源區(qū)和漏區(qū);
在所述形成源區(qū)和漏區(qū)后的襯底上表面生成介質(zhì)層,制作接觸孔和金屬層;
其中,所述第一雜質(zhì)的類型和所述第二雜質(zhì)的類型不同。
較佳地,所述第一雜質(zhì)的類型包括:磷離子或硼離子。
較佳地,所述對場氧化后的襯底的部分氧化層進(jìn)行刻蝕,包括:
刻蝕部分氧化層至所述襯底內(nèi),刻蝕出溝槽。
較佳地,所述溝槽橫截面為梯形結(jié)構(gòu)。
較佳地,所述溝槽在襯底內(nèi)的深度為1-4um,所述溝槽上表面的寬度為 2-20um。
較佳地,所述第一雜質(zhì)第一次注入的離子劑量小于所述第一雜質(zhì)第二次注 入的離子劑量。
較佳地,在所述形成源區(qū)和漏區(qū)后的襯底上表面生成介質(zhì)層,制作接觸孔 和金屬層,包括:
對所述介質(zhì)層進(jìn)行刻蝕,刻蝕出接觸孔;
在所述刻蝕出接觸孔后的襯底上表面生長金屬層,對所述金屬層進(jìn)行刻蝕。
較佳地,所述介質(zhì)層由不摻雜的二氧化硅和磷硅玻璃組成。
較佳地,所述金屬層包括源級金屬層、柵極金屬層和漏極金屬層,其中, 所述金屬層的材料為鋁、硅、銅合金。
本發(fā)明實(shí)施例通過對場氧化后的襯底進(jìn)行刻蝕,將所述刻蝕后的襯底進(jìn)行 第一雜質(zhì)的第一次的注入和驅(qū)入,形成阱區(qū),將第二雜質(zhì)的注入和驅(qū)入所述阱 區(qū),形成柵極區(qū),對形成柵極區(qū)的襯底的表面進(jìn)行刻蝕,并進(jìn)行第一雜質(zhì)的第 二次的注入,形成源區(qū)和漏區(qū),最后在所述形成源區(qū)和漏區(qū)的襯底的表面生成 介質(zhì)層,制作接觸孔和金屬層。本發(fā)明實(shí)施例減少了結(jié)型場效應(yīng)管的工藝流程, 提高了制造效率,降低了制造成本。
附圖說明
為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案,下面將對實(shí)施例描述中所 需要使用的附圖作簡要介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的 一些實(shí)施例,對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提 下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
圖1為本發(fā)明實(shí)施例中一種結(jié)型場效應(yīng)管的制造方法流程圖;
圖2a至圖2i為本發(fā)明實(shí)施例中一種結(jié)型場效應(yīng)管的制造方法流程圖;
圖3a至圖3i為本發(fā)明實(shí)施例中另一種結(jié)型場效應(yīng)管的制造方法流程圖。
具體實(shí)施方式
為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚,下面將結(jié)合附圖對本發(fā) 明作進(jìn)一步地詳細(xì)描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部份實(shí)施例, 而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做 出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其它實(shí)施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
為了提高結(jié)型場效應(yīng)管的制造效率,如圖1所示,本發(fā)明實(shí)施例提供了一 種結(jié)型場效應(yīng)管的制作方法,該方法包括:
步驟S101,對場氧化后的襯底1的部分氧化層2進(jìn)行刻蝕;
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





